本实用新型专利技术公开了一种检测电路、检测装置及显示面板，包括第一检测分段、第二检测分段、第三检测分段、第一输出端及第二输出端；第一检测分段与显示面板所有列的数据线悬空交叠；第二检测分段、第三检测分段分别与显示面板的左侧奇数行像素、右侧偶数行像素悬空交叠；第一检测分段的两个连接端分别与第二检测分段的第一连接端、第三检测分段的第二连接端悬空交叠，构成环形检测线；第一输出端、第二输出端分别与第二检测分段的末端、第三检测分段的末端连接；通过设置环形检测电路，在进行故障检测时，利用激光进行熔断导通，通过检测电路的第一输出端/第二输出端获取故障行/列的输出波形，快速找出故障产生的原因，提高了检测效率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
一种检测电路、检测装置及显示面板
[0001]本技术涉及显示面板
，特别涉及一种检测电路、检测装置及显示面板。
技术介绍
[0002]在TFT液晶显示屏产品中，一些产品会出现显示画面上的不良故障，例如显示横纹、显示竖纹之类的，为了检测出故障的产生原因，需要耗费大量的人力和时间去分析，大大降低了生产效率。
[0003]为了更快速的检测和定位这些故障产生的原因，需要检测输出信号的波形，故需要在设计上实现能够对每行每列的输出信号进行检测，以此可以更快速高效地找出故障原因。
[0004]图1为TFT面板传统设计方案的检测电路设计示意图，在传统设计方案中，只在面板两侧最后两行的像素引出输出信号的测试点，用来测试输出信号的波形，如图1所示的检测点1和检测点2。检测点1引出GOA单元(n)连接gate(2n
‑
1)的输出信号，检测点2引出GOA单元(n)连接gate(2n)的输出信号。
[0005]但由于检测点1、监测点2分别只连接第2n
‑
1行、第2n行，无法对出现故障问题的行/列进行定位，无法对其输出信号进行检测，导致无法快速高效地找出故障原因。
技术实现思路
[0006]现有的显示屏面板，仅在第2n
‑
1行、第2n行连接检测点，但无法对出现故障问题的行/列进行精确定位，也无法对其输出信号进行检测，故障检测效率低下。
[0007]针对上述问题，提出一种检测电路、检测装置及显示面板，通过在显示面板的显示区外设置环形检测电路，在进行故障检测时，先对故障行/列进行定位，然后将第一检测分段/第二检测分段/第三检测分段与对应的列数据线/奇数行像素/偶数行像素进行激光熔断导通，通过检测电路的第一输出端/第二输出端获取故障行/列的输出波形，然后快速找出故障产生的原因，提高了检测效率。
[0008]第一方面，一种检测电路，包括：
[0009]第一检测分段；
[0010]第二检测分段；
[0011]第三检测分段；
[0012]第一输出端；
[0013]第二输出端；
[0014]所述第一检测分段与所述显示面板所有列的数据线悬空交叠；
[0015]所述第二检测分段、第三检测分段分别与所述显示面板的左侧奇数行像素、右侧偶数行像素悬空交叠；
[0016]所述第一检测分段的两个连接端分别与所述第二检测分段的第一连接端、所述第
三检测分段的第二连接端悬空交叠，构成环形检测线，设置在所述显示面板的显示区外侧；
[0017]所述第一输出端、第二输出端分别与所述第二检测分段的末端、第三检测分段的末端连接；
[0018]所述第一检测分段、第二检测分段、第三检测分段用于分别在悬空交叠的列数据线、奇数行像素、偶数行像素出现故障时，通过连通对应的悬空交叠区域将波形信号输出到第一输出端/第二输出端。
[0019]结合本技术第一方面所述的检测电路，第一种可能的实施方式中，所述第一检测分段、第二检测分段、第三检测分段分别为：
[0020]第一金属层；
[0021]第二金属层；
[0022]第三金属层；
[0023]所述第一金属层、第二金属层、第三金属层之间的悬空交叠区域通过绝缘层进行悬空。
[0024]结合本技术第一方面第一种可能的实施方式，第二种可能的实施方式中，所述第一金属层、第二金属层、第三金属层分别与悬空交叠的列数据线金属层、左侧奇数行GOA单元栅极金属层、右侧偶数行GOA单元金属层通过绝缘层进行悬空。
[0025]结合本技术第一方面第二种可能的实施方式，第三种可能的实施方式中，在进行故障输出信号检测时：
[0026]所述第一金属层与第二金属层在悬空交叠区域通过激光熔断进行导通；
[0027]所述第一金属层与第三金属层在悬空交叠区域通过激光熔断进行导通。
[0028]结合本技术第一方面第三种可能的实施方式，第四种可能的实施方式中，在进行故障输出信号检测时：
[0029]所述第一金属层与悬空交叠的故障的列数据线金属层通过激光熔断进行导通
[0030]所述第二金属层、第三金属层分别与悬空交叠的故障的左侧奇数行GOA单元栅极金属层、右侧偶数行GOA单元栅极金属层通过激光熔断进行导通。
