基于仪表检测系统的仪表检测方法及系统技术方案

本申请提供基于仪表检测系统的仪表检测方法及系统，所述仪表检测系统包括被检设备以及标准设备，并且，被检设备与标准设备连接形成检测电路，在检测过程中首先进行一次正向测量，再对检测电路中至少一部分设备进行反向测量，再根据正向测量以及反向测量的结果消除检测线路中的接触电势差。本申请提供的方法以及仪表检测系统在检测过程中仅需要调整供电方向，而不需要多次接入或者移除设备，并且，在未测量接触电势差的情况下即可将之消除，从而提高消除误差的准确度。高消除误差的准确度。高消除误差的准确度。

【技术实现步骤摘要】
基于仪表检测系统的仪表检测方法及系统


[0001]本申请属于计量校验领域，特别涉及一种基于仪表检测系统的仪表检测方法及系统。

技术介绍

[0002]用于压力、温度、过程等领域，具有发出电压信号和/或测量电压信号的仪器仪表类装备，例如，变送器、传感器、配合传感器或者探头等使用的表头、校验仪等，在出厂或者使用前均需进行校验，以便在实际使用中获得准确示值。
[0003]在对被检设备进行校验时，需要使用导线将被检设备与标准设备电连接，具体来说，若被检设备的被检通道用于发出电压信号，则需要将之与具有较高测量精确度的标准设备电连接，若被检设备的被检通道用于测量电压信号，则需要将之与具有产生较高精确度电压信号的标准设备电连接。
[0004]然而，通常来讲，被检设备以及标准设备中被连接入通路中的材料与导线的材料不同，因此，在检测电路中常会形成接触电势差。所述接触电势差为电路中两种不同的金属相互接触处在它们之间产生的电势差。具体地，是由于两种不同金属中的电子在接界处互相穿越的能力有差别，造成电子在界面两边的分布不均，缺少电子的一面带正电，过剩电子的一面带负电，当达到动态平衡后，建立在金属接界上的电势差即为接触电势差。
[0005]例如，被检通道产生电压信号，传递到标准设备时，标准设备上的实际电压U
S
如下式I所示：
[0006]U
S
＝U
T
+Δu
L
式I
[0007]其中，U
S
表示标准设备上的实际电压，U
T
表示被检通道处的实际电压，Δu
L
表示接触电势差。一般的，Δu
L
远小于被检通道的分度值，可以忽略不计，但是对于微电电压检测领域，由于被测电压信号较小，要求精确度较高，例如，量程仅为0～10mV，Δu
L
可能达到被检通道的分度值量级，因此，Δu
L
则不能被忽略，特别地，对于计量校验领域，对测量精确度的要求相对较高，Δu
L
所带来的偏差更需要进行补偿。
[0008]现有技术存在一种解决方案，在将被检设备接入检测电路之前，先将与被检设备功用相同的校验标准设备接入检测电路与原有标准设备形成检测电路，从而对Δu
L
进行直接测量，测量完成后，再将校验标准设备移除，将被检设备接入检测电路，再根据前述Δu
L
测量结果对被检设备的实测示值进行补偿。然而，由于该方案需要对校验标准设备检测一次，再对被检设备再检测一次，因此，不仅将导致检测量翻倍，而且需要在标准设备与被检设备之间进行切换，特别地，对于待检仪表数量在数百块以上数量级的批量检测，该方案难以实现自动化操作，严重制约检测速度。

