一种用于基准测量和锡膏印刷检查的图像采集装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于基准测量和锡膏印刷检查的图像采集装置，包括低角度环形光源、两个光源，两个分光镜、一个反光镜，成像透镜和图像传感器，反射镜是两面反射的反射镜，两个光源与分光镜构成同轴光源且在同一轴线上，分别位于反射镜的两侧；成像透镜和图像传感器分别为两个，两个成像透镜同向平行放置，位于同轴光源轴线的两条垂直线上，两成像透镜位于图像传感器与同轴光源之间；低角度环形光源的安装位置使照射电路板的同轴光源的出射光束经反射镜反射穿过低角度环形光源的中心孔照射到电路板上。该图像采集装置具有向上和向下的两个独立光路，可分别采集钢网和电路板的图像，光路调整容易，图像采集速度快。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于基准测量和锡膏印刷检查的图像采集装置，包括位于安装本体底面照射电路板以提供侧向照明的低角度环形光源、位于安装本体底面相对面的两个光源，两个分光镜、反光镜，成像透镜和图像传感器，其特征在于，所述反射镜是两面反射的反射镜，两个光源与分光镜构成同轴光源且在同一轴线上，分别位于反射镜的两侧；所述成像透镜和图像传感器分别为两个，两个成像透镜同向平行放置，位于同轴光源轴线的两条垂直线上，两成像透镜位于图像传感器与同轴光源之间，一个成像透镜和图像传感器用来获取钢网的图像；另一个成像透镜和图像传感器用来获取电路板的图像；低角度环形光源的安装位置使照射电路板的同轴光源的出射光束经反射镜反射穿过低角度环形...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邝泳聪，张宪民，卢盛林，吴晖辉，李华会，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：实用新型
国别省市：81[中国|广州]