网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法及系统、设备、介质技术方案

本发明专利技术公开了一种网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法及系统、设备、介质，该方法先基于网格屏蔽层的导体宽度和间距计算得到逸散比例，然后将信号逸散辐射更远等效为介厚增加，从而计算得到等效介厚，再基于时间等效原则计算得到电地之间等效介电常数，最后计算得到差分阻抗。本发明专利技术首次提出了网格屏蔽结构差分阻抗的计算理论和计算模型，考虑到了网格屏蔽层的逸散效应对于差分阻抗计算的影响，通过将网格屏蔽层的信号逸散等效为介厚增加，并基于时间等效原则计算出等效介电常数，区别于传输线之间纯介质的介电常数，大大提升了网格屏蔽结构的差分阻抗计算精准度，可以很好地适用于网格屏蔽结构的差分线设计，有利于提高差分阻抗设计的一次合格率。的一次合格率。的一次合格率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法及系统、设备、介质


[0001]本专利技术涉及差分阻抗计算
，特别地，涉及一种网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法及系统、电子设备、计算机可读取的存储介质。

技术介绍

[0002]随着通讯行业的快速发展，信号传输速度越来越快，工作频率和传输质量要求越来越高，同时高速传输结构的种类和特征越来越多。在FPC板上，为了提高基板的可弯折性，避免大铜面屏蔽层在弯折过程中铜面开裂，也常常将屏蔽层设计成网格状，从而提高基板的韧性。在高频信号传输中，信号层(即布线层)与地层(即屏蔽层)之间通过高频信号电磁辐射传输，根据经典的特征阻抗线传输和TDR(时域反射法)测量规律，从信号线发射一个高频信号，信号不仅在导线上向前传输，而且会辐射到地平面，通过地平面接收的感应信号返回到测量端(测量与发射端共端口)，通过发射信号和反射信号的电平强度来计算出线路阻抗值，一般反射率用ρ＝V
reflected
/V
incident
表示，测量阻抗Z＝Z
ref
*(1+ρ)/(1r/>‑
ρ本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法，其特征在于，包括以下内容：获取网格屏蔽层的导体宽度和间距，计算得到网格屏蔽层的信号逸散量相对于电地层信号传输量的逸散比例；获取电介质层的介厚参数，将网格屏蔽层的信号逸散等效为介厚增加，基于逸散比例和介厚参数计算得到等效介厚；获取差分线与网格屏蔽层水平边之间的夹角、电介质层的介电常数，基于电地层回路网络传输时间等效原则计算得到等效介电常数；获取差分线的线宽、铜厚和两根差分线之间的边沿间距，并结合等效介厚、等效介电常数和经典差分微带线特征阻抗计算公式计算得到差分阻抗。2.如权利要求1所述的网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法，其特征在于，基于以下公式计算差分阻抗：其中，Z2表示网格屏蔽结构的差分阻抗，ε
r
′
表示等效介电常数，ε
r
表示电介质层的介电常数，h
′
表示等效介厚，w和t表示差分线的线宽和铜厚，d表示两根差分线之间的边沿间距。3.如权利要求1所述的网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法，其特征在于，在其中一条差分线上设计有曲线段，曲线段的跨度和高度均小于网格屏蔽层的间距。4.如权利要求1所述的网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法，其特征在于，计算逸散比例的过程具体为：由于电磁信号线在单个网格区域内呈均匀分布，因此，单个网格区域内的实际信号逸散量相对于信号传输量的逸散比例与接收面积成正比，即η＝φ1/φ
总
＝S1/S
总
，其中，η表示逸散比例，φ1和φ
总
分别表示信号逸散量和信号传输量，S1和S
总
分别表示单个网格区域内的网洞面积和总面积，而S1＝b2、S
总
＝(a+b)2，a和b分别表示网格屏蔽层的导体宽度和间距，则5.如权利要求4所述的网格屏蔽结构的差分阻抗计算方法，其特征在于，基于以下公式计算得到等效介厚：...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺梓修，范红，沈文，宋波，
申请(专利权)人：奥士康科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：