一种MiniLED/MicroLED屏幕的亮度校正工艺和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺和装置，属于LED屏幕修复领域。包括将待检测Mini LED/Micro LED屏幕用额定电流点亮，并采用品位分析设备开始拍照获取第一图像；获取第一图像中各个像素点的亮度；判断相邻的两个像素点之间的亮度差值是否大于阈值，若是即可能为缺陷区域；确认所述第一图像是否存在缺陷的类型和存在缺陷的区域所对应的位置信息；根据缺陷类型改变该区域电流特征或更换发光体；重复上述步骤进行修正，直至亮度差别小于阈值即为成功。本发明专利技术采用品位分析设备对Mini LED/Micro LED屏幕对屏幕进行分析，判断所述Mini LED/Micro LED屏幕的缺陷类，然后根据缺陷类型改变该区域电流特征或更换发光体，实现显示面板的实时异常检测与针对性修复。对性修复。对性修复。

【技术实现步骤摘要】
一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺和装置


[0001]本专利技术属于LED屏幕修复领域，尤其是一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺和装置。

技术介绍

[0002]随着技术的发展，现有显示面板的种类越来越多，出现了如Micro LED和Mini LED等新一代的显示技术，Mini LED即次毫米发光二极管，是晶粒尺寸约在100微米以上的LED，是传统LED背光基础上的改良版本。Micro LED是指以自发光的微米量级的LED为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED阵列的显示技术，让LED单元小于100um，并能够实现和OLED一样的自发光模式。
[0003]反射在LED颗粒制备和转移过程的不良，是Micro LED或Mini LED良率的关键，是能否快速形成规模经济效益的主要影响因素之一。申请人经过长期发现，根据导致由于Micro LED或Mini LED的像素点异常的原因主要包括以下几方面的影响，一是LED颗粒与焊板之间结合存在间隙，导致LED与驱动电路之间接触不良，进而导致像素本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺，其特征在于，包括:将待检测Mini LED/Micro LED屏幕用额定电流点亮，并采用品位分析设备开始拍照获取第一图像；获取第一图像中各个像素点的亮度；判断相邻的两个像素点之间的亮度差值是否大于阈值，若是即可能为缺陷区域；对第一图像信息进行分割，将分割后可能存在瑕疵点的区域的图像定义为第二图像；将第二图像信息传输至处理单元，所述处理单元包括训练模型，所述训练模型为有监督的深度学习和训练得到；所述训练模型以存在漏LED、位移、色差、斑点，破损、歪斜、极性反转、翘起作为监督数据；将所述第二图像输入所述训练模型，输出所述第二图像是否存在缺陷的类型和存在缺陷的区域所对应的位置信息；根据缺陷类型改变该区域电流特征或更换发光体；重复上述步骤进行修正，直至亮度差别小于阈值即为成功。2.根据权利要求1所述的Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺，其特征在于，所述品位分析设备包括：承载台，用于放置固定待检测的Mini LED/Micro LED屏幕；在所述承载台上设置有多个电源接头和电流控制单元，实现待检测的Mini LED/Micro LED屏幕的额定电流；检测单元，设置所述承载台上方的高分辨率彩色相机，获取分别单独点亮RGB三原色状态下的待检测的Mini LED/Micro LED屏幕的图像信息。3.根据权利要求2所述的Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺，其特征在于，所述彩色相机前方设置还有高倍镜头；所述高倍镜头的倍率至少为200倍。4.根据权利要求1所述的Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺，其特征在于，所述工艺还包括：调整所述第一图像的分辨率，使得一个或多个像素点对应一个发光体；并第一图像建立坐标系，得到各个发光体在焊盘上所对应的二维坐标。5.根据权利要求1所述的Mini LED/Micro LED屏幕的亮度校正工艺，其特征在于，当所述缺陷的类型为色差或斑点时，改变区域电流特征；所述改变该区域电流特征的方法包括：预先获得待检测的Mini LED/Micro LED屏幕上各个发光体的亮度和发光体相对于焊盘的高度的之间映射关系；结合缺陷区域中发光体的二维坐标，获得缺陷区域的各个发光体的亮度信息转化为发光体的三维坐标；将探针与缺陷区域的发光体表面相接触，并控制所述探针在发光体上施加特定的力，使得该发光体向下移动预定间隙，使得发光体与焊盘更加紧密的贴...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄良斌，耿婷，黄良辉，王文磊，
申请(专利权)人：领先光学技术江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：