技术实现思路

[0009]为解决现有技术中存在的问题，本申请提供一种基于仪表检测系统的仪表检测方法及系统，所述仪表检测系统包括主控系统和至少一个检测电路，所述检测电路包括标准
设备并接入被检设备，所述主控系统控制所述标准设备与所述被检设备进行至少两轮检测，其中，第一轮检测中，信号产生设备对所述检测电路施加第一信号，信号测量设备检测所述第一信号获得第一测量结果，所述信号产生设备为所述标准设备与所述被检设备中的任一种，所信号测量设备为所述标准设备与所述被检设备中的另一个；第二轮检测中，信号产生设备对检测电路施加第二信号，信号测量设备检测所述第二信号获得第二测量结果，所述第二信号与所述第一信号相反；基于所述第一信号、第一测量结果、第二信号以及第二测量结果计算接触电势差，进而对被检设备的测试结果进行校正，所述方法能够实现自动检测所述被检设备在所述检测电路中的接触电势差，无需引入检验标准设备，简化操作，在对大量被检设备进行检测过程中节省大量时间成本。
[0010]本申请的目的在于提供以下几个方面：
[0011]第一方面，本申请提供一种基于仪表检测系统的仪表检测方法，所述仪表检测系统包括主控系统和至少一个检测电路，所述检测电路包括第一标准设备，所述第一标准设备包括第一信号产生设备或者第一信号测量设备中的一种，所述仪表检测系统用于对第一被检设备进行检测，所述第一被检设备包括所述第一信号产生设备或者所述第一信号测量设备中的另一种，所述仪表检测方法包括：控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第一电信号，所述第一信号测量设备测量所述第一电信号，获取第一测量结果，向所述主控系统发送所述第一测量结果；控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第二电信号，所述第一信号测量设备测量所述第二电信号，获取第二测量结果，向所述主控系统发送所述第二测量结果，其中，所述第二电信号与所述第一电信号相反；所述主控系统根据所述第一测量结果与所述第二测量结果计算所述检测电路的接触电势差；所述主控系统基于所述检测电路对第一被检设备进行检测，获得第一检测结果，根据所述接触电势差对所述第一检测结果进行补偿。
[0012]本申请提供的方法在所述检测电路中施加方向相反的两个电信号，针对每个电信号均获得一个测量结果，在理想情况下，两个测量的结果之间的差值即为二倍的接触电势差，在确定接触电势差后即可对所述被检设备按照测试任务进行测试，获得测试结果，再根据所述接触电势差对所述测试结果进行校正，从而实现在不额外引入检验标准设备的情况下在线获取所述被检设备在所述检测电路中的接触电势差，一方面极大地简化确定接触电势差的操作，另一方面，还可以避免于检验标准设备与被检设备的不同而引入的误差。可以理解的是，对所述被检设备进行测试，与确定接触电势差的步骤可以互换，即，可以先对被检设备按照测试任务进行测试，在测试结束后再按照本申请提供的方法确定所述被检设备在所述检测电路中的接触电势差。
[0013]结合第一方面所述的仪表检测方法，所述的控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第一电信号，包括：控制所述第一信号产生设备正接于所述检测电路，所述第一信号产生设备产生所述第一电信号；所述的控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第二电信号，包括：控制所述第一信号产生设备反接于所述检测电路，所述第一信号产生设备产生所述第一电信号。
[0014]在本申请中，通过切换连接方向，可以使得，在第一信号产生设备产生相同电信号，不会引入信号误差的情况下，检测电路上通过相反的电信号，从而进一步提高了对接触电势差的测量精确度。
[0015]结合第一方面所述的仪表检测方法，所述的控制所述第一信号测量设备测量所述第一电信号，包括：控制所述第一信号测量设备正接于所述检测电路，所述第一信号测量设备对所述检测电路传递的电信号进行测量；所述的所述第一信号测量设备测量所述第二电信号，包括：控制所述第一信号测量设备反接于所述检测电路，所述第一信号测量设备对所述检测电路传递的电信号进行测量。
[0016]在本申请中，通过切换连接方向，一方面，检测电路上实际通过了相反的电信号，便于在计算中消除信号本身的影响，另一方面，第一信号测量设备实际测量的电信号非常接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于仪表检测系统的仪表检测方法，其特征在于，所述仪表检测系统包括主控系统和至少一个检测电路，所述检测电路包括第一标准设备，所述第一标准设备包括第一信号产生设备或者第一信号测量设备中的一种，所述仪表检测系统用于对第一被检设备进行检测，所述第一被检设备包括所述第一信号产生设备或者所述第一信号测量设备中的另一种，所述仪表检测方法包括：控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第一电信号，所述第一信号测量设备测量所述第一电信号，获取第一测量结果，向所述主控系统发送所述第一测量结果；控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第二电信号，所述第一信号测量设备测量所述第二电信号，获取第二测量结果，向所述主控系统发送所述第二测量结果，其中，所述第二电信号与所述第一电信号相反；所述主控系统根据所述第一测量结果与所述第二测量结果计算所述检测电路的接触电势差；所述主控系统基于所述检测电路对第一被检设备进行检测，获得第一检测结果，根据所述接触电势差对所述第一检测结果进行补偿。