一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法技术

本发明专利技术提供一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法。一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法包括：S1、用固定装置固定激光水平仪；S2、远程启动激光水平仪；S3、通过定位装置对激光水平仪发射出的激光光线进行定位；S4、获取激光水平仪发出的激光光线的第一图像，并对激光光线的第一图像进行识别；S5、通过图像识别得到的激光光线的长宽比信息，判断激光水平仪椎镜的内部是否存在缺陷；S6、完成对激光水平仪锥镜的缺陷检测。本发明专利技术通过拍摄装置获取激光水平仪发出的激光光线的图像，并使用图像识别技术得到激光光线的长宽比信息，判断激光光线的长宽比是否在预设范围内，进而达到了激光水平仪对锥镜的内部进行检测的效果。锥镜的内部进行检测的效果。锥镜的内部进行检测的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法


[0001]本专利技术涉及电子设备缺陷检测
，特别地涉及一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]随着现代工业的不断发展，激光水平仪的应用越来越广泛，其中，激光水平仪上的锥镜是激光水平仪工作过程中，不可或缺的一个零件，可以对激光水平仪射出的激光光线进行一定的折射。
[0003]然而在对激光水平仪锥镜检测的方面还比较传统，多数激光水平仪产品的检测还是通过人工肉眼检测激光水平仪照射在白纸上的激光光线，来判断激光水平仪锥镜的缺陷，在人们长时间的工作下，可能会对人眼造成一定的影响。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本申请提供一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，以解决上述
技术介绍
中存在的技术问题。
[0005]本专利技术的技术方案为：一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，包括：
[0006]S1：用固定装置固定激光水平仪；
[0007]S2：远程启动激光水平仪；
[0008]S3：通过定位装置对激光水平仪发射出的激光光线进行定位；
[0009]S4：获取激光水平仪发出的激光光线的第一图像，并对激光光线的第一图像进行识别；
[0010]S5：通过图像识别得到的激光光线的长宽比信息，判断激光水平仪椎镜的内部是否存在缺陷，若是，则将该激光水平仪椎镜标记为内部缺陷产品；
[0011]在步骤S5中，判断激光水平仪椎镜的内部是否存在缺陷，包括：
[0012]S51：获取激光光线的长宽比信息；r/>[0013]S52：判断激光光线的长宽比是否在0.15
‑
0.25之间，若是，则该激光水平仪椎镜不存在缺陷，若不是，则该激光水平仪椎镜的内部存在缺陷，并标记为内部缺陷产品；
[0014]S6：完成对激光水平仪锥镜的缺陷检测。
[0015]进一步地，对于步骤S4，包括：
[0016]S41：对待识别第一图像进行初步处理；
[0017]S42：通过图像识别技术对初步处理后的第一图像进行识别，得到激光光线的长宽比信息。
[0018]进一步地，还包括：
[0019]S71：控制摄像头与激光水平仪之间的距离为预设距离；
[0020]S72：获取激光水平仪发出的激光光线的第二图像；
[0021]S73：将激光水平仪发出的激光光线的第二图像转换为灰度图像；
[0022]S74：将灰度图像转换为第一二值图像；
[0023]S75：根据第一二值图像的图像特征，判断第一二值图像主线附近是否存在杂线、细线和光斑，若存在，则标记为表面缺陷产品。
[0024]进一步地，还包括：
[0025]S81：远程关闭激光水平仪，取出激光水平仪，随后取下激光水平仪锥镜，并固定在旋转台上；
[0026]S82：获取激光水平仪锥镜的第三图像；
[0027]S83：对判断旋转台的旋转次数进行记录，判断旋转台的旋转次数是否小于4次，若是，则控制旋转台顺时针旋转90度，并跳至步骤S82，若不是，则跳至步骤S84；
[0028]S84：将获取的激光水平仪锥镜的第三图像转化为第二二值图像；
[0029]S85：将多个第二二值图像进行重合，若有无法进行重合的线段，则将该激光水平仪椎镜标记为边缘缺陷产品，若多个第二二值图像可以完全重合，则该激光水平仪椎镜的边缘无缺陷。
[0030]进一步地，还包括：
[0031]S91：取下激光水平仪外侧的透明保护壳，并放置在有平行光的平台上，平行光穿过透明保护壳最终照射在白纸上；
[0032]S92：获取照射在白纸上的透明保护壳的图像；
[0033]S93：将照射在白纸上的透明保护壳的图像转换为灰度图像；
[0034]S94：将灰度图像转换为第三二值图像；
