压力传感器温度补偿方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种压力传感器温度补偿方法和检测装置。压力传感器温度补偿方法包括步骤：建立压力传感器的温度补偿回归方程：P＝f(p,t)，其中，p为压力信号，t为温度信号，P为压力，函数f(p,t)包括以下多项式：a0+a1t1+a2p1+a3t2+a4p2+a5tp，其中a0、a1、

【技术实现步骤摘要】
[0021]其中，a
10
、a
11
、
…
、a
14
为补偿系数；
[0022]在所述步骤S300中，用所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)拟合所述多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
k
)，以确定各个补偿系数a0、a1、
…
、a
14
的数值。
[0023]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述压力传感器温度补偿方法还包括步骤：
[0024]S510：获取所述压力传感器输出的压力信号p和所述温度传感器输出的温度信号t，并将获取的压力信号p和温度信号t的数据代入所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)，以计算出实际检测到的压力P。
[0025]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述步骤S300中还确定出各个补偿系数的假设值P
‑
value，并且所述压力传感器温度补偿方法还包括步骤：
[0026]S400：删除所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)中的补偿系数的假设值P
‑
value大于或等于预定阈值的项，以得到简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)。
[0027]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述压力传感器温度补偿方法还包括步骤：
[0028]S520：获取所述压力传感器输出的压力信号p和所述温度传感器输出的温度信号t，并将获取的压力信号p和温度信号t的数据代入所述简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)，以计算出实际检测到的压力P。
[0029]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述步骤S400中删除所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)中的补偿系数的假设值P
‑
value大于或等于0.05的项，以得到简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)。
[0030]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述步骤S200中，选取多个不同的采样压力P
i
，并且选取的所述多个不同的采样压力P
i
均匀地分布在预设的最高工作压力P
max
和预设的最低工作压力P
min
之间。
[0031]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，选取的所述多个不同的采样压力P
i
中最大的一个等于或稍小于预设的最高工作压力P
max
；并且选取的所述多个不同的采样压力P
i
中最小的一个等于或稍大于预设的最低工作压力P
min
。
[0032]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述步骤S200中，选取多个不同的采样温度T
j
，并且选取的所述多个不同的采样温度T
j
均匀地分布在预设的最高工作温度T
max
和预设的最低工作温度T
min
之间。
[0033]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，选取的所述多个不同的采样温度T
j
中最大的一个等于或稍小于预设的最高工作温度T
max
；并且选取的所述多个不同的采样温度T
j
中最小的一个等于或稍大于预设的最低工作温度T
min
。
[0034]根据本专利技术的另一个方面，提供一种检测装置，用于检测容器内的压力，所述检测装置包括：压力传感器，安装在所述容器上，适于输出与所述容器内的压力P相关的压力信号p；温度传感器，安装在所述容器上，适于输出与所述容器内的温度T相关的温度信号t；和计算装置，与所述压力传感器和所述温度传感器通信连接，用于获取所述压力信号p和所述温度信号t，所述计算装置适于根据前述压力传感器温度补偿方法计算所述容器内的压力P。
[0035]根据本专利技术的一个实例性的实施例，所述计算装置为包括处理器的微控制单元，
所述压力传感器和所述温度传感器被设计为所述微控制单元的外设。
[0036]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，所述压力传感器和所述温度传感器被集成为单个部件。
[0037]根据本专利技术的另一个实例性的实施例，在所述计算装置中嵌入有前述温度补偿回归方程P＝f(p,t)或简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)；所述计算装置根据嵌入的温度补偿回归方程P＝f(p,t)或简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)来计算所述容器内的压力P。
[0038]在根据本专利技术的前述各个实例性的实施例中，在温度补偿回归方程中增加了温度信号和压力信号的高次项，因此，能够有效地消除压力检测的非线性误差，提高了压力检测的精度。
[0039]通过下文中参照附图对本专利技术所作的描述，本专利技术的其它目的和优点将显而易见，并可帮助对本专利技术有全面的理解。
