一种K码检测电路、K码检测方法及相关设备技术

本申请提供一种K码检测电路、K码检测方法及相关设备，K码检测电路包括：m个移位寄存器，每个移位寄存器的大小为n位，且各移位寄存器均用于接收当前待检测的数据，且各移位寄存器之间相差一个时间脉冲接收数据；其中，m和n均为预设的正整数，且m的值大于等于11

【技术实现步骤摘要】
一种K码检测电路、K码检测方法及相关设备
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2022年11月17日提交中国专利局的申请号为2022114405830、名称为“一种K码检测电路、K码检测方法及相关设备”的中国专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。


[0003]本申请涉及数据传输领域，具体而言，涉及一种K码检测电路、K码检测方法及相关设备。

技术介绍

[0004]在物联网时代，越来越多的数据被传输到专用集成电路上进行处理，高速串行解串器以其封装简单、速度快等优点满足了这一需求。通常，高速串行数据在接收器中进行解串，串并转换后的字数据可能无法正确检测或对齐。因此，在高速接收器中，例如支持PCIe(Peripheral Component Interconnect Express，外围组件快速互连)、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)等协议的高速接收器中，通过在高速传输数据中添加一个特定控制字符(一般称为K码)，从而通过检测K码来识别字符边界，然后进行字符检测和对齐。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种K码检测电路，其特征在于，包括：m个移位寄存器，每个所述移位寄存器的大小为n位，且各所述移位寄存器均用于接收当前待检测的数据，且各所述移位寄存器之间相差一个时间脉冲接收所述数据；其中，所述m和所述n均为预设的正整数，且所述m的值大于等于11
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n；m个K码检测单元，每一个所述K码检测单元分别与一个所述移位寄存器连接；所述K码检测单元用于将所连接的所述移位寄存器中的n位数据与该K码检测单元中预存的K码进行匹配，并输出表征匹配结果的结果信号；比较器，与所述m个K码检测单元连接，用于依次将所述m个K码检测单元的结果信号与标准信号进行比较，并在连续11
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n次所述结果信号与所述标准信号匹配时，输出表征检测到了所述K码的目标信号。2.如权利要求1所述的K码检测电路，其特征在于，所述m个移位寄存器在同一时刻存储的n位数据分别为：所述当前待检测的数据中第k位至第k+n
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1位数据；所述k依次取0至m
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1。3.如权利要求1所述的K码检测电路，其特征在于，所述K码检测电路还包括：数据寄存器，用于接收并存储对端传来的数据；其中，所述当前待检测的数据为所述数据寄存器中存储的数据。4.如权利要求1
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3任一项所述的K码检测电路，其特征在于，所述m个K码检测单元中的相邻11
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n个K码检测单元预存的K码分别为从标准K码中截取出的第j
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n+1位至第j位数据；其中，所述j依次取n
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1至9。5.一种K码检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1
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4任一项所述的K码检测电路中，包括：通过所述m个移位寄存器从当前待检测的数据中依次截取出m个不同的n位数据；其中，所述m和所述n均为正整数，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李纪先，邹伟，王强，曾佳栋，
申请(专利权)人：飞腾信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：