一种下压弹片式测试插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种下压弹片式测试插座，涉及测试插座技术领域，包括座，所述插座的上表面开设有插槽，所述插座下表面四角处固定连接有竖杆，且所述竖杆的下端共同固定连接有底座，所述底座的上表面中间位置处固定连接有套筒，所述套筒的上表面滑动插装有伸缩杆，所述伸缩杆的上端滑动贯穿插座并固定连接有压板，所述伸缩杆的外表面套装有第二弹簧，所述第二弹簧的上端与插座固定连接，所述第二弹簧的下端与套筒固定连接，本实用新型专利技术在芯片测试结束后，通过拉动拉杆，能够使楔形弹片移动，使得第二弹簧伸长，将压板以及压板上表面的芯片顶出，从而能够自动取出芯片，防止芯片取出时发生损坏。发生损坏。发生损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种下压弹片式测试插座


[0001]本技术涉及测试插座
，尤其涉及一种下压弹片式测试插座。

技术介绍

[0002]在芯片生产完成后，需要对芯片进行测试，保证芯片各项性能达标，测试插座是对芯片进行测试的固定装置，能够保证芯片测试时的稳定性。
[0003]现有一种授权公告号为CN216209334U的中国专利，公开了一种公开了芯片测试插座，涉及芯片测试
本技术包括测试座与支撑板，测试座一表面安装有拉杆，拉杆一表面安装有杆把手，另一表面对称安装有若干弹性绳，测试座上下相对两表面对称转动连接有若干转动杆，转动杆周侧面安装有转动轮，弹性绳一表面安装有传动板，测试座内部相对两表面均安装有若干滑杆，传动板一表面安装有支撑杆。本技术通过杆把手通过拉杆带动弹性绳向外移动，通过转动轮改变弹性绳的移动方向，通过伸缩弹簧恢复卡板的位置，方便通过卡板将芯片固定在放置槽内，弹性绳带动传动板在滑杆内移动，传动板通过支撑杆带动卡板在放置槽内移动，方便将芯片固定在放置槽内，方便增加芯片的稳定性。
[0004]上述专利文件中的技术方案虽然能够在测试时，对芯片进行固定，增加芯片测试时的稳定性，但是由于芯片的体积小，测试完毕后，需要将芯片从放置槽内抠出，取出芯片的过程较为麻烦且容易对芯片造成损坏。
[0005]为此，我们提出一种下压弹片式测试插座。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，而提出的一种下压弹片式测试插座。
[0007]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0008]一种下压弹片式测试插座，包括插座，所述插座的上表面开设有插槽，所述插座下表面四角处固定连接有竖杆，且所述竖杆的下端共同固定连接有底座，所述底座的上表面中间位置处固定连接有套筒，所述套筒的上表面滑动插装有伸缩杆，所述伸缩杆的上端滑动贯穿插座并固定连接有压板，所述伸缩杆的外表面套装有第二弹簧，所述第二弹簧的上端与插座固定连接，所述第二弹簧的下端与套筒固定连接，所述插槽内表面位于压板上方的位置处对称设有楔形弹片，且所述楔形弹片通过弹性机构滑动安装在插座内部。
[0009]进一步地，所述弹性机构包括开设在插槽内表面两侧的凹槽，所述楔形弹片滑动安装在凹槽内部，且所述凹槽与楔形弹片之间固定连接有第一弹簧。
[0010]进一步地，所述压板内部开设有空腔，且所述压板的上表面开设有均匀分布的圆孔，且所述圆孔与空腔相连通，所述插座内壁靠近第一弹簧的位置处开设有柱形槽，且所述柱形槽与空腔之间固定贯通连接有软管，且所述软管安装在靠近第一弹簧的一侧，且所述楔形弹片与柱形槽之间设有挤压机构。
[0011]进一步地，所述挤压机构包括滑动安装在柱形槽内部的第一活塞板，且所述第一活塞板与楔形弹片之间固定连接有连接杆，且所述连接杆滑动插装在柱形槽与凹槽的连接处。
[0012]进一步地，所述压板外表面靠近楔形弹片的一侧均设置为开口状。
[0013]进一步地，所述柱形槽远离第一活塞板的一侧均固定贯通连接有连接管，且两根所述连接管远离柱形槽的一侧共同固定贯通连接有筒体，且所述筒体内滑动连接有第二活塞板，所述第二活塞板的一侧固定连接有拉杆，且所述拉杆与筒体之间为间隙配合。
[0014]进一步地，所述第一活塞板与第二活塞板的外表面均固定套装有密封圈。
[0015]相比于现有技术，本技术的有益效果在于：
[0016]本技术在芯片测试结束后，通过拉动拉杆，能够使楔形弹片移动，使得第二弹簧伸长，将压板以及压板上表面的芯片顶出，从而能够自动取出芯片，防止芯片取出时发生损坏。
附图说明
[0017]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
