一种缝隙线阵天线及其设计方法技术

本发明专利技术公开了一种缝隙线阵天线及其设计方法，属于天线设计领域。缝隙线阵天线的设计方法，包括：确定辐射缝的缝宽；生成第一曲线和第二曲线，所述第一曲线为有源导纳随偏置变化的曲线，所述第二曲线为谐振缝长随偏置变化的曲线；计算各辐射缝的导纳分布；根据所述导纳分布、第一曲线和第二曲线确定各辐射缝的几何参数，所述辐射缝的几何参数包括辐射缝的谐振缝长和辐射缝的偏置；根据所述辐射缝的缝宽、谐振缝长和偏置制作缝隙线阵天线。本发明专利技术的方法设计得到的缝隙线阵天线更加准确，相关指标更加接近理论值。更加接近理论值。更加接近理论值。

【技术实现步骤摘要】
一种缝隙线阵天线及其设计方法


[0001]本专利技术属于天线设计领域，特别是涉及一种缝隙线阵天线及其设计方法。

技术介绍

[0002]现在设计缝隙线阵天线时常利用单缝的导纳参数来获取相关的设计参数，但是这种方法得到的天线的方向图副瓣电平与理论值相差较大，而且驻波系数也较大。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种缝隙线阵天线及其设计方法。
[0004]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：根据本专利技术的第一方面，一种缝隙线阵天线的设计方法，包括：确定辐射缝的缝宽；生成第一曲线和第二曲线，所述第一曲线为有源导纳随偏置变化的曲线，所述第二曲线为谐振缝长随偏置变化的曲线；计算各辐射缝的导纳分布；根据所述导纳分布、第一曲线和第二曲线确定各辐射缝的几何参数，所述辐射缝的几何参数包括辐射缝的谐振缝长和辐射缝的偏置；根据所述辐射缝的缝宽、谐振缝长和偏置制作缝隙线阵天线。
[0005]进一步地，生成第一曲线和第二曲线，包括：提取多组谐振参数，每组谐振参数包括辐射缝的偏置、辐射缝的谐振缝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缝隙线阵天线的设计方法，其特征在于，包括：确定辐射缝的缝宽；生成第一曲线和第二曲线，所述第一曲线为有源导纳随偏置变化的曲线，所述第二曲线为谐振缝长随偏置变化的曲线；计算各辐射缝的导纳分布；根据所述导纳分布、第一曲线和第二曲线确定各辐射缝的几何参数，所述辐射缝的几何参数包括辐射缝的谐振缝长和辐射缝的偏置；根据所述辐射缝的缝宽、谐振缝长和偏置制作缝隙线阵天线。2.根据权利要求1所述的一种缝隙线阵天线的设计方法，其特征在于，生成第一曲线和第二曲线，包括：提取多组谐振参数，每组谐振参数包括辐射缝的偏置、辐射缝的谐振缝长和辐射缝的有源导纳；基于多组谐振参数，利用差值方法拟合出第一曲线，所述第一曲线为有源导纳随偏置变化的曲线；基于多组谐振参数，利用差值方法拟合出第二曲线，所述第二曲线为谐振缝长随偏置变化的曲线。3.根据权利要求2所述的一种缝隙线阵天线的设计方法，其特征在于，所述谐振参数的提取方法包括：构建一个波导模型，所述波导模型的一端短路，所述波导模型的另一端为端口；在所述波导模型上设置辐射缝，所述波导模型上所有辐射缝的偏置相同，所述波导模型上所有辐射缝的缝长相同；调节波导模型上所有辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：何义奎，宋科，帅翔，
申请(专利权)人：四川航天职业技术学院四川航天高级技工学校，
类型：发明
国别省市：