一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法制造技术

本发明专利技术涉及一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，属于图像处理技术领域，该算法包括以下步骤：S1、设定引起视觉变化的阈值Dif和最大辐射噪点面积阈值Smax，通过对噪声图像中点的像素值和辐射噪点面积进行分析，从而识别出噪点；S2、以某一噪点为中心建立滤波窗口，若滤波窗口内存在信号点，则用滤波窗口内的所有信号点的像素值中值对该噪点进行降噪处理；否则，用该噪点邻域内已处理的四个像素点的均值对噪点进行降噪处理；S3、改变引起视觉变化的阈值Dif，重复步骤S1

【技术实现步骤摘要】
一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法


[0001]本专利技术属于图像处理
，具体为一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法。

技术介绍

[0002]在辐照场中，图像传感器CCD或CMOS采集图像过程会受到射线的影响。由于射线与物质的相互作用，使得传感器阵列中受射线影响的区域出现数值异常，画面中出现大量噪点。这些辐射噪点的存在使得图像的质量严重下降，并且阻碍了后续基于图像处理的一系列工作。因此，对强辐照场中的图像进行降噪处理尤为重要。
[0003]辐照场中的噪点主要由椒盐噪点和高斯噪点组成，传统的中值滤波无法准确识别辐射噪点。因此，本专利技术针对辐射噪点做出了系列改进。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术存在的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，该算法能够满足强辐照场下图像降噪处理的需求，改善强辐照场下图像的质量。
[0005]为达到以上目的，本专利技术采用的一种技术方案是：
[0006]一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，包括以下步骤：
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，包括以下步骤：S1、设定引起视觉变化的阈值Dif和最大辐射噪点面积阈值Smax，通过对噪声图像中点的像素值和辐射噪点面积进行分析，从而识别出噪点；S2、以某一噪点为中心建立滤波窗口，若所述滤波窗口内存在信号点，则用所述滤波窗口内的所有信号点的像素值中值对所述噪点进行降噪处理；否则，用所述噪点邻域内已处理的四个像素点的均值对所述噪点进行降噪处理；S3、改变所述引起视觉变化的阈值Dif，重复步骤S1
‑
S2，得到对应Dif处理后的图像，通过对不同Dif处理后的图像进行对照取舍，实现对画面细节的保护。2.根据权利要求1所述的基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，其特征在于，步骤S1具体为：S101、以噪声图像中某一像素点为中心建立设定大小的判定窗口，若当前点像素值和其邻域点像素值之差的最大值≥所述引起视觉变化的阈值Dif，则将当前点判定为疑似噪点，否则判定为信号点；遍历噪声图像中的所有点，完成所有点的判定，判定公式为：式(1)中：Y
i,j
表示噪声图像中在点(i,j)处的像素值；Y
m,n
表示在判定窗口内的邻域点的像素值；Dif表示设定的引起视觉变化的阈值；N
i,j
＝1表示当前点为疑似噪点，N
i,j
＝0表示当前点为信号点；S102、对于相互连接的两个疑似噪点A和B,若其像素值的绝对差小于所述引起视觉变化的阈值Dif,则将A和B视作一个整体，将A、B的坐标放入集合NK，即：abs(Y
A
‑
Y
B
)<Dif，则A∈NK,B∈NK
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)式(2)中：Y
A
和Y
B
分别为相互连接的两个疑似噪点A和B的像素值；S103、设定最大辐射噪点面积阈值为Smax，若最终所述集合NK中疑似噪点的总数K≤Smax,则判定所述集合NK中的疑似噪点为噪点，否则将所述集合NK中的疑似噪点排除，即：式(3)中：K表示集合NK中点的总数；M
i,j
＝1表示当前点为噪点，M
i,j
＝0表示当前点为信号点。3.根据权利要求2所述的基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，其特征在于，步骤S101中若当前点为信号点，但其上下左右点均是疑似噪点，则将当前点记作疑似噪点。4.根据权利要求2所述的基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，其特征在于，步骤S101中设定判定窗口的大小为3
×
3。5.根据权利要求1所述的基于中值滤波改进的辐射图像降噪算法，其特征在于，步骤S2具体为：S201、以某一噪点...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘阳，桂海峰，李兴隆，黄晓鹏，吴建华，袁国军，张莉，肖思敏，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：