[0035]S95：识别第三二值图像的图像特征，若图像上有暗斑、光斑、细线和粗线中任意的一种现象，则标记为不合格透明保护壳，并更换透明保护壳，并跳至步骤S92，若图像上除了边缘线无异样，则标记为合格透明保护壳，跳至步骤S96；
[0036]S96：将标记为合格透明保护壳的透明保护壳安装在激光水平仪的外侧。
[0037]进一步地，还包括：
[0038]S101：将激光水平仪锥镜放置在平行光线前；
[0039]S102：获取平行光线的原始光强；
[0040]S103：测量入射激光水平仪锥镜后的平行光线光强；
[0041]S104：根据入射后的光强和原始光强，计算激光水平仪锥镜的透光率；
[0042]S105：根据激光水平仪锥镜的透光率，计算激光水平仪锥镜的光密度；
[0043]S106：判断透光率和光密度是否在预设范围内，若是，则该激光水平仪锥镜的透光率合格，若不是，则将该激光水平仪锥镜标记为透光率不合格。
[0044]进一步地，对于步骤S104，激光水平仪锥镜的透光率，包括：
[0045]激光水平仪锥镜的透光率公式如下：
[0046][0047]式中，A为透光率，S1为原始光强，S2为入射后的光强。
[0048]进一步地，对于步骤S105，激光水平仪锥镜的光密度，包括：
[0049]激光水平仪锥镜的光密度公式如下：
[0050][0051]式中，OD为光密度，A为透光率。
[0052]本专利技术具有以下优点：
[0053]1、本专利技术通过将激光水平仪放置在固定装置内，随后使用拍摄装置获取激光水平仪发出的激光光线的第一图像，并使用图像识别技术得到激光光线的长宽比信息，判断激光光线的长宽比是否在预设范围内，进而达到了激光水平仪对锥镜的内部进行检测的效果。
[0054]2、本专利技术通过调整拍摄装置与激光水平仪锥镜之间的距离，对获取的第二图像进行处理，观察进行处理后的第二图像的特征，进而达到了对激光水平仪锥镜的表面进行缺陷检测的效果，进一步增加了对激光水平仪锥镜缺陷检测的效率。
附图说明
[0055]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0056]图1为本专利技术一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法的流程示意图。
具体实施方式
[0057]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请部分实施例进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请的各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
[0058]实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，其特征在于，包括：S1：用固定装置固定激光水平仪；S2：远程启动激光水平仪；S3：通过定位装置对激光水平仪发射出的激光光线进行定位；S4：获取激光水平仪发出的激光光线的第一图像，并对激光光线的第一图像进行识别；S5：通过图像识别得到的激光光线的长宽比信息，判断激光水平仪椎镜的内部是否存在缺陷，若是，则将该激光水平仪椎镜标记为内部缺陷产品；在步骤S5中，判断激光水平仪椎镜的内部是否存在缺陷，包括：S51：获取激光光线的长宽比信息；S52：判断激光光线的长宽比是否在0.15
‑
0.25之间，若是，则该激光水平仪椎镜不存在缺陷，若不是，则该激光水平仪椎镜的内部存在缺陷，并标记为内部缺陷产品；S6：完成对激光水平仪锥镜的缺陷检测。2.如权利要求1所述的一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，其特征在于，对于步骤S4，包括：S41：对第一图像进行初步处理；S42：通过图像识别技术对初步处理后的第一图像进行识别，得到激光光线的长宽比信息。3.如权利要求2所述的一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，其特征在于，还包括：S71：控制摄像头与激光水平仪之间的距离为预设距离；S72：获取激光水平仪发出的激光光线的第二图像；S73：将激光水平仪发出的激光光线的第二图像转换为灰度图像；S74：将灰度图像转换为第一二值图像；S75：根据第一二值图像的图像特征，判断第一二值图像主线附近是否存在杂线、细线和光斑，若存在，则标记为表面缺陷产品。4.如权利要求3所述的一种激光水平仪锥镜的缺陷检测方法，其特征在于，还包括：S81：远程关闭激光水平仪，取出激光水平仪，随后取下激光水平仪锥镜，并固定在旋转台上；S82：获取激光水平仪锥镜的第三图像；S83：对判断旋转台的旋转次数进行记录，判断旋转台的旋转次数是否小于4次，若是，则控制旋转台顺时针旋转90度，并跳至步骤S82，若不是，则跳至步骤S84；S84：将获取的激光水平仪锥镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢泽平，王德良，王金忠，
申请(专利权)人：杭州简并激光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：