一种检测装置及检测系统制造方法及图纸

技术编号:37428942 阅读:19 留言:0更新日期:2023-04-30 09:49
本发明专利技术公开了一种检测装置及检测系统,检测装置包括:至少三个传感器信号采样模块,以及第一逻辑运算芯片、第二逻辑运算芯片和检测信号输出模块;一个传感器信号采样模块的输入端用于与一个传感器相连接,一个传感器信号采样模块的输出端与第一逻辑运算芯片的一个信号输入端电连接;第一逻辑运算芯片配置为输出至少两个独立的第一逻辑信号,第二逻辑运算芯片配置为根据全部第一逻辑信号生成一个第二逻辑信号;第二逻辑运算芯片的输出端与检测信号输出模块电连接,检测信号输出模块用于将第二逻辑信号转换为检测信号。二逻辑信号转换为检测信号。二逻辑信号转换为检测信号。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置及检测系统


[0001]本专利技术实施例涉及检测技术,尤其涉及一种检测装置及检测系统。

技术介绍

[0002]在烟机设备的控制系统中,检测烟支或烟包的数量通常是5包烟、6支烟、7支烟这样的,相应需要同等数量的传感器,通常情况下,传感器的输出信号需要分别接入设备的控制系统,这样必然增加许多信号线。
[0003]基于上述内容,针对需要配置多个传感器的检测装置,目前,缺乏一种可以对传感器的现场信号进行预先处理且相对控制系统可以独立进行逻辑运算的检测装置,同时,现有技术中的基于多传感器的检测装置不具备如下特点:信号线少、信号传输故障风险低、信号传输延时低、误检测故障低。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种检测装置及检测系统,以达到简化配置多路传感器实现物料检测时的布线的目的。
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了一种检测装置,包括:至少三个传感器信号采样模块,以及第一逻辑运算芯片、第二逻辑运算芯片和检测信号输出模块;
[0006]一个所述传感器信号采样模块的输入端用于与一个传感器相连接,一个所述传感器信号采样模块的输出端与所述第一逻辑运算芯片的一个信号输入端电连接;
[0007]所述第一逻辑运算芯片配置为输出至少两个独立的第一逻辑信号,所述第二逻辑运算芯片配置为根据全部所述第一逻辑信号生成一个第二逻辑信号;
[0008]所述第二逻辑运算芯片的输出端与所述检测信号输出模块电连接,所述检测信号输出模块用于将所述第二逻辑信号转换为检测信号。/>[0009]可选的,所述传感器信号采样模块包括接口、第一电阻、第二电阻、第三电阻和发光二极管;
[0010]所述接口的信号端通过所述第一电阻、第二电阻接地,所述第一电阻和第二电阻的连接点与所述第一逻辑运算芯片的信号输入端电连接;
[0011]所述接口的信号端还通过所述第三电阻、发光二极管接地。
[0012]可选的,所述检测信号输出模块包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一开关管、第二开关管和钳位二极管;
[0013]电源端通过所述第四电阻、第五电阻与所述第一开关管的第一端电连接,所述第一开关管的第二端接地;
[0014]所述第二逻辑运算芯片的输出端通过所述第六电阻与所述第一开关管的控制端电连接;
[0015]所述第一开关管的第二端和控制端之间并联所述第七电阻;
[0016]所述电源端还与所述第二开关管的第一端电连接,所述第二开关管的第二端用于
输出所述检测信号,所述第二开关管的控制端与所述第四电阻和第五电阻的连接点电连接;
[0017]所述第二开关管的第一端和第二端之间并联所述钳位二极管。
[0018]可选的,所述第一逻辑运算芯片配置有八个所述信号输入端,配置有两个独立的信号输出端;
[0019]其中,四个所述信号输入端对应一个所述信号输出端。
[0020]可选的,还包括检测信号指示模块,所述检测信号指示模块包括第八电阻、第一指示二极管;
[0021]所述第二开关管的第二端还通过所述第八电阻、第一指示二极管接地。
[0022]可选的,还配置有电源,所述电源包括DCDC模块;
[0023]所述DCDC模块用于向所述第一逻辑运算芯片、第二逻辑运算芯片供电。
[0024]可选的,还包括电源指示模块,所述电源指示模块包括第九电阻、第二指示二极管;
[0025]所述DCDC模块的输出端还通过所述第九电阻、第二指示二极管接地。
[0026]可选的,所述DCDC模块输入24V电,输出5V电。
[0027]可选的,所述DCDC模块配置有一个稳压二极管;
[0028]输入电源至少通过所述稳压二极管与所述DCDC模块的电源输入端电连接,其中,所述稳压二极管的正极接入所述输入电源,所述稳压二极管的负极与所述电源输入端电连接;
[0029]所述稳压二极管的负极的输出电压同时用于为所述检测信号输出模块供电。
