量测方法技术

一种量测方法，包括以下步骤。对待测物形成具有第一特征图案的待测影像。复制所述待测影像以形成多个待测影像，并将所述多个待测影像以叠加影像方式形成待测叠影影像，所述待测叠影影像具有多个所述第一特征图案。对参考物形成具有第二特征图案的参考影像。复制所述参考影像以形成多个参考影像，并将所述多个参考影像以叠加影像方式形成参考叠影影像，所述参考叠影影像具有多个所述第二特征图案。将所述待测叠影影像与所述参考叠影影像相叠，以产生一叠纹影像，所述叠纹影像具有一叠纹图案，所述叠纹图案不同于所述多个第一特征图案，所述叠纹图案不同于所述多个第二特征图案。叠纹图案不同于所述多个第二特征图案。叠纹图案不同于所述多个第二特征图案。

【技术实现步骤摘要】
量测方法


[0001]本专利技术是有关于一种量测方法，且特别是有关于一种叠纹量测方法。

技术介绍

[0002]在各种再生能源中，利用太阳能发电一直具有相当重要的地位。为了有效利用太阳光进行发电，主流大尺寸的太阳能电池发展趋势为：增加太阳能板面积与增加太阳能板中的汇电条(busbar)的数量。增加太阳能板面积能够提高接收太阳光的效率，而增加汇电条数量可以提高太阳能板的输电效率。但是随着太阳能板面积与太阳能板中的汇电条的数量增加，太阳能板产生形变的机率也会随之增加。因此要如何能够有效快速的侦测太阳能板的形变，已成为重要课题。
[0003]一般而言，太阳能板的变形主要由可分为室内与室外两种成因。在室内部分，工厂在生产太阳能板的时候，太阳能板会经过许多加工步骤，这些加工步骤都可能会造成太阳能板的形变。例如，太阳能板中所使用的银胶或铝胶在网印高温烧结时，电池可能会因高温而产生翘曲。另外，当太阳能电池模块在进行高温焊接时，电池模块的加工处可能会因高温而产生翘曲。而在铝框安装对位时，加工时所产生的机械负荷应力，有可能使太阳能板产生微量形变。
[0004]另一方面，当太阳能板架设于室外进行发电时，当遇到台风、飓风之风压侵袭，或是遭遇到地震，都可能使太阳能板产生微量形变，甚至造成电池产生微裂或破裂。这些形变都可能会影响太阳能板的平整度，造成发电效率下降。
[0005]为了有效测量室内与室外的太阳能板变形量，叠纹方式(Moir
é
method)是常用的量测方法。在先前技术中，使用叠纹方式对太阳能板进行量测时，需要有一个投影机在太阳能板的待测表面上形成光学条纹，并以摄影机来量测待测表面上的光学条纹的形变，借以得知待测表面是否产生形变。但是这种量测方式由于需要至少一个投影机与一个摄影机，因此不易对已安装在户外的太阳能板进行快速检测。

