一种微波电场测量探头装置及使用方法制造方法及图纸

本申请公开了一种微波电场测量探头装置及使用方法，装置包括：原子蒸气室；原子蒸气室端部连接有双波长分光棱镜，双波长分光棱镜远离原子蒸气室一端连接有输入耦合光光纤准直组件和输出信号光光纤准直组件；原子蒸气室上连接有输入探测光光纤组件；输入探测光光纤组件连接于原子蒸气室远离双波长分光棱镜的一端，输入探测光光纤组件、输出信号光光纤准直组件和原子蒸气室处于同一轴心线上；探测光能够穿过双波长分光棱镜进入输出信号光光纤准直组件；进入原子蒸气室内的耦合光能够与原子蒸气室内可穿过双波长分光棱镜的探测光重合。实现提高光收集效率和使用灵活性的目的。实现提高光收集效率和使用灵活性的目的。实现提高光收集效率和使用灵活性的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种微波电场测量探头装置及使用方法


[0001]本申请涉及微波电场测量
，其涉及一种微波电场测量探头装置及使用方法，尤其涉及一种基于光纤耦合原子蒸气室结构的微波电场测量探头装置及使用方法。

技术介绍

[0002]传统的量子电场探头具有低集成度，不稳定，且不易移动，难以实现狭小空间的微波电场测试。而且基于自由空间放置光学镜片组成的光路，容易受到光学元件安装架的振动传递，导致双光束的重合度受到影响，指向变化会影响509nm和852nm光束重合度，由于只有光束重合区域原子才能感应微波电场，重合区域体积减少会导致接收电场的传感单元(里德堡原子)数目发生变化，致使电场测量信号降低，进而影响电场强度诱导的光谱分裂信号。尽管目前也有光纤接入原子气室的样品，但是探测信号光的收集效率低，限制了可测最小场强和信噪比。并且，在气室内部远离微波场源的方向上，场强大小不是随距离增加而减小，而是存在多个极大值和极小值，并且频率越高，不同光学路径上位置的电场大小差异性越大，因此光束指向路径改变会导致实测场强大小发生改变。
[0003]原有的直通式的原子电场探头本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波电场测量探头装置，其特征在于，包括：原子蒸气室；所述原子蒸气室端部连接有双波长分光棱镜，所述双波长分光棱镜远离所述原子蒸气室一端连接有输入耦合光光纤准直组件和输出信号光光纤准直组件；所述原子蒸气室上连接有输入探测光光纤组件；所述输入探测光光纤组件连接于所述原子蒸气室远离所述双波长分光棱镜的一端，所述输入探测光光纤组件、输出信号光光纤准直组件和原子蒸气室处于同一轴心线上；或，所述输入探测光光纤组件与所述双波长分光棱镜连接于所述原子蒸气室的同一端，所述原子蒸气室远离所述双波长分光棱镜的一端连接有角锥反射镜；其中，探测光能够穿过所述双波长分光棱镜进入所述输出信号光光纤准直组件，探测光能够通过所述角锥反射镜进入所述原子蒸气室。2.如权利要求1所述的一种微波电场测量探头装置，其特征在于，所述原子蒸气室呈柱体结构，端面设有光增透膜。3.如权利要求1所述的一种微波电场测量探头装置，其特征在于，所述双波长分光棱镜包括直角三棱柱和与斜四棱柱，所述直角三棱柱包括直角面和三棱柱斜面，所述斜四棱柱包括入射耦合光窄面、出射光窄面和斜四棱柱斜面；所述斜四棱柱斜面与所述直角三棱柱斜面连接；所述出射光窄面与所述原子蒸气室连接；所述入射耦合光窄面与所述输入耦合光光纤准直组件连接；所述直角面、入射耦合光窄面和出射光窄面面设有光增透膜；所述三棱柱斜面、四棱柱斜面设有探测光增透膜和耦合光高反膜。4.如权利要求3所述的一种微波电场测量探头装置，其特征在于，所述出射光窄面与所述原子蒸气室通过光胶无缝粘接。5.如权利要求3所述的一种微波电场测量探头装置，其特征在于，所述入射耦合光窄面与所述输入耦合光光纤准直组件通过高强度紫外胶粘接。6.如权利要求3所述的一种微波电场测量探头装置，其特征在于，所述斜四棱柱斜面与所述直角三棱柱斜面通过光胶粘接。7.如权利要求1所述的一种微波电场测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳刚，成永杰，刘星汛，黄承祖，彭博，代明珍，康宁，齐万泉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：