直线检测方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:37323453 阅读:10 留言:0更新日期:2023-04-21 23:03
本发明专利技术公开了一种直线检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质,该方法通过对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像;确定所述边缘检测图像中的初始线段,并对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段;基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值,其中,所述虚报值为所述扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值;在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段。采用本发明专利技术方法可以通过引入亥姆霍兹原理中的虚报值,实现快速且不引入误差地检测不同场景下图像的直线信息。景下图像的直线信息。景下图像的直线信息。

【技术实现步骤摘要】
直线检测方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本专利技术属于图像处理
,尤其涉及一种直线检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的快速发展,直线检测已经成为计算机视觉领域的核心研究内容之一,并已在很多领域有着广泛的应用。
[0003]目前,图像处理
已经存在很多有效的直线检测算法,但大部分是依赖于先验的边缘检测效果和精度参数输入,若边缘检测效果差或者精度参数设置不合理会直接导致直线检测失败,且就算有一个良好的边缘检测输入也容易发生误检测,引入不是直线的直线结果,而大部分场景下都要求实时的处理图像,对算法的处理速度也有一定要求。其中,现有基于梯度信息的直线检测方法通常根据梯度图中结果选取梯度较大值根据梯度方向进行生长,最终选取统一梯度方向的结果作为直线,但此方法检测速度慢,存在较多的误检测。
[0004]综上,如何快速且不引入误差地检测不同场景下图像的直线信息,已经成为图像处理
亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种直线检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质。旨在通过引入亥姆霍兹原理中的虚报值,实现快速且不引入误差地检测不同场景下图像的直线信息。
[0006]为了实现上述目的,本专利技术提供一种直线检测方法,所述直线检测方法包括:
[0007]对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像;
[0008]确定所述边缘检测图像中的初始线段,并对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段;
[0009]基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值,其中,所述虚报值为所述扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值;
[0010]在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段。
[0011]可选地,所述确定所述边缘检测图像中的初始线段的步骤,包括:
[0012]基于最小二乘法对所述边缘检测图像进行直线拟合处理,得到拟合线段;
[0013]在所述拟合线段的长度大于或者等于预设长度时,确定所述拟合线段为所述边缘检测图像中的初始线段。
[0014]可选地,所述对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段的步骤,包括:
[0015]确定所述初始线段上的多个像素点为第一像素点;
[0016]将与所述第一像素点之间的距离小于预设距离且未在所述初始线段上的像素点,作为第二像素点;
[0017]将所述第二像素点与所述初始线段进行连接,得到所述扩展线段。
[0018]可选地,在所述基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值的步骤之前,所述方法还包括:
[0019]分别计算所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度强度;
[0020]基于多个所述梯度强度,分别计算所述扩展线段上的多个像素点各自对应的所述梯度方向。
[0021]可选地,所述基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值的步骤,包括:
[0022]基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段的平均梯度方向;
[0023]基于多个所述梯度方向和所述平均梯度方向,确定所述扩展线段上的多个像素点中的正常像素点和异常像素点;
[0024]基于所述正常像素点的数量、所述异常像素点的数量和所述扩展线段的长度,计算所述扩展线段对应的虚报值。
[0025]可选地,所述基于多个所述梯度方向和所述平均梯度方向,确定所述扩展线段上的多个像素点中的正常像素点和异常像素点的步骤,包括:
[0026]分别计算所述梯度方向与所述平均梯度方向之间的角度差;
[0027]在所述角度差在所述预设范围时,确定所述角度差对应的像素点为所述正常像素点;
[0028]在所述角度差未在所述预设范围内时,确定所述角度差对应的像素点为所述异常像素点。
[0029]可选地,在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段的步骤之后,所述方法还包括:
[0030]输出所述目标线段,并基于所述目标线段生成所述原始图像对应的目标图像。
[0031]此外,为实现上述目的,本专利技术还提供一种直线检测装置,所述直线检测装置包括:
[0032]边缘检测模块,对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像;
[0033]线段扩展模块,确定所述边缘检测图像中的初始线段,并对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段;
[0034]虚报值模块,基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值,其中,所述虚报值为所述扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值;
[0035]目标线段模块,在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段。
[0036]此外,为实现上述目的,本专利技术还提供一种终端设备,所述终端设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的直线检测程序,所述终端设备的直线检测程序被所述处理器执行时实现如上所述的直线检测方法的步骤。
[0037]此外,为实现上述目的,本专利技术还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有直线检测程序,所述直线检测程序被处理器执行时实现如上所述的直线检测方法的步骤。
[0038]本专利技术实施例提出的一种直线检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质,所述方法通过对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像;确定所述边缘检测图像中的初始线段,并对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段;基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值,其中,所述虚报值为所述扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值;在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段。
[0039]本专利技术实施例通过任意边缘检测方法对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像,然后,确定边缘检测图像中的初始线段,并对该初始线段进行像素遍历扩展,即向初始线段的四周遍历像素,从而得到扩展线段,基于该扩展线段上的各像素点各自的梯度方向,计算出该扩展线段的虚报值,其中,虚报值为该扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值,并且,在该虚报值小于预设阈值时,确定该扩展线段为最终保留的目标线段。如此,本专利技术通过引入亥姆霍兹原理中的虚报值,实现了快速且不引入误差地检测不同场景下图像的直线信息。
附图说明
[0040]图1是本专利技术实施例方案涉及的终端设备硬件运行环境的设备结构示意图;
[0041]图2为本专利技术直线检测方法第一实施例的步骤流程示意图;
[0042]图3为本专利技术直线检测方法的一实施例所涉及的原始图像示意图;
[0043]图4为本专利技术直线检测方法的一实施例所涉及的边缘检测图像示意图;
[0044]图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直线检测方法,其特征在于,所述直线检测方法包括:对原始图像进行边缘检测处理,得到边缘检测图像;确定所述边缘检测图像中的初始线段,并对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段;基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值,其中,所述虚报值为所述扩展线段上梯度方向在预设范围内的像素点的期望值;在所述虚报值小于预设阈值时,确定所述扩展线段为目标线段。2.如权利要求1所述的直线检测方法,其特征在于,所述确定所述边缘检测图像中的初始线段的步骤,包括:基于最小二乘法对所述边缘检测图像进行直线拟合处理,得到拟合线段;在所述拟合线段的长度大于或者等于预设长度时,确定所述拟合线段为所述边缘检测图像中的初始线段。3.如权利要求1所述的直线检测方法,其特征在于,所述对所述初始线段进行像素遍历扩展,得到扩展线段的步骤,包括:确定所述初始线段上的多个像素点为第一像素点;将与所述第一像素点之间的距离小于预设距离且未在所述初始线段上的像素点,作为第二像素点;将所述第二像素点与所述初始线段进行连接,得到所述扩展线段。4.如权利要求1所述的直线检测方法,其特征在于,在所述基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值的步骤之前,所述方法还包括:分别计算所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度强度;基于多个所述梯度强度,分别计算所述扩展线段上的多个像素点各自对应的所述梯度方向。5.如权利要求1所述的直线检测方法,其特征在于,所述基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的梯度方向,计算所述扩展线段对应的虚报值的步骤,包括:基于所述扩展线段上的多个像素点各自对应的所述梯度方向,计算所述扩展线段的平均梯度方向;基于多个所述梯度方向和所述平均梯度方向,确定所述扩展线段上的多个像素点中...

【专利技术属性】
技术研发人员:余世杰
申请(专利权)人:深圳创维新世界科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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