[0030]第二方面,本专利技术实施例还提供了一种检测系统,包括本专利技术实施例记载的检测装置。
[0031]与现有技术相比,本专利技术的有益效果在于:本专利技术提出一种检测装置,检测装置包括多个采样模块、第一逻辑运算芯片和第二逻辑运算芯片,其中配置第一逻辑运算芯片用于多组传感器信号的逻辑运算,输出独立的若干第一逻辑信号,配置第二逻辑运算芯片根据全部的第一逻辑信号生成一个第二逻辑信号,其中,设置第二逻辑信号用于确定被检测的成组物料的状态,基于该检测装置,当需要配置多路传感器实现物料检测时,基于第二逻辑运算芯片仅输出一个第二逻辑信号,因此布线时仅需配置一条检测信号输出线,进而达到实现布线的简化的目的;
[0032]同时,配置采用第一逻辑运算芯片分别进行多组成组物料的传感器信号的逻辑运算,可以减小传感器出现抖动造成传感器信号输出延时时,对逻辑运算结果的影响,进而减小检测误差。
附图说明
[0033]图1是实施例中的检测装置结构示意图;
[0034]图2是实施例中的传感器信号采样模块结构示意图;
[0035]图3是实施例中的检测信号输出模块结构示意图;
[0036]图4是实施例中的检测信号指示模块结构示意图;
[0037]图5是实施例中的电源指示模块结构示意图;
[0038]图6是实施例中的另一种检测装置结构示意图;
[0039]图7是现有技术中的检测装置传感器连接方式示意图;
[0040]图8是实施例中的传感器信号时延示意图。
具体实施方式
[0041]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0042]实施例一
[0043]图1是实施例中的检测装置结构示意图,参考图1,检测装置包括:至少三个传感器信号采样模块(传感器信号采样模块1~n),以及第一逻辑运算芯片100、第二逻辑运算芯片200和检测信号输出模块300;
[0044]一个传感器信号采样模块的输入端用于与一个传感器相连接,一个传感器信号采样模块的输出端与第一逻辑运算芯片100的一个信号输入端电连接;
[0045]第一逻辑运算芯片100配置为输出至少两个独立的第一逻辑信号,第二逻辑运算芯片200配置为根据全部第一逻辑信号生成一个第二逻辑信号;
[0046]第二逻辑运算芯片200的输出端与检测信号输出模块300电连接,检测信号输出模块300用于将第二逻辑信号转换为检测信号。
[0047]示例性的,本实施例中,对传感器信号采样模块相连接的传感器的类型不做具体限定,其可以根据应用场景自由选定。
[0048]示例性的,本实施例中,配置传感器信号采样模块中包含采样电路,配置采样电路的输出信号为模拟信号。
[0049]示例性的,本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:至少三个传感器信号采样模块,以及第一逻辑运算芯片、第二逻辑运算芯片和检测信号输出模块;一个所述传感器信号采样模块的输入端用于与一个传感器相连接,一个所述传感器信号采样模块的输出端与所述第一逻辑运算芯片的一个信号输入端电连接;所述第一逻辑运算芯片配置为输出至少两个独立的第一逻辑信号,所述第二逻辑运算芯片配置为根据全部所述第一逻辑信号生成一个第二逻辑信号;所述第二逻辑运算芯片的输出端与所述检测信号输出模块电连接,所述检测信号输出模块用于将所述第二逻辑信号转换为检测信号。2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述传感器信号采样模块包括接口、第一电阻、第二电阻、第三电阻和发光二极管;所述接口的信号端通过所述第一电阻、第二电阻接地,所述第一电阻和第二电阻的连接点与所述第一逻辑运算芯片的信号输入端电连接;所述接口的信号端还通过所述第三电阻、发光二极管接地。3.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测信号输出模块包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一开关管、第二开关管和钳位二极管;电源端通过所述第四电阻、第五电阻与所述第一开关管的第一端电连接,所述第一开关管的第二端接地;所述第二逻辑运算芯片的输出端通过所述第六电阻与所述第一开关管的控制端电连接;所述第一开关管的第二端和控制端之间并联所述第七电阻;所述电源端还与所述第二开关管的第一端电连接,所述第二开关管的第二端用于输出所述检测信号,所述第二开关...

【专利技术属性】
技术研发人员:李继波曹家升王海明
申请(专利权)人:广东中烟工业有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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