检测治具及检测系统技术方案

本申请实施例提供一种检测治具及检测系统，适于对金属箔片进行热膨胀检测。检测系统包括位移测量装置和所述检测治具。在检测治具的底座上设置有面光源模块，用以对金属箔片进行加热并使受热稳定；以及二拉伸单元，用以在金属箔片的相对二侧提供拉力，使金属箔片保持水平与受力稳定，从而使金属箔片在检测过程中的尺寸变化具有一致性，缩小位移测量装置所测量到的检测结果的误差，并使多次的检测结果具有重复性，提升可靠度。提升可靠度。提升可靠度。

【技术实现步骤摘要】
检测治具及检测系统


[0001]本申请涉及热膨胀检测领域，尤其涉及一种检测治具及检测系统。

技术介绍

[0002]金属箔片常需要测量热膨胀系数，以便进行材料性能优化提升。例如，应用于OLED的精密金属掩膜板(Fine Metal Mask,FMM)，其材料主要是镍铁合金，由电化学沉积镍铁制作而成。理论上其最低线性膨胀系数为1
×
10
‑6/℃，厚度约5～30μm。对于镍铁FMM，希望获得较低线性膨胀系数FMM，从而实现其在有机发光装置(OLED)中良好应用。这就要求持续测试镍铁FMM的线性膨胀系数，从而调控优化制作过程工艺参数。