[0031]第二，一种检测装置，分别与第一方面所述的第一输出端、第二输出端连接，包括：
[0032]定位模块；
[0033]激光模块；
[0034]波形分析模块
[0035]控制模块；
[0036]所述定位模块、激光模块、波形分析模块分别与所述控制模块连接；
[0037]所述定位模块用于通过所述第一输出端/第二输出端确定发生故障的行或列；
[0038]所述激光模块用于将对应的金属层进行熔断导通，以便获取对应故障的行/列的输出波形；
[0039]所述波形分析模块用于对输出波形进行分析，以便快速找出故障原因。
[0040]结合本技术第二方面所述检测装置，第一种可能的实施方式中，所述激光模块用于在奇数行像素产生故障时，将第二金属层与所述奇数行像素GOA单元的栅极金属层悬空交叠区域的绝缘层进行激光熔断，以进行导通。
[0041]结合本技术第二方面所述检测装置，第二种可能的实施方式中，所述激光模
块用于在偶数行像素产生故障时，将第三金属层与所述偶数行像素GOA单元的栅极金属层悬空交叠区域的绝缘层进行激光熔断，以进行导通。
[0042]结合本技术第二方面所述检测装置，第三种可能的实施方式中，所述激光模块用于在列像素产生故障时：
[0043]将第一金属层与第二金属层悬空交叠区域或第一金属层与第三金属层悬空交叠区域进行激光熔断，以将第一金属层与第二金属层或第一金属层与第三金属层进行导通；
[0044]将第一金属层与对应故障的列数据线金属层进行激光熔断，以将第一金属层与对应故障的列数据线进行导通。
[0045]第三方面，一种显示面板，包括第一方面所述的检测电路，其中，所述检测电路设置在所述显示面板的显示区外侧。
[0046]实施本技术所述的一种检测电路、检测装置及显示面板，通过在显示面板的显示区外设置环形检测电路，在进行故障检测时，先对故障行/列进行定位，然后将第一检测分段/第二检测分段/第三检测分段与对应的列数据线/奇数行像素/偶数行像素进行激光熔断导通，通过检测电路的第一输出端/第二输出端获取故障行/列的输出波形，然后快速找出故障产生的原因，提高了检测效率。
附图说明
[0047]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0048]图1为现有技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测电路，其特征在于，包括：第一检测分段；第二检测分段；第三检测分段；第一输出端；第二输出端；所述第一检测分段与所述显示面板所有列的数据线悬空交叠；所述第二检测分段、第三检测分段分别与所述显示面板的左侧奇数行像素、右侧偶数行像素悬空交叠；所述第一检测分段的两个连接端分别与所述第二检测分段的第一连接端、所述第三检测分段的第二连接端悬空交叠，构成环形检测线，设置在所述显示面板的显示区外侧；所述第一输出端、第二输出端分别与所述第二检测分段的末端、第三检测分段的末端连接；所述第一检测分段、第二检测分段、第三检测分段用于分别在悬空交叠的列数据线、奇数行像素、偶数行像素出现故障时，通过连通对应的悬空交叠区域将波形信号输出到第一输出端/第二输出端。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测分段、第二检测分段、第三检测分段分别为：第一金属层；第二金属层；第三金属层；所述第一金属层、第二金属层、第三金属层之间的悬空交叠区域通过绝缘层进行悬空。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一金属层、第二金属层、第三金属层分别与悬空交叠的列数据线金属层、左侧奇数行GOA单元栅极金属层、右侧偶数行GOA单元金属层通过绝缘层进行悬空。4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，在进行故障输出信号检测时：所述第一金属层与第二金属层在悬空交叠区域通过激光熔断进行导通；所述第一金属层与第三金属层在悬空交叠区域通过激光熔断进行导通。5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，在进行故障输出信号检测时：所述第一金属层与悬空交叠的故障的列数据线金属层通过激光熔断进行导通所述第二金属层、...
【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，董欣，余光棋，王新志，
申请(专利权)人：信利仁寿高端显示科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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