基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法技术

本发明专利技术涉及一种基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，包括步骤：通过微芯片现场测试，获取全井筒温度原始测量数据；将原始测量数据转换为温度对应井深的数据；对所述温度对应井深的数据进行降噪处理得到温度梯度对应井深数据；对所述降噪处理温度梯度对应井深数据再次求导得到温度梯度变化对应井深数据并形成温度梯度变化曲线；根据所述温度梯度变化曲线判断漏点。该方法使用小尺寸的微芯片，可在不影响钻井流程的情况下，进行全井筒温度场测量，而后期通过将测量的数据回收处理得到全井筒温度梯度变化的数据，结合井下热传导模型，可快速定位漏失地点。可快速定位漏失地点。可快速定位漏失地点。

【技术实现步骤摘要】
基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法


[0001]本专利技术属于钻井
，尤其涉及一种基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法。

技术介绍

[0002]在钻井作业中，井漏是一种较为严重的复杂现场情况，该问题可导致浪费大量的钻井液和现场工时，从而造成巨大的经济损失。严重的井漏会导致井内压力下降，影响正常钻井、引起井壁失稳、诱发地层流体涌入井筒并导致井喷等严重安全问题。基于漏失的严重程度，井漏被分为若干等级：渗漏、部分漏失、严重漏失。渗漏是最轻微的井漏，漏失速度低于10桶/小时(1.6方/小时)。一般这种漏失是因为钻井液进入地层孔隙而非裂缝。渗漏常常与滤饼形成前泥浆漏失到地层的孔隙网络系统有关。渗漏速度与过平衡压力和岩石渗透率密切相关。
[0003]部分漏失是指钻井液漏失速度在10
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100桶/小时(1.6
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16方/小时)，此时司钻需要慎重考虑钻进还是采取补救措施。
[0004]而当钻井液通过裂缝、孔洞或溶洞以高于16方/小时的速度进入地层时，就发生严重井漏。其中包括钻井液全部漏失，即没有钻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，其特征在于，包括步骤：通过微芯片现场测试，获取全井筒温度原始测量数据；将原始测量数据转换为温度对应井深的数据；对所述温度对应井深的数据进行降噪处理得到温度梯度对应井深数据；对所述降噪处理温度梯度对应井深数据再次求导得到温度梯度变化对应井深数据并形成温度梯度变化曲线；根据所述温度梯度变化曲线判断漏点。2.根据权利要求1所述的基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，其特征在于，所述对所述温度对应井深的数据进行降噪处理包括对所述温度对应井深的数据进行平滑处理。3.根据权利要求2所述的基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，其特征在于，所述平滑处理包括步骤：导入微芯片经过深度标定计算处理后的温度数据；选择平滑处理方法；选择平滑处理数据的时期点个数；对每个微芯片的深度标定数据启动平滑数据算法，从而给数据做降噪处理，获取平滑数据。4.根据权利要求3所述的基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，其特征在于，根据所述温度梯度变化曲线判断漏点包括：当温度梯度变化小于零时，钻井液向上运动时温度逐渐升高，则判断所述漏点发生在环空下段；当温度梯度变化大于零时，钻井液向上运动时温度逐渐降低，则判断漏点发生在环空上段；而当温度梯度...

【专利技术属性】
技术研发人员：李中，刘宇沛，刘兆年，幸雪松，范白涛，谢仁军，周长所，岳家平，石钊睿，姬煜晨，
申请(专利权)人：中海石油中国有限公司北京研究中心，
类型：发明
国别省市：