电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法技术

本发明专利技术涉及图像数据处理技术领域，提出了电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，包括：采集电脑显示板层压工序蚀刻图像；获取任意一个伽马值作为目标伽马值，对蚀刻图像进行伽马变换，根据变换前后蚀刻图像的纹理差异获取第一变化程度；根据变换后蚀刻图像中灰度对的分布及差异获取每种灰度对的分布均匀程度及综合差异程度，根据变换后蚀刻图像中灰度值的分布获取综合对比度，根据分布均匀程度、综合差异程度及综合对比度，获取第二变化程度；获取综合变化程度，获取最优伽马值，对蚀刻图像进行伽马变换得到增强蚀刻图像，对层压工序蚀刻质量进行检测。本发明专利技术旨在通过自适应的伽马变换实现对不同蚀刻程度的图像进行增强以提高检测结果准确性。检测结果准确性。检测结果准确性。

【技术实现步骤摘要】
电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法


[0001]本专利技术涉及图像数据处理
，具体涉及电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法。

技术介绍

[0002]在对电脑显示板进行层压工序时，其中在进行蚀刻工艺后，蚀刻过薄会导致显示板表面凸凹变化明显，无法保证氧化层的厚度，粘结性差且容易分层，严重影响了层压工序的生产质量；因此需要对层压工序蚀刻工艺进行质量检测；而蚀刻工艺中不同显示板面的蚀刻程度存在差异，获取到的蚀刻图像质量存在差异，要想得到准确的蚀刻质量检测结果，需要对蚀刻图像进行增强，可以采用伽马变换的方法进行图像增强，并根据不同蚀刻图像的灰度表现自适应获取伽马值进行伽马变换，进而得到较为准确的蚀刻质量检测结果。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，以解决现有的由于蚀刻程度存在差异而导致直接对蚀刻图像进行质量检测容易造成结果不准确的问题，所采用的技术方案具体如下：本专利技术一个实施例提供了电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，该方法包括以下步骤：获取电脑显示板层压工序蚀刻图像；获取任意一个伽马值作为目标伽马值，通过目标伽马值对蚀刻图像进行伽马变换，对变换前及变换后的蚀刻图像构建灰度共生矩阵并获取能量描述子，根据能量描述子的差异获取目标伽马值的第一变化程度；根据变换后蚀刻图像中灰度对的分布获取每种灰度对的分布均匀程度，根据灰度对之间的差异获取每种灰度对的综合差异程度，通过对变换后蚀刻图像的聚类及区域生长获取第一蚀刻区域及第二蚀刻区域，根据变换后蚀刻图像中灰度值的分布获取目标伽马值的综合对比度，根据每种灰度对的分布均匀程度、综合差异程度以及综合对比度，获取目标伽马值的第二变化程度；将目标伽马值的第一变化程度与第二变化程度的乘积作为目标伽马值的综合变化程度，根据综合变化程度获取若干伽马值中的最优伽马值，对蚀刻图像进行伽马变换得到增强蚀刻图像，根据增强蚀刻图像对层压工序蚀刻质量进行检测。
[0004]可选的，所述根据能量描述子的差异获取目标伽马值的第一变化程度，包括的具体方法为：其中，表示目标伽马值的第一变化程度，表示变换后的蚀刻图像的能量描述子，表示变换前的蚀刻图像的能量描述子。
[0005]可选的，所述根据变换后蚀刻图像中灰度对的分布获取每种灰度对的分布均匀程度，包括的具体方法为：其中，表示第种灰度对的分布均匀程度，表示预设的分割区域数量，表示第个分割区域中第种灰度对的分布数量，表示第个分割区域中第种灰度对的分布数量，表示所有分割区域中的第个分割区域。
[0006]可选的，所述根据灰度对之间的差异获取每种灰度对的综合差异程度，包括的具体方法为：其中，表示第中灰度对的综合差异程度，表示变换后的蚀刻图像中灰度对的种类数量，表示第种灰度对，表示第种灰度对中的第一灰度级，表示第种灰度对中的第二灰度级，表示第种灰度对中的第一灰度级，表示第种灰度对中的第二灰度级；所述第一灰度级为灰度对中最小的灰度级，第二灰度级为灰度对中最大的灰度级。
[0007]可选的，所述通过对变换后蚀刻图像的聚类及区域生长获取第一蚀刻区域及第二蚀刻区域，包括的具体方法为：对变换后的蚀刻图像根据灰度值对像素点进行K
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means聚类，K值设置为3，得到三个聚簇；将三个聚簇中灰度均值最小的聚簇中的像素点记为中立像素点，灰度均值最大的聚簇中的像素点记为第一像素点，剩余的一个聚簇中的像素点记为第二像素点；随机选取像素点对变换后的蚀刻图像进行区域生长，其中随机选取的像素点不能为中立像素点，生长准则为对邻域内的同类像素点，即属于同一聚簇的像素点，或中立像素点进行生长，若不是同类像素点或中立像素点则不进行生长；进行区域生长过程中直到图像中所有像素点都生长到相应区域中，生长结束；将所有第一像素点生长得到的区域记为第一蚀刻区域，将所有第二像素点生长得到的区域记为第二蚀刻区域。
[0008]可选的，所述根据变换后蚀刻图像中灰度值的分布获取目标伽马值的综合对比度，包括的具体方法为：获取目标伽马值的第一对比度的计算方法为：其中，表示第一蚀刻区域中所有像素点的小范围对比度均值，表示第二蚀刻
