一种激光粒度仪测定数据的校正方法技术

本发明专利技术涉及一种激光粒度仪测定数据的校正方法，属于粒度测量技术领域。本发明专利技术通过利用小量程激光粒度仪和大量程激光粒度仪对样品颗粒分别进行检测，建立大量程激光粒度仪测量结果和小量程激光粒度仪测量结果之间的关系，以此得到大量程激光粒度仪的修正公式，利用该修正公式对大量程激光粒度仪测量小粒径颗粒的结果进行校正，使得大量程激光粒度仪的测量结果能够和小量程激光粒度仪的测量结果接近，避免目前采用大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径存在的准确度差的问题，大大提高了大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径的精度。程激光粒度仪测量小颗粒粒径的精度。程激光粒度仪测量小颗粒粒径的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种激光粒度仪测定数据的校正方法


[0001]本专利技术涉及一种激光粒度仪测定数据的校正方法，属于粒度测量


技术介绍

[0002]为考察Winner2008A激光粒度仪测定粒径的误差规律，以下测定了梅久支撑剂、电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠四种水泥浆常用物料微粒的粒径数据，并与工程总院的测定数据进行了比较。数据比较情况见表1、表2、表3、表4、表5。
[0003]表1梅久支撑剂粒径测定数据比较情况
[0004][0005]表2电厂漂珠粒径测定数据比较情况
[0006]检测单位X10，μmX50，μmX90，μm工程总院40.13693.912190.809井下工艺技术研究所74.589142.022284.58比较差值+34.453+48.11+93.771比较误差，％46.1933.8732.95
[0007]表3嘉华水泥粒径测定数据比较情况
[0008]检测单位X10，μmX50，μmX90，μm工程总院1.126.31411.590井下工艺技术研究所3.5758.39325.575比较差值+2.455+2.079+13.985比较误差，％68.6724.7754.68
[0009]表4青铜峡水泥粒径测定数据比较情况
[0010]检测单位X10，μmX50，μmX90，μm工程总院0.7455.32910.743井下工艺技术研究所2.8967.74727.163比较差值+2.151+2.418+16.42比较误差，％74.2731.260.45
[0011]表5人工漂珠粒径测定数据比较情况
[0012]检测单位X10，μmX50，μmX90，μm工程总院38.060153.266395.278井下工艺技术研究所51.518212.158467.837比较差值+13.458+58.892+72.559比较误差，％26.1227.7615.51
[0013]中位径用X50表示，含义是样品中小于它和大于它的颗粒各占50％，可以认为X50是平均粒径的另一种表示形式。通过表1数据比较，可以看出梅久支撑剂的测定数据的误差在0.35％以内，是正常的。通过表2～5数据比较，从X50测定数据的比较来看，电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠比较差值均为正向差值，在2.079～58.892μm范围，比较误差均为正向，在24.77～33.87％范围，出现了异常现象。X10、X90也出现了同样的正向异常现象。
[0014]从以上数据可以看到，梅久支撑剂粒径测量正常，是因为用的都是量程范围为0.05～2000μm的Winner2008A激光粒度仪。测量电厂漂珠、嘉华水泥、青铜峡水泥、人工漂珠的粒径工程总院选用了量程范围在0.01～400μm的激光粒度仪，而我们限于条件仍旧用量程范围为0.05～2000μm的Winner2008A激光粒度仪，量程范围大影响了测定的准确度。

