【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测定装置以及其测定方法和测定程序
[0001]本公开涉及测定装置以及其测定方法和测定程序。
技术介绍
[0002]触控面板中所用的静电电容式触摸传感器、数字摄像机等中所用的图像传感器、更复杂的三维图像传感器等那样将在特定的空间内产生的物理现象数值化的传感器在各种
中广泛利用。这样的传感器由于通常持续地进行测定,因此,在各测定中得到的测定值中包含该测定时固有的噪声(以下,称作“时间依赖噪声”)。
[0003]为了减少这样的时间依赖噪声的影响,例如,在专利文献1中公开了一种方法,通过使各测定值中所含的时间依赖噪声与成为某基准的测定时的测定值中所含的时间依赖噪声一致,来将各测定值中所含的时间依赖噪声一样化。
[0004]在先技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:美国专利第8976145号说明书
技术实现思路
[0007]‑
专利技术所要解决的课题
‑
[0008]然而,根据专利文献1所记载的方法,根据被一样化的噪声分量的大小,存在如下可 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测定装置,其特征在于,具备:N个传感器,其中N≥2;选择部,其按每次测定从所述N个传感器中选择给定的组合的传感器,基于所选择的传感器的测定值来对M个传感器端子各自输出检测值,其中M<N;取得部,其按每次测定取得对所述M个传感器端子各自输出的检测值;和补正部,其在进行L次测定后,假定为在由所述取得部取得的M
×
L个检测值各自中包含时间依赖噪声分量,对所述M
×
L个检测值各自进行补正,以使得所述检测值各自的所述时间依赖噪声分量成为将L个所述时间依赖噪声分量在时间轴方向上平均化而得到的值即共通噪声分量。2.根据权利要求1所述的测定装置,其中,所述补正部使用M
×
L行M
×
L列的补正矩阵来对所述M
×
L个检测值各自进行补正,以使得成为在真的值上加上所述共通噪声分量而得到的值。3.根据权利要求1或2所述的测定装置,其中,所述测定装置具备:控制部,其进行控制,以使得在各测定中,所述选择部选择给定的组合的传感器。4.根据权利要求3所述的测定装置,其中,所述控制部通过控制所述选择部和所述取得部,来以给定的时间间隔或在给定的定时进行所述L次测定。5.根据权利要求1~4中任一项所述的测定装置,其中,所述选择部基于所述测定值来算出合成输出值,作为所述检测值输出。6.根据权利要求1~5中任一项所述的测定装置,其中,所述测定装置具备:输出变换部,其基于由所述补正部补正过的所述M
×
L个检测值来算出与所述N个传感器各自对应的检测结果。7.根据权利要求6所述的测定装置,其中,所述输出变换部通过使在补正过的所述M
×
L个检测值各自中均等地包含的所述共通噪声分量相抵,来输出与所述N个传感器各自对应的检测结果。8.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:山田朋辉,
申请(专利权)人:阿尔卑斯阿尔派株式会社,
类型:发明
国别省市:
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