检测治具及检测系统技术方案

本申请实施例提供一种检测治具及检测系统，适于对金属箔片进行热膨胀检测。检测系统包括位移测量装置和所述检测治具。在检测治具的底座上设置有面光源模块，用以对金属箔片进行加热并使受热稳定；以及二拉伸单元，用以在金属箔片的相对二侧提供拉力，使金属箔片保持水平与受力稳定，从而使金属箔片在检测过程中的尺寸变化具有一致性，缩小位移测量装置所测量到的检测结果的误差，并使多次的检测结果具有重复性，提升可靠度。提升可靠度。提升可靠度。

【技术实现步骤摘要】
检测治具及检测系统


[0001]本申请涉及热膨胀检测领域，尤其涉及一种检测治具及检测系统。

技术介绍

[0002]金属箔片常需要测量热膨胀系数，以便进行材料性能优化提升。例如，应用于OLED的精密金属掩膜板(Fine Metal Mask,FMM)，其材料主要是镍铁合金，由电化学沉积镍铁制作而成。理论上其最低线性膨胀系数为1
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‑6/℃，厚度约5～30μm。对于镍铁FMM，希望获得较低线性膨胀系数FMM，从而实现其在有机发光装置(OLED)中良好应用。这就要求持续测试镍铁FMM的线性膨胀系数，从而调控优化制作过程工艺参数。

技术实现思路

[0003]本申请的多个方面提供一种检测治具及检测系统，适用于金属箔片的热膨胀检测，解决一般检测方式所存在测量误差大，测量结果重复性差等问题。
[0004]本申请实施例提供一种检测治具，适用于金属箔片的热膨胀检测。所述检测治具包括：底座，包括相对的第一侧和第二侧，并且在所述第一侧和所述第二侧之间设置有检测区，用以供所述金属箔片放置；面光源模块，包括发光面板本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测治具，适用于金属箔片的热膨胀检测，其特征在于，包括：底座，包括相对的第一侧和第二侧，并且在所述第一侧和所述第二侧之间设置有检测区，用以供所述金属箔片放置；面光源模块，包括发光面板，设置于所述检测区，用以加热所述金属箔片；以及二拉伸单元，分别设置于所述第一侧和所述第二侧，分别用以在所述金属箔片的相对二端施加朝向所述第一侧和所述第二侧的拉力。2.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述检测区设置有凹槽，所述凹槽凹陷于所述底座的表面，所述发光面板设置于所述凹槽内，用以在检测时供所述金属箔片放置其上。3.如权利要求2所述的检测治具，其特征在于，所述发光面板的结构形态和所述凹槽的结构形态相匹配，所述发光面板嵌入于所述凹槽内。4.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述拉伸单元包括距离调节装置和引力牵引装置，所述距离调节装置可拆卸的设置于所述底座上，并且可相对所述检测区在所述底座上变换固定位置，所述引力牵引装置的一端连接于所述距离调节装置，另一端设置有卡扣件，用以可拆卸的固定于所述金属箔片上，并施加所述拉力。5.如权利要求4所述的检测治具，其特征在于，所述第一侧和所述第二侧分别设置有多个定位孔，朝所述检测区的方向间隔排列，所述距离调节装置的底部可拆卸的固定于至少其中一所述定位孔内。6.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，所述面光源模块还包括温控装置，电性连接于所述发光面板，用以调控所述发光面板的加热功率。7.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，还包括二提取部，分别设置于所述底座的所述第一侧和所述第二侧。8.一种检测系统，适用于金属箔片的热膨胀检测，其特征在于，包括：位移测量装置，用以检测所述金属箔片上二...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈霞玲，潘仲光，
申请(专利权)人：常州友机光显电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：