附图说明
[0040]图1显示根据本专利技术的一个实例性的实施例的检测装置的示意图。
具体实施方式
[0041]下面通过实施例，并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步具体的说明。在说明书中，相同或相似的附图标号指示相同或相似的部件。下述参照附图对本专利技术实施方式的说明旨在对本专利技术的总体专利技术构思进行解释，而不应当理解为对本专利技术的一种限制。
[0042]另外，在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本披露实施例的全面理解。然而明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。在其他情况下，公知的结构和装置以图示的方式体现以简化附图。
[0043]根据本专利技术的一个总体技术构思，提供一种压力传感器温度补偿方法，包括以下步骤：建立压力传感器的温度补偿回归方程：P＝f(p,t)，其中，p为压力传感器10输出的压力信号，t为温度传感器20输出的温度信号，P为压力，f(p,t)为关于p和t的函数，且函数f(p,t)包括以下多项式：a0+a1t1+a2p1+a3t2+a4p2+a5tp，其中，a0、a1、
…
、a5为补偿系数；通过实验预先获取压力传感器10和温度传感器20在不同采样压力P
i
和不同采样温度T
j
时输出的采样压力信号p
i
和采样温度信号t
j
，以获得多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
i
)，其中，i、j分别为不小于1的整数；用所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)拟合所述多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
k
)，以确定各个补偿系数a0、a1、
…
、a5的数值。
[0044]根据本专利技术的另一个总体技术构思，提供一种检测装置，用于检测容器内的压力。所述检测装置包括：压力传感器，安装在所述容器上，适于输出与所述容器内的压力P相关的压力信号p；温度传感器，安装在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种压力传感器温度补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：S100：建立压力传感器的温度补偿回归方程：P＝f(p,t),其中，p为压力传感器(10)输出的压力信号，t为温度传感器(20)输出的温度信号，P为压力，f(p,t)为关于p和t的函数，且函数f(p,t)包括以下多项式：a0+a1t1+a2p1+a3t2+a4p2+a5tp其中，a0、a1、
…
、a5为补偿系数；S200：通过实验预先获取压力传感器(10)和温度传感器(20)在不同采样压力P
i
和不同采样温度T
j
时输出的采样压力信号p
i
和采样温度信号t
j
，以获得多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
i
)，其中，i、j分别为不小于1的整数；S300：用所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)拟合所述多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
k
)，以确定各个补偿系数a0、a1、
…
、a5的数值。2.根据权利要求1所述的压力传感器温度补偿方法，其特征在于：所述函数f(p,t)还包括关于p和t的三次项：a6t3+a7p3+a8t2p+a9tp2其中，a6、a7、a8、a9为补偿系数；在所述步骤S300中，用所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)拟合所述多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
k
)，以确定各个补偿系数a0、a1、
…
、a9的数值。3.根据权利要求2所述的压力传感器温度补偿方法，其特征在于：所述函数f(p,t)还包括关于p和t的四次项：a
10
t4+a
11
p4+a
12
t3p+a
13
t2p2+a
14
t1p3其中，a
10
、a
11
、
…
、a
14
为补偿系数；在所述步骤S300中，用所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)拟合所述多个离散的采样点(p
i
,t
j
,P
k
)，以确定各个补偿系数a0、a1、
…
、a
14
的数值。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的压力传感器温度补偿方法，其特征在于，还包括步骤：S510：获取所述压力传感器(10)输出的压力信号p和所述温度传感器(20)输出的温度信号t，并将获取的压力信号p和温度信号t的数据代入所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)，以计算出实际检测到的压力P。5.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的压力传感器温度补偿方法，其特征在于：在所述步骤S300中还确定出各个补偿系数的假设值P
‑
value，并且所述压力传感器温度补偿方法还包括步骤：S400：删除所述温度补偿回归方程P＝f(p,t)中的补偿系数的假设值P
‑
value大于或等于预定阈值的项，以得到简化的温度补偿回归方程P＝f
’
(p,t)。6.根据权利要求5所述的压力传感器温度补偿方法，其特征在于，还包...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，陈波，赵学堂，黄亚超，程东，
申请(专利权)人：精量电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：