技术实现思路

[0003]本申请的多个方面提供一种检测治具及检测系统，适用于金属箔片的热膨胀检测，解决一般检测方式所存在测量误差大，测量结果重复性差等问题。
[0004]本申请实施例提供一种检测治具，适用于金属箔片的热膨胀检测。所述检测治具包括：底座，包括相对的第一侧和第二侧，并且在所述第一侧和所述第二侧之间设置有检测区，用以供所述金属箔片放置；面光源模块，包括发光面板，设置于所述检测区，用以加热所述金属箔片；以及二拉伸单元，分别设置于所述第一侧和所述第二侧，分别用以在所述金属箔片的相对二端施加朝向所述第一侧和所述第二侧的拉力。
[0005]在一些实施例中，所述检测区设置有凹槽，所述凹槽凹陷于所述底座的表面，所述发光面板设置于所述凹槽内，用以在检测时供所述金属箔片放置其上。
[0006]在一些实施例中，所述凹槽的结构形态和所述发光面板的结构形态相匹配，所述发光面板嵌入于所述凹槽内。
[0007]在一些实施例中，所述拉伸单元包括距离调节装置和引力牵引装置，所述距离调节装置可拆卸的设置于所述底座上，并且可相对所述检测区在所述底座上变换固定位置，所述引力牵引装置的一端连接于所述距离调节装置，另一端设置有卡扣件，用以可拆卸的固定于所述金属箔片上，并施加所述拉力。
[0008]在一些实施例中，所述第一侧和所述第二侧分别设置有多个定位孔，朝所述检测区的方向间隔排列，所述距离调节装置的底部可拆卸的固定于至少其中一所述定位孔内。
[0009]在一些实施例中，所述面光源模块还包括温控装置，电性连接于所述发光面板，用以调控所述发光面板的加热功率。
[0010]在一些实施例中，所述检测治具还包括二提取部，分别设置于所述底座的所述第一侧和所述第二侧。
[0011]本申请实施例还提供一种检测系统，适用于金属箔片的热膨胀检测。所述检测系统包括位移测量装置以及检测治具。所述位移测量装置用以检测所述金属箔片上二待测点之间的距离变化量，并根据所述变化量计算所述金属箔片的线性膨胀系数。所述检测治具包括底座、面光源模块以及二拉伸单元。所述底座包括相对的第一侧和第二侧，并且在所述
第一侧和所述第二侧之间设置有检测区，用以供所述金属箔片放置。所述面光源模块包括发光面板，设置于所述检测区，用以加热所述金属箔片。二所述拉伸单元分别设置于所述第一侧和所述第二侧，分别用以在所述金属箔片的相对二端施加朝向所述第一侧和所述第二侧的拉力。
[0012]在本申请实施例中，通过检测装置的面光源模块在金属箔片下方提供单向的光热转换加热方式，并且在投影方向上面光源模块的发光面板的面积与金属箔片的面积重叠，使金属箔片在加热过程中受热均匀，保持各位置的升温平均；通过二拉伸单元夹持金属箔片的相对二端，使金属箔片保持水平稳定，并受引力牵引装置的拉力作用，保持加热过程受力稳定；以及通过位移测量装置实时有效测量金属箔片长度，可实现金属箔片的热膨胀系数的有效测量。此外，本申请实施例所提供的检测系统尤其适用于低热膨胀系数、大尺寸金属箔片的热膨胀系数测试。
附图说明
[0013]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0014]图1为本申请实施例的检测系统的使用状态示意图。
[0015]图2为本申请实施例的检测治具的立体图。
[0016]图3为本申请实施例的检测治具配置面光源模块前的立体图。
具体实施方式
[0017]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0018]还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0019]请参阅图1至图3。本申请实施例提供一种检测系统1，适于对金属箔片M进行热膨胀检测，特别是长度介于10～100cm的大尺寸金属箔片M。此金属箔片M可以是但并不局限于应用于制作OLED所需的精密金属掩膜板。同时，在金属箔片M上具有第一待测点P1和第二待测点P2，例如沿金属箔片M的长度方向间隔设置的贯穿孔，通过检测第一待测点P1和第二待测点P2之间的距离变化，以获得金属箔片M的线性热膨胀系数。
[0020]检测系统1包括位移测量装置10和检测治具20。位移测量装置10可以是但并不局限于通过光学检测的方式，朝向金属箔片M投射光线(如图1中朝下的虚线箭头所示)，以测量第一待测点P1和第二待测点P2之间在金属箔片M受热膨胀前后的的距离变化量，并根据此距离变化量计算出金属箔片M的线性热膨胀系数。
[0021]检测治具20包括底座210、面光源模块220以及二拉伸单元230。底座210可以是具
有长边方向D1和短边方向D2的狭长型结构，但并不以此为限。底座210用以供面光源模块220和拉伸单元230等相关组件组装为一整体。其中，在底座210的长边方向D1上具有相对的第一侧211和第二侧212，并且在第一侧211和第二侧212之间设置有检测区213，用以供金属箔片M设置。此外，底座210可以固定的方式或可移动的方式设置在工作平台上。例如，在本申请的一些实施例中，底座210的第一侧211和第二侧212分别设置有提取部214，例如把手，用以供操作员视需求搬运至工作平台上或从工作平台上搬离，以进行收纳。
[0022]面光源模块220包括发光面板221和电连接器222。发光面板221设置在底座210的检测区213上，用以在检测时供金属箔片M放置其表面或其上方，并且作为热源对金属箔片M进行加热程序。因此，发光面板210的面积在投影方向上与金属箔片M的面积重叠，并且不小于金属箔片M的面积，使本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测治具，适用于金属箔片的热膨胀检测，其特征在于，包括：底座，包括相对的第一侧和第二侧，并且在所述第一侧和所述第二侧之间设置有检测区，用以供所述金属箔片放置；面光源模块，包括发光面板，设置于所述检测区，用以加热所述金属箔片；以及二拉伸单元，分别设置于所述第一侧和所述第二侧，分别用以在所述金属箔片的相对二端施加朝向所述第一侧和所述第二侧的拉力。2.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述检测区设置有凹槽，所述凹槽凹陷于所述底座的表面，所述发光面板设置于所述凹槽内，用以在检测时供所述金属箔片放置其上。3.如权利要求2所述的检测治具，其特征在于，所述发光面板的结构形态和所述凹槽的结构形态相匹配，所述发光面板嵌入于所述凹槽内。4.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述拉伸单元包括距离调节装置和引力牵引装置，所述距离调节装置可拆卸的设置于所述底座上，并且可相对所述检测区在所述底座上变换固定位置，所述引力牵引装置的一端连接于所述距离调节装置，另一端设置有卡扣件，用以可拆卸的固定于所述金属箔片上，并施加所述拉力。5.如权利要求4所述的检测治具，其特征在于，所述第一侧和所述第二侧分别设置有多个定位孔，朝所述检测区的方向间隔排列，所述距离调节装置的底部可拆卸的固定于至少其中一所述定位孔内。6.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述面光源模块还包括温控装置，电性连接于所述发光面板，用以调控所述发光面板的加热功率。7.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，还包括二提取部，分别设置于所述底座的所述第一侧和所述第二侧。8.一种检测系统，适用于金属箔片的热膨胀检测，其特征在于，包括：位移测量装置，用以检测所述金属箔片上二...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈霞玲，潘仲光，
申请(专利权)人：常州友机光显电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：