2.根据权利要求1所述的仪表检测方法，其特征在于，所述的控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第一电信号，包括：控制所述第一信号产生设备正接于所述检测电路，所述第一信号产生设备产生所述第一电信号；所述的控制所述第一信号产生设备对所述检测电路施加第二电信号，包括：控制所述第一信号产生设备反接于所述检测电路，所述第一信号产生设备产生所述第一电信号。3.根据权利要求1所述的仪表检测方法，其特征在于，所述的控制所述第一信号测量设备测量所述第一电信号，包括：控制所述第一信号测量设备正接于所述检测电路，所述第一信号测量设备对所述检测电路传递的电信号进行测量；所述的所述第一信号测量设备测量所述第二电信号，包括：控制所述第一信号测量设备反接于所述检测电路，所述第一信号测量设备对所述检测电路传递的电信号进行测量。4.根据权利要求1或2所述的仪表检测方法，其特征在于，所述第一标准设备包括所述第一信号产生设备和第二信号测量设备，所述仪表检测系统还用于对第二被检设备进行检测，所述第二被检设备包括第二信号产生设备，所述仪表检测方法还包括：控制所述第二被检设备正接于所述检测电路，所述第二被检设备产生第三电信号，控制所述第一被检设备正接于所述检测电路，所述第一被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第三测量结果，向所述主控系统发送所述第三测量结果，所述第三电信号与所述第一电信号相同；控制所述第二被检设备反接于所述检测电路，所述第二被检设备产生所述第三电信号，控制所述第一被检设备正接于所述检测电路，所述第一被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第四测量结果，向所述主控系统发送所述第四测量结果；控制所述第二被检设备正接于所述检测电路，所述第二被检设备产生所述第三电信号，所述第一标准设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第五测量结果，向所述主控系统发送所述第五测量结果；控制所述第二被检设备反接于所述检测电路，所述第二被检设备产生所述第三电信
号，所述第一标准设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第六测量结果，向所述主控系统发送所述第六测量结果；所述主控系统根据所述第一电信号、所述第二电信号、所述第三电信号、所述第一测量结果、所述第二测量结果、所述第三测量结果、所述第四测量结果、所述第五测量结果、所述第六测量结果计算所述检测电路的接触电势差。5.根据权利要求1或3所述的仪表检测方法，其特征在于，所述第一标准设备包括所述第一信号测量设备和第三信号发生设备，所述仪表检测系统还用于对第三被检设备进行检测，所述第三被检设备包括第三信号测量设备，所述仪表检测方法还包括：控制所述第一被检设备正接于所述检测电路，所述第一被检设备产生第四电信号，控制所述第三被检设备正接于所述检测电路，所述第三被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第七测量结果，向所述主控系统发送所述第七测量结果，所述第四电信号与所述第一电信号相同；控制所述第一被检设备正接于所述检测电路，所述第一被检设备产生第五电信号，控制所述第三被检设备反接于所述检测电路，所述第三被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第八测量结果，向所述主控系统发送所述第八测量结果，其中，所述第五电信号与所述第二电信号相同；控制所述第一标准设备对所述检测电路施加所述第四电信号，控制所述第三被检设备正接于所述检测电路，所述第三被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第九测量结果，向所述主控系统发送所述第九测量结果；控制所述第一标准设备对所述检测电路施加所述第五电信号，控制所述第三被检设备反接于所述检测电路，所述第三被检设备对所述检测电路传递的电信号进行测量，获取第十测量结果，向所述主控系统发送所述第十测量结果；所述主控系统根据所述第一电信号、所述第二电信号、所述第四电信号、所述第五电信号、所述第一测量结果、所述第二测量结果、所述第七测量结果、所述第八测量结果、所述第九测量结果和第所述十测量结果计算所述检测电路的接触电势差。6.根据权利要求1至3任一项所述的仪表检测方法，其特征在于，基于所述检测电路对第一被检设备进行检测，包括，...

【专利技术属性】
技术研发人员：季伟，任克强，朱家添，马良，黄大鹏，
申请(专利权)人：北京康斯特仪表科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：