一种光谱谱峰确定方法、系统、存储介质及电子设备技术方案

本发明专利技术属于光谱领域，尤其涉及一种光谱谱峰确定方法、系统、存储介质及电子设备。该方法包括：对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理，得到高频噪声信号以及标准光谱；对所述高频噪声信号以及所述标准光谱进行基础数据计算，基于所述基础数据得出实测拉曼信号的全局信噪比；对所述全局信噪比与阈值进行判断，得到判断结果，在所述标准光谱数据中确定所有谱峰，按基于所述判断结果调整后的预设条件，对谱峰进行筛选，得到最终谱峰。通过对拉曼光谱的预先处理可以减少在寻峰过程中的额外计算工作，另外，通过对信噪比进行处理可以提升处理效率，提高对于谱峰确定的准确度。提高对于谱峰确定的准确度。提高对于谱峰确定的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种光谱谱峰确定方法、系统、存储介质及电子设备


[0001]本专利技术属于光谱领域，尤其涉及一种光谱谱峰确定方法、系统、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]拉曼光谱是一种分子散射光谱，是对分子结构进行“指纹”识别的分析技术。拉曼散射是由光照射到物质上发生的非弹性散射所产生，谱峰的位置和强度直接反映了物质的结构和含量信息，并且拉曼光谱具有快速、无损、样品无须预处理和可实现在线分析等优点，激光拉曼光谱分析技术正逐渐成为目前发展最快的技术之一。如何快速寻找光谱中的谱峰成为了重要的研究方向。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种光谱谱峰确定方法、系统、存储介质及电子设备。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种光谱谱峰确定方法，包括：
[0005]步骤1，对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理，得到高频噪声信号以及标准光谱；
[0006]步骤2，对所述高频噪声信号以及所述标准光谱进行基础数据计算，基于所述基础数据得出实测拉曼信号的全局信噪比；
[0007]步骤3，对所述全局信噪比与阈值进行判断，得到判断结果，在所述标准光谱数据中确定所有谱峰，按基于所述判断结果调整后的预设条件，对谱峰进行筛选，得到最终谱峰。
[0008]本专利技术的有益效果是：通过对拉曼光谱的预先处理可以减少在寻峰过程中的额外计算工作，另外，通过对信噪比进行处理可以提升处理效率，提高对于谱峰确定的准确度。
[0009]在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。
[0010]进一步，所述对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理的过程为：
[0011]对实测拉曼信号依次进行去基线处理，得到去除基线的第一信号，通过高通滤波器对所述第一信号进行光谱去噪处理，获得实测光谱的高频噪声信号以及标准光谱。
[0012]进一步，对所述高频噪声信号的进行基础数据计算具体为：
[0013]计算所述高频噪声信号的标准差以及计算所述标准光谱的最大值。
[0014]进一步，所述在所述标准光谱数据中确定所有谱峰具体为：
[0015]对所述标准光谱数据进行一阶差分处理，得到第一处理结果，对所述第一处理结果进行一阶差分处理，得到第二处理结果，基于第二处理结果确定所有谱峰。
[0016]进一步，所述预设条件为：
[0017]去除半峰宽超过第一阈值的谱峰以及去除高度值低于第二阈值的谱峰，所述第一阈值以及所述第二阈值为依据所述判断结果调整后的参数。
[0018]本专利技术解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种光谱谱峰确定系统，包括：
[0019]第一处理模块用于：对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理，得到高频噪声信号以及标准光谱；
[0020]计算模块用于：对所述高频噪声信号以及所述标准光谱进行基础数据计算，基于所述基础数据得出实测拉曼信号的全局信噪比；
[0021]筛选模块用于：对所述全局信噪比与阈值进行判断，得到判断结果，在所述标准光谱数据中确定所有谱峰，按基于所述判断结果调整后的预设条件，对谱峰进行筛选，得到最终谱峰。
[0022]本专利技术的有益效果是：通过对拉曼光谱的预先处理可以减少在寻峰过程中的额外计算工作，另外，通过对信噪比进行处理可以提升处理效率，提高对于谱峰确定的准确度。
[0023]进一步，所述对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理的过程为：
[0024]对实测拉曼信号依次进行去基线处理，得到去除基线的第一信号，通过高通滤波器对所述第一信号进行光谱去噪处理，获得实测光谱的高频噪声信号以及标准光谱。
[0025]进一步，对所述高频噪声信号的进行基础数据计算具体为：
[0026]计算所述高频噪声信号的标准差以及计算所述标准光谱的最大值。
[0027]进一步，所述在所述标准光谱数据中确定所有谱峰具体为：
[0028]对所述标准光谱数据进行一阶差分处理，得到第一处理结果，对所述第一处理结果进行一阶差分处理，得到第二处理结果，基于第二处理结果确定所有谱峰。
