金属检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种金属检测电路，该金属检测电路与发射线圈耦合，所述发射线圈发射一正弦波信号，金属检测电路包括：第一信号发生器发出第一信号；第一信号处理单元用于输出第三信号；第二信号发生器发出第二信号；第二信号处理单元用于输出第四信号；求差电路用于输出第三信号和第四信号的差值信号；控制模块用于根据差值信号的相位值是否变化，来判断是否检测到金属。根据本实用新型专利技术输出两路信号，并对两路信号求差得出差值信号，并根据在正弦波信号的相位改变会带来差值信号的相位改变的情况下，从而确定产品中是否有金属异物混入；因差值信号的频率与生产线速度保持一致，从而能够在超低速至超高速范围内准确报警。从而能够在超低速至超高速范围内准确报警。从而能够在超低速至超高速范围内准确报警。

【技术实现步骤摘要】
金属检测电路


[0001]本技术涉及金属探测领域，特别涉及一种金属检测电路。

技术介绍

[0002]金属探测器是通过相位变化来检测产品中是否混入了金属颗粒异物。当解析出相位后，需要对相位信号进行滤波处理，以达到最佳的检测效果。一般采用带通滤波器进行相位滤波，一般情况下，带通滤波器的f
H
≈(2～3)*f
L
，带通滤波器的下限频率f
L
和上限频率f
H
依据生产线的传输速度而进行设定。
[0003]在纺织行业，生产线的传输速度一般在500～600米/分钟，高速时甚至达到上千米每分钟，而最低速只有几米每分钟甚至更低，这样需要f
H
≈1000*f
L
才可以满足检测的需要。这时就会出现一个情况，当生产线高速运行并检测到金属异物时，因受下限频率f
L
端的时间常数很大的影响，会有很长的报警时间而无法确定产生报警的位置。
[0004]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种金属检测电路，其使得能够准确确定产生报警的位置。
[0006]为实现上述目的，本技术提供了一种金属检测电路，该金属检测电路与发射线圈耦合，所述发射线圈发射一正弦波信号，该金属检测电路包括：第一信号发生器、第一信号处理单元、第二信号发生器、第二信号处理单元、求差电路和控制模块。
[0007]其中，第一信号发生器用于发出第一信号。第一信号处理单元用于对第一信号和正弦波信号进行处理并输出第三信号。第二信号发生器用于发出第二信号。第二信号处理单元用于对第二信号和正弦波信号进行处理并输出第四信号。求差电路用于输出第三信号和第四信号的差值信号。控制模块用于根据差值信号的相位值是否变化，来判断是否检测到金属。
[0008]在一个或多个实施方式中，所述控制模块与所述第一信号发生器和所述第二信号发生器相连，所述控制模块用于控制第一信号发生器和第二信号发生器进行第一信号的相位值和第二信号的相位值的调节。
[0009]在一个或多个实施方式中，还包括模数转化模块，用于将差值信号转化成供控制模块识别的数字信号。
[0010]在一个或多个实施方式中，所述第一信号处理单元包括依次连接且用于处理第一信号和正弦波信号的第一模拟乘法器、第一差分电路和第一低通滤波器。
[0011]在一个或多个实施方式中，所述第二信号处理单元包括依次连接且用于处理第二信号和正弦波信号的第二模拟乘法器、第二差分电路和第二低通滤波器。
[0012]与现有技术相比，根据本技术的金属检测电路，第一信号发生器、第一信号处理单元、第二信号发生器和第二信号处理单元输出两路信号，并通过求差电路对两路信号求差得出差值信号，并根据在正弦波信号的相位改变会带来差值信号的相位改变的情况下，从而确定产品中是否有金属异物混入；根据求差电路可在产品中混入有金属异物时，输出的差值信号的频率与生产线速度保持一致，从而能够在超低速至超高速范围内准确报警。
附图说明
[0013]图1是根据本技术一实施方式的金属检测电路的电路原理图。
[0014]图2是根据本技术一实施方式的第一模拟乘法器和第一差分电路的电路原理图。
[0015]图3是根据本技术一实施方式的第一低通滤波器的电路原理图。
具体实施方式