[0018]图1为本技术一种下压弹片式测试插座的整体结构示意图；
[0019]图2为本技术一种下压弹片式测试插座的剖视图；
[0020]图3为本技术一种下压弹片式测试插座另一角度的剖视图；
[0021]图4为本技术一种下压弹片式测试插座图2中A处的放大图；
[0022]图5为本技术一种下压弹片式测试插座图3中B处的放大图。
[0023]图中：1、插座；2、插槽；3、楔形弹片；4、竖杆；5、底座；6、压板；7、圆孔；8、软管；9、凹槽；10、柱形槽；11、第一活塞板；12、连接杆；13、第一弹簧；14、拉杆；15、连接管；16、第二活塞板；17、筒体；18、套筒；19、伸缩杆；20、第二弹簧；21、空腔；22、密封圈。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；
[0025]实施例1：
[0026]参照图1
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图5，一种下压弹片式测试插座，包括插座1，插座1的上表面开设有插槽2，插座1下表面四角处固定连接有竖杆4，且竖杆4的下端共同固定连接有底座5，底座5的上表面中间位置处固定连接有套筒18，套筒18的上表面滑动插装有伸缩杆19，伸缩杆19的上端滑动贯穿插座1并固定连接有压板6，伸缩杆19的外表面套装有第二弹簧20，第二弹簧20的上端与插座1固定连接，第二弹簧20的下端与套筒18固定连接，插槽2内表面位于压板6上方的位置处对称设有楔形弹片3，且楔形弹片3通过弹性机构滑动安装在插座1内部，弹性机构包括开设在插槽2内表面两侧的凹槽9，楔形弹片3滑动安装在凹槽9内部，且凹槽9与楔形弹片3之间固定连接有第一弹簧13。
[0027]插座1内壁靠近第一弹簧13的位置处开设有柱形槽10，且楔形弹片3与柱形槽10之间设有挤压机构。挤压机构包括滑动安装在柱形槽10内部的第一活塞板11，且第一活塞板
11与楔形弹片3之间固定连接有连接杆12，且连接杆12滑动插装在柱形槽10与凹槽9的连接处，柱形槽10远离第一活塞板11的一侧均固定贯通连接有连接管15，且两根连接管15远离柱形槽10的一侧共同固定贯通连接有筒体17，且筒体17内滑动连接有第二活塞板16，第二活塞板16的一侧固定连接有拉杆14，且拉杆14与筒体17之间为间隙配合。
[0028]可将测试芯片自动取出的工作原理为：测试前，将测试芯片放置在两块楔形弹片3上，并向下按压测试芯片，楔形弹片3受到挤压，向凹槽9内部移动，第一弹簧13从而被压缩，当测试芯片接触到压板6时，继续按压测试芯片，压板6下表面的伸缩杆19从而移动至套筒18内部，且第二弹簧20被压缩，当测试芯片与楔形弹片3分离时，第一弹簧13伸长，使得楔形弹片3移动至测试芯片上表面，从而能够对测试芯片进行固定，当芯片测试结束后通过拉动拉杆14，将柱形槽10内靠近连接管15一侧的气体吸入至筒体17内部，柱形槽10内部的第一活塞板11从而向连接管15一侧移动，使得通过连接杆12与第一活塞板11固定连接的楔形弹片3移动至凹槽9内部，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种下压弹片式测试插座，包括插座(1)，其特征在于，所述插座(1)的上表面开设有插槽(2)，所述插座(1)下表面四角处固定连接有竖杆(4)，且所述竖杆(4)的下端共同固定连接有底座(5)，所述底座(5)的上表面中间位置处固定连接有套筒(18)，所述套筒(18)的上表面滑动插装有伸缩杆(19)，所述伸缩杆(19)的上端滑动贯穿插座(1)并固定连接有压板(6)，所述伸缩杆(19)的外表面套装有第二弹簧(20)，所述第二弹簧(20)的上端与插座(1)固定连接，所述第二弹簧(20)的下端与套筒(18)固定连接，所述插槽(2)内表面位于压板(6)上方的位置处对称设有楔形弹片(3)，且所述楔形弹片(3)通过弹性机构滑动安装在插座(1)内部。2.根据权利要求1所述的一种下压弹片式测试插座，其特征在于，所述弹性机构包括开设在插槽(2)内表面两侧的凹槽(9)，所述楔形弹片(3)滑动安装在凹槽(9)内部，且所述凹槽(9)与楔形弹片(3)之间固定连接有第一弹簧(13)。3.根据权利要求1所述的一种下压弹片式测试插座，其特征在于，所述压板(6)内部开设有空腔(21)，且所述压板(6)的上表面开设有均匀分布的圆孔(7)，且所述圆孔(7)与空腔(21)相连通，所述插座(1)内壁靠近第一弹簧(13)的位...

【专利技术属性】
技术研发人员：王军芳，唐桥方，
申请(专利权)人：武汉好亿得模具制品有限公司，
类型：新型
国别省市：