区域中所有像素点的小范围对比度均值，所述小范围对比度即为每个像素点与八邻域像素点的灰度差异均值；获取目标伽马值的第二对比度的计算方法为：其中，表示第一蚀刻区域中所有像素点的大范围对比度均值，表示第二蚀刻区域中所有像素点的大范围对比度均值，所述大范围对比度即为每个像素点与24邻域像素点的灰度差异均值，所述24邻域像素点即为每个像素点作为中心像素点时5*5窗口内的其他像素点；获取目标伽马值综合对比度的计算方法为：其中，表示通过目标伽马值变换后蚀刻图像的能量描述子，表示目标伽马值的第一对比度，表示目标伽马值的第二对比度，表示以自然常数为底的指数函数。
[0009]可选的，所述获取目标伽马值的第二变化程度，包括的具体方法为：其中，表示目标伽马值的第二变化程度，表示通过目标伽马值变换后蚀刻图像的能量描述子，表示目标伽马值的综合对比度，表示变换后的蚀刻图像中共有种灰度对，表示第种灰度对在变换后的蚀刻图像中的分布频率，表示第种灰度对的分布均匀程度，表示第种灰度对的综合差异程度，表示以自然常数为底的指数函数。
[0010]本专利技术的有益效果是：本专利技术通过不同伽马值对蚀刻图像进行伽马变换，根据变换后的蚀刻图像的纹理变化获取伽马值的第一变化程度，通过变换后的蚀刻图像中灰度值的分布及灰度对的分布来量化纹理的清晰表现程度，进而得到可以表征伽马值的增强效果的综合变化程度；通过综合变化程度的比较进而得到蚀刻图像的最优伽马值并进行伽马变换，使得对于蚀刻程度存在差异的不同蚀刻图像可以做到自适应的伽马变换，进而提高蚀刻质量检测的准确性。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1为本专利技术一个实施例所提供的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法流程示意图。
具体实施方式
[0013]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0014]请参阅图1，其示出了本专利技术一个实施例所提供的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法流程图，该方法包括以下步骤：步骤S001、采集电脑显示板层压工序蚀刻图像。
[0015]本实施例的目的是对电脑显示板的层压工序中蚀刻的质量进行检测，因此首先需要采集电脑显示板层压工序的蚀刻图像；本实施例在电脑显示板层压工序的生产线上布置工业相机，采集蚀刻工序结束的显示板面俯视图像，将俯视图像通过灰度化处理及滤波去噪得到预处理后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取电脑显示板层压工序蚀刻图像；获取任意一个伽马值作为目标伽马值，通过目标伽马值对蚀刻图像进行伽马变换，对变换前及变换后的蚀刻图像构建灰度共生矩阵并获取能量描述子，根据能量描述子的差异获取目标伽马值的第一变化程度；根据变换后蚀刻图像中灰度对的分布获取每种灰度对的分布均匀程度，根据灰度对之间的差异获取每种灰度对的综合差异程度，通过对变换后蚀刻图像的聚类及区域生长获取第一蚀刻区域及第二蚀刻区域，根据变换后蚀刻图像中灰度值的分布获取目标伽马值的综合对比度，根据每种灰度对的分布均匀程度、综合差异程度以及综合对比度，获取目标伽马值的第二变化程度；将目标伽马值的第一变化程度与第二变化程度的乘积作为目标伽马值的综合变化程度，根据综合变化程度获取若干伽马值中的最优伽马值，对蚀刻图像进行伽马变换得到增强蚀刻图像，根据增强蚀刻图像对层压工序蚀刻质量进行检测。2.根据权利要求1所述的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，其特征在于，所述根据能量描述子的差异获取目标伽马值的第一变化程度，包括的具体方法为：其中，表示目标伽马值的第一变化程度，表示变换后的蚀刻图像的能量描述子，表示变换前的蚀刻图像的能量描述子。3.根据权利要求1所述的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，其特征在于，所述根据变换后蚀刻图像中灰度对的分布获取每种灰度对的分布均匀程度，包括的具体方法为：其中，表示第种灰度对的分布均匀程度，表示预设的分割区域数量，表示第个分割区域中第种灰度对的分布数量，表示第个分割区域中第种灰度对的分布数量，表示所有分割区域中的第个分割区域。4.根据权利要求1所述的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，其特征在于，所述根据灰度对之间的差异获取每种灰度对的综合差异程度，包括的具体方法为：其中，表示第中灰度对的综合差异程度，表示变换后的蚀刻图像中灰度对的种类数量， 表示第种灰度对，表示第种灰度对中的第一灰度级，表示第种灰度对中的第二灰度级，表示第种灰度对中的第一灰度级，表示第种灰度对中的第二灰度级；所述第一灰度级为灰度对中最小的灰度级，第二灰度级为灰度对中最大的灰度级。5.根据权利要求1所述的电脑显示板层压工序蚀刻质量检测方法，其特征在于，所述通过对变换后蚀刻图像的聚类...

【专利技术属性】
技术研发人员：李灶保，党晓鹏，
申请(专利权)人：惠州威尔高电子有限公司，
类型：发明
国别省市：