技术实现思路

[0006]本专利技术提供一种量测方法，可以快速侦测物体表面的形变。
[0007]根据本专利技术的一些实施例，提供一种量测方法，所述量测方法包括：对待测物形成具有第一特征图案的待测影像；复制所述待测影像以形成多个待测影像，并将所述多个待测影像以叠加影像方式形成待测叠影影像，所述待测叠影影像具有多个所述第一特征图案；对参考物形成具有第二特征图案的参考影像；复制所述参考影像以形成多个参考影像，并将所述多个参考影像以叠加影像方式形成参考叠影影像，所述参考叠影影像具有多个所述第二特征图案；将所述待测叠影影像与所述参考叠影影像相叠，以产生一叠纹影像，所述叠纹影像具有一叠纹图案，所述叠纹图案不同于所述多个第一特征图案，所述叠纹图案不同于所述多个第二特征图案，所述叠纹图案用以量测所述待测物的几何尺寸。
[0008]根据本专利技术的另一些实施例，提供一种量测方法，所述量测方法包括：对待测物形
成具有第一特征图案的待测影像；复制所述待测影像以形成多个待测影像，并将所述多个待测影像以叠加影像方式形成待测叠影影像，所述待测叠影影像具有多个所述第一特征图案；对参考物形成具有第二特征图案的参考影像；复制所述参考影像以形成多个参考影像，并将所述多个参考影像以叠加影像方式形成参考叠影影像，所述参考叠影影像具有多个所述第二特征图案；将所述待测叠影影像与所述参考叠影影像相叠，以产生一叠纹影像，所述叠纹影像具有一叠纹图案，所述叠纹图案不同于所述多个第一特征图案，所述叠纹图案不同于所述多个第二特征图案，使所述待测叠影影像与所述参考叠影影像产生相对移动，使所述叠纹影像的所述叠纹图案产生变化，其中所述叠纹图案的变化对应于待测物于待测物表面垂直方向的形变。
[0009]基于上述，本公开提供一种检测方法，特别是一种非破坏性检测技术，利用一个照相机便可以测量太阳能电池形变，有效降低检测系统成本，同时提高检测系统的可移植性，并可以快速地提供简易变形信息以供太阳能板生产过程中的制程分析、产品品管，以及太阳能板在户外使用时的损害评估。
[0010]以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。
附图说明
[0011]图1是根据本专利技术的一些实施例的一种量测系统的示意图。
[0012]图2A是依照本专利技术的一些实施例的待测物的待测影像。
[0013]图2B是依照本专利技术的一些实施例的待测影像的二值化待测影像。
[0014]图2C、图2D、图2E是依照本专利技术的一些实施例的待测影像的待测叠影影像。
[0015]图3A是依照本专利技术的一些实施例的参考物的参考影像。
[0016]图3B是依照本专利技术的一些实施例的参考影像的二值化待测影像。
[0017]图3C是依照本专利技术的一些实施例的参考影像的参考叠影影像。
[0018]图4A是依照本专利技术的一些实施例的待测影像的待测叠影影像。
[0019]图4B是依照本专利技术的一些实施例的参考影像的参考叠影影像。
[0020]图4C、图4D、图4E、图4F、图4G是依照本专利技术的一些实施例的叠纹影像。
[0021]图5A是依照本专利技术的一些实施例的待测影像。
[0022]图5B是依照本专利技术的一些实施例的待测影像的待测叠影影像。
[0023]图5C是依照本专利技术的一些实施例的参考影像的参考叠影影像。
[0024]图5D、图5E、图5F、图5G是依照本专利技术的一些实施例的叠纹影像。
[0025]图6A是依照本专利技术的一些实施例的一种参考影像的参考叠影影像。
[0026]图6B是依照本专利技术的实施例的一种待测影像的待测叠影影像。
[0027]图6C是依照本专利技术的一些实施例的一种叠纹影像。
[0028]图6D是依照本专利技术的实施例的另一种待测影像的待测叠影影像。
[0029]图6E是依照本专利技术的一些实施例的另一种叠纹影像。
[0030]图7A是依照本专利技术的一些实施例的一种参考影像的参考叠影影像。
[0031]图7B是依照本专利技术的一些实施例的另一种参考影像的参考叠影影像。
[0032]图7C是依照本专利技术的实施例的一种待测影像的待测叠影影像。
[0033]图7D是依照本专利技术的一些实施例的一种叠纹影像。
[0034]图7E是依照本专利技术的实施例的另一种待测影像的待测叠影影像。
[0035]图7F是依照本专利技术的一些实施例的另一种叠纹影像。
[0036]图8A与图8B是依照本专利技术的一些实施例的待测影像与参考影像的相对位置示意图。
[0037]其中，附图标记
[0038]10：待测物
[0039]12：汇电条
[0040]20：影像撷取设备
[0041]100：量测系统
[0042]210、510、620、640、730、750、820：待测影像
[0043]212、222、232、234、242、244、246、252、254、256、258、312、322、332、334、336、412、422、512、612、622、642、7本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量测方法，其特征在于，所述量测方法包括：对待测物形成具有第一特征图案的待测影像；复制所述待测影像以形成多个待测影像，并将所述多个待测影像以叠加影像方式形成待测叠影影像，所述待测叠影影像具有多个所述第一特征图案；对参考物形成具有第二特征图案的参考影像；复制所述参考影像以形成多个参考影像，并将所述多个参考影像以叠加影像方式形成参考叠影影像，所述参考叠影影像具有多个所述第二特征图案；将所述待测叠影影像与所述参考叠影影像相叠，以产生一叠纹影像，所述叠纹影像具有一叠纹图案，所述叠纹图案不同于所述多个第一特征图案，所述叠纹图案不同于所述多个第二特征图案。2.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述待测影像沿所述待测物的待测表面的垂直方向拍摄。3.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述参考影像延所述参考物的参考表面的垂直方向拍摄。4.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述参考影像为所述参考物的计算机辅助设计档案。5.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述第一特征图案包括：条形、圆形、椭圆形或其等效图形。6.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述第二特征图案包括：条形、圆形、椭圆形或其等效图形。7.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述叠纹图案包括：条形、圆形、椭圆形或其等效图形。8.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，更包括对所述待测影像进行二值化处理。9.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，更包括对所述参考影像进行二值化处理。10.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述叠加影像方式为以图像处理方法形成所述待测叠影影像或形成所述参考叠影影像。11.根据权利要求1所述的量测方法，其特征在于，所述待测叠影影像与所述参考叠影影像以图...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎宇泰，林高祺，谢卓帆，吴登峻，彭成瑜，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：