技术实现思路

[0015]本专利技术的目的是提供一种激光粒度仪测定数据的校正方法，以解决目前采用大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径存在的准确度差的问题。
[0016]本专利技术为解决上述技术问题而提供一种激光粒度仪测定数据的校正方法，该校正方法包括以下步骤：
[0017]1)将待测颗粒放置到液体介质中，并使待测颗粒在介质中分布均匀，用第一激光粒度仪对待测颗粒进行测量；
[0018]2)对测量结果进行校正，校正时按照待测颗粒粒径不同分布选用对应的修正公式；所述的修正公式是通过对第一激光粒度仪和第二激光粒度仪测量样品颗粒的结果进行拟合得到，其中第一激光粒度仪的量程大于第二激光粒度仪的量程，所述样品颗粒包括不同粒径分布的颗粒。
[0019]本专利技术通过利用小量程激光粒度仪和大量程激光粒度仪对样品颗粒分别进行检测，建立大量程激光粒度仪测量结果和小量程激光粒度仪测量结果之间的关系，以此得到大量程激光粒度仪的修正公式，利用该修正公式对大量程激光粒度仪测量小粒径颗粒的结果进行校正，使得大量程激光粒度仪的测量结果能够和小量程激光粒度仪的测量结果接近，避免目前采用大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径存在的准确度差的问题，大大提高了大量程激光粒度仪测量小颗粒粒径的精度。
[0020]进一步地，为避免超声波使乙醇产生气泡影响测量结果，当液体介质为乙醇时，通过打开循环、关闭超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中分布均匀。
[0021]进一步地，为保证颗粒分布均匀，当液体介质为水时，通过打开循环和/或打开超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中分布均匀。
[0022]进一步地，为保证测量的准确性，当待测颗粒为低密度颗粒时，需要待测颗粒进行润湿处理。
[0023]进一步地，当待测颗粒为小位径时，所采用的校正函数为二次函数。
[0024]进一步地，当待测颗粒为中位径时，所采用的校正函数为一次函数。
[0025]进一步地，当待测颗粒为大位径时，所采用的校正函数为一次函数。
[0026]进一步地，所述的校正函数是通过最小二乘拟合得到。
附图说明
[0027]图1是本专利技术激光粒度仪测定数据的校正方法的流程图；
[0028]图2是本专利技术实施例X10的数值曲线；
[0029]图3是本专利技术实施例X10的数值拟合曲线；
[0030]图4是本专利技术实施例X50的数值曲线；
[0031]图5是本专利技术实施例X50的数值拟合曲线；
[0032]图6是本专利技术实施例X90的数值曲线；
[0033]图7是本专利技术实施例X90的数值拟合曲线。
具体实施方式
[0034]下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步地说明。
[0035]针对目前采用大量程激光粒度仪测量小粒径颗粒存在的精度低的问题，本专利技术通过利用小量程激光粒度仪和大量程激光粒度仪对样品颗粒分别进行检测，建立大量程激光粒度仪测量结果和小量程激光粒度仪测量结果之间的关系，以此得到大量程激光粒度仪的修正公式，利用该修正公式对大量程激光粒度仪测量小粒径颗粒的结果进行校正，该方法的流程如图1所示，具体实现过程如下。
[0036]1.采用大量程的激光粒度仪对待测颗粒进行测量。
[0037]本实施例选用Winner2008A激光粒度仪测定小粒径物料，测量时需要将待测颗粒放入介质中，同时还需要确保待测颗粒在介质中分布均匀，使其分布均匀的方式可通过循环或者开启超声分散系统的方式实现。在测量之前需要仔细检查仪器，定期清理样品窗。在利用激光粒度仪进行测量时还需要注意以下几点。
[0038]1)超声波容易使乙醇产生气泡，在气泡通过测量区时，来自He
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Ne激光器的激光束经扩束、滤波、汇聚后照射到测量区，测量区中的待测颗粒群与气泡在激光的照射下产生散射谱。散射谱被位于傅立叶透镜后焦面上的光电探测器阵列所接收，转换成电信号后经放大和A/D转换经通讯口送入计算机，经反演运算和数据处理后，给出被测颗粒群与气泡的大小、分布等本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光粒度仪测定数据的校正方法，其特征在于，该校正方法包括以下步骤：1)将待测颗粒放置到液体介质中，并使待测颗粒在介质中分布均匀，用第一激光粒度仪对待测颗粒进行测量；2)对测量结果进行校正，校正时按照待测颗粒粒径不同分布选用对应的修正公式；所述的修正公式是通过对第一激光粒度仪和第二激光粒度仪测量样品颗粒的结果进行拟合得到，其中第一激光粒度仪的量程大于第二激光粒度仪的量程，所述样品颗粒包括不同粒径分布的颗粒。2.根据权利要求1所述的激光粒度仪测定数据的校正方法，其特征在于，当液体介质为乙醇时，通过打开循环、关闭超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中分布均匀。3.根据权利要求1所述的激光粒度仪测定数据的校正方法，其特征在于，当液体介质为水时，通过打开循环和/或打开超声分散系统的方式，使待测颗粒在介质中...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄朝阳，张伟鹏，黄嘉威，黄远鑫，张骜，钱瑞，蒋永富，杨文波，贾永江，张兴权，孙香梅，
申请(专利权)人：中石化华北石油工程有限公司，
类型：发明
国别省市：