[0016]下面结合附图，对本技术的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。
[0017]除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
[0018]如图1所示，根据本技术一实施方式的一种金属检测电路，该金属检测电路与发射线圈耦合，发射线圈发射一正弦波信号，该金属检测电路包括：第一信号发生器DDS1、第一信号处理单元100、第二信号发生器DDS2、第二信号处理单元200、求差电路300、模数转化模块ADC和控制模块CPU。
[0019]其中，第一信号发生器DDS1用于发出第一信号，第二信号发生器DDS2用于发出第二信号。第一信号和第二信号均为与正弦波信号同频的正弦波信号。一般情况下，第一信号和第二信号的相位差为90
°
。
[0020]第一信号处理单元100用于对第一信号和正弦波信号进行处理并输出第三信号。一实施方式中，第一信号处理单元100包括依次连接且用于处理第一信号和正弦波信号的第一模拟乘法器110、第一差分电路120和第一低通滤波器130。
[0021]第一模拟乘法器110接收第一信号和正弦波信号，并将第一信号和正弦波信号进行乘法运算后输入至第一差分电路120，得到包含正弦波信号相位信息的第一倍频信号，再通过第一低通滤波器130得到可以解析出正弦波信号与第一信号之间的相位信息的第三信号。
[0022]一实施方式中，第一模拟乘法器110的型号为MC1496，第一模拟乘法器110和第一差分电路120的具体电路图如图2所示。在其他实施方式中，第一模拟乘法器110可以采用其他型号的模拟乘法器，第一差分电路120也可以采用其它差分电路。
[0023]一实施方式中，第一低通滤波器130的具体电路图如图3所示。在其他实施方式中，第一低通滤波器130也可以采用其他低通滤波器。
[0024]如图1所示，第二信号处理单元200用于对第二信号和正弦波信号进行处理并输出
第四信号。一实施方式中，第二信号处理单元200包括依次连接且用于处理第二信号和正弦波信号的第二模拟乘法器210、第二差分电路220和第二低通滤波器230。
[0025]第二模拟乘法器210接收第二信号和正弦波信号，并将第二信号和正弦波信号进行乘法运算后输入至第二差分电路220，得到包含正弦波信号相位信息的第二倍频信号，再通过第二低通滤波器230得到可以解析出正弦波信号与第二信号之间的相位信息的第四信号。
[0026]一实施方式中，第二模拟乘法器210的型号与第一模拟乘法器110的型号相同，第二模拟乘法器210和第二差分电路220的具体电路图与第一模拟乘法器110和第一差分电路120的具体电路图相同。在其他实施方式中，第二模拟乘法器210可以采用其他型号的模拟乘法器，第二差分电路220也可以采用其它差分电路。
[0027]一实施方式中，第二低通滤波器230的具体电路和第一低通滤波器130的具体电路相同。在其他实施方式中，第二低通滤波器230也可以采用其他低通滤波器。
[0028]如图1所示，求差电路300用于输出第三信号和第四信号的差值信号，该差值信号通过对第三信号和第四信号进行求差而得出。第三信号和第四本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属检测电路，该金属检测电路与发射线圈耦合，所述发射线圈发射一正弦波信号，其特征在于，该金属检测电路包括：第一信号发生器，用于发出第一信号；第一信号处理单元，用于对第一信号和正弦波信号进行处理并输出第三信号；第二信号发生器，用于发出第二信号；第二信号处理单元，用于对第二信号和正弦波信号进行处理并输出第四信号；求差电路，用于输出第三信号和第四信号的差值信号；控制模块，用于根据差值信号的相位值是否变化，来判断是否检测到金属。2.如权利要求1所述的金属检测电路，其特征在于，所述控制模块与所述第一信号发生器和所述第二信号发生器相连，...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑云鹏，杨海源，
申请(专利权)人：上海明强智能技术有限公司，
类型：新型
国别省市：