集成电路制造技术

使得能够为了检测笔信号而使用德尔塔

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】集成电路


[0001]本专利技术涉及集成电路，尤其涉及用于检测主动笔发送出的笔信号的集成电路。

技术介绍

[0002]已知有检测手指、被动笔等被动指示器的静电容检测装置。这种静电容检测装置构成为具有传感器和集成电路，传感器具有多个X电极及多个Y电极，集成电路对多个X电极送出检测用信号且将该检测用信号在多个Y电极处依次检测。集成电路进行基于各Y电极处的检测用信号的检测强度来导出被动指示器的位置的处理。
[0003]集成电路中的检测用信号的检测使用A/D变换电路来执行。在专利文献1中公开了作为这种A/D变换电路而使用德尔塔
‑
西格玛调制电路的例子。若使用德尔塔
‑
西格玛调制电路，则能够降低在A/D变换电路中产生的量化噪声，因此能够提高检测用信号的检测精度。
[0004]另外，已知有通过向笔尖电极施加交流电压来发送交流信号的主动笔。在专利文献2中公开了这种主动笔的一例。以下，将主动笔发送的交流信号称作“笔信号”。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献r/>[0007]专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种集成电路，检测从主动笔发送的笔信号，其中，包括：德尔塔
‑
西格玛调制部，包括从自传感器输入的所述笔信号减去反馈信号的减法器、对所述减法器的输出信号进行积分的积分器、将所述积分器的输出信号量化的量化器及基于所述量化器的输出值来生成所述反馈信号的DAC；处理部，基于所述德尔塔
‑
西格玛调制部的输出值来检测所述笔信号的电平；及增益控制部，基于由所述处理部检测到的所述笔信号的电平来控制所述反馈信号的电平。2.根据权利要求1所述的集成电路，所述德尔塔
‑
西格玛调制部构成为进行由1个比较器构成所述量化器的1位德尔塔
‑
西格玛调制。3.根据权利要求1或2所述的集成电路，所述增益控制部基于由所述处理部检测到的所述笔信号的电平来控制所述DAC，从而控制所述反馈信号的电平。4.根据权利要求1或2所述的集成电路，还包括通过调整所述量化器的输出值的增益来生成所述德尔塔
‑
西格玛调制部的输出值的增益调整部，所述DAC基于所述德尔塔
‑
西格玛调制部的输出值来生成所述反馈信号，所述增益控制部基于由所述处理部检测到的所述笔信号的电平来控制所述增益调整部的增益，从而控制所述反馈信号的电平及所述德尔塔
‑
西格玛调制部的输出值。5.根据权利要求4所述的集成电路，所述德尔塔
‑
西格玛调制部中的从所述减法器到所述量化器为止由模拟电路构成，所述增益调整部由数字电路构成。6.根据权利要求1～5中任一项所述的集成电路，所述处理部包括基于所述德尔塔
‑
西格玛调制部的输出值来复原所述笔信号的低通滤波器及进行由所述低通滤波器复原后的所述笔信号的正交检波的正交解调部，所述处理部使用所述正交检波的结果来检测所述电平。7.根据权利要求6所述的集成电路，所述处理部通过进行使用所述正交检波的结果而导出的电平的统计处理来检测所述电平。8.根据权利要求7所述的集成电路，所述统计处理是将导出的所述电平平滑...

【专利技术属性】
技术研发人员：小池健，
申请(专利权)人：株式会社和冠，
类型：发明
国别省市：