[0029]进一步，所述预设条件为：
[0030]去除半峰宽超过第一阈值的谱峰以及去除高度值低于第二阈值的谱峰，所述第一阈值以及所述第二阈值为依据所述判断结果调整后的参数。
[0031]本专利技术解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如上述任一项所述的方法。
[0032]本专利技术的有益效果是：通过对拉曼光谱的预先处理可以减少在寻峰过程中的额外计算工作，另外，通过对信噪比进行处理可以提升处理效率，提高对于谱峰确定的准确度。
[0033]本专利技术解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种电子设备，包括上述存储介质、执行上述存储介质内的指令的处理器。
[0034]本专利技术的有益效果是：通过对拉曼光谱的预先处理可以减少在寻峰过程中的额外计算工作，另外，通过对信噪比进行处理可以提升处理效率，提高对于谱峰确定的准确度。
附图说明
[0035]图1为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的流程示意图；
[0036]图2为本专利技术一种光谱谱峰确定系统实施例提供的结构框架图；
[0037]图3为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的算法逻辑图；
[0038]图4为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的光谱寻峰逻辑图；
[0039]图5为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的光谱寻峰原理图；
[0040]图6为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的硝酸铵光谱示意图；
[0041]图7为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的FWHM示意图；
[0042]图8为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的光谱去基线示意图；
[0043]图9为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的光谱去噪示意图；
[0044]图10为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的第一硝酸铵光谱图；
[0045]图11为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的第二硝酸铵光谱图；
[0046]图12为本专利技术一种光谱谱峰确定方法实施例提供的光谱寻峰效果示意图。
具体实施方式
[0047]以下对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。
[0048]如图1所示，一种光谱谱峰确定方法，包括：
[0049]步骤1，对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理，得到高频噪声信号以及标准光谱；
[0050]步骤2，对所述高频噪声信号以及所述标准光谱进行基础数据计算，基于所述基础数据得出实测拉曼信号的全局信噪比；
[0051]步骤3，对所述全局信噪比与阈值进行判断，得到判断结果，在所述标准光谱数据中确定所有谱峰，按基于所述判断结果调整后的预设条件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱谱峰确定方法，其特征在于，包括：步骤1，对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理，得到高频噪声信号以及标准光谱；步骤2，对所述高频噪声信号以及所述标准光谱进行基础数据计算，基于所述基础数据得出实测拉曼信号的全局信噪比；步骤3，对所述全局信噪比与阈值进行判断，得到判断结果，在所述标准光谱数据中确定所有谱峰，按基于所述判断结果调整后的预设条件，对谱峰进行筛选，得到最终谱峰。2.根据权利要求1所述的一种光谱谱峰确定方法，其特征在于，所述对实测拉曼信号依次进行去基线处理以及光谱去噪处理的过程为：对实测拉曼信号依次进行去基线处理，得到去除基线的第一信号，通过高通滤波器对所述第一信号进行光谱去噪处理，获得实测光谱的高频噪声信号以及标准光谱。3.根据权利要求1所述的一种光谱谱峰确定方法，其特征在于，对所述高频噪声信号的进行基础数据计算具体为：计算所述高频噪声信号的标准差以及计算所述标准光谱的最大值。4.根据权利要求1所述的一种光谱谱峰确定方法，其特征在于，所述在所述标准光谱数据中确定所有谱峰具体为：对所述标准光谱数据进行一阶差分处理，得到第一处理结果，对所述第一处理结果进行一阶差分处理，得到第二处理结果，基于第二处理结果确定所有谱峰。5.根据权利要求1所述的一种光谱谱峰确定方法，其特征在于，所述基于所述判断结果调整后的预设条件为：去除半峰宽超过第一阈值的谱峰...

【专利技术属性】
技术研发人员：周辉，袁丁，吴红彦，夏征，
申请(专利权)人：北京华泰诺安探测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：