一种自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置，本发明专利技术通过设置0校正板(8)和1校正板(9)，在使用过程中通过给调频连续太赫兹波信号提供无反射基准和全反射基准，从而实现对信号的非线性校正，同时根据测距传感器(7)实时测量的检测探头(5)与被测面的距离来调整检测探头(5)与被测面的距离，使被测样品处于检测探头(5)的检测范围内，实现最佳测试距离，以此来提高检测精度与成像质量。以此来提高检测精度与成像质量。以此来提高检测精度与成像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置


[0001]本专利技术属于太赫兹波无损检测
，具体涉及一种自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置。

技术介绍

[0002]近年来，太赫兹成像技术的研究越来越成熟，成像方法多种多样，但其应用主要集中在安全检测、生物医学和无损检测这3个领域。太赫兹波能量低，太赫兹辐射的光子能量只有X射线(千电子伏特)的百万分之一,不会对物体尤其是生物组织产生危害。太赫兹波对非极性液体和多数介电材料都具有良好的透过性，且对大多数非金属材料具有良好的透过性，如塑料、布料、脂肪、碳板、陶瓷等物质。这使得太赫兹波可对这些物体和材料进行隐蔽物成像与无损检测，是X射线成像和超声波成像技术的有效补充。
[0003]调频连续波探测技术基于飞行时间原理，通过测量往返于探测器和目标间的时间实现对目标的纵向距离探测，将时间信号加载于回波信号和载波信号混频后所得到的中频信号的频率信号之中，可以获得极高的抗环境光干扰能力和探测能力，可以解决有人工有源信号对目标信号干扰严重的问题。同时，调频连续波技术属于非相干探测方式，避免了光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置，其特征在于包括：支撑台(1)，用于对整个扫描成像装置起支撑作用；检测探头(5)，用于产生和探测调频连续太赫兹波，并且能够沿X、Y、Z三个直角坐标轴方向往复运动；准光单元(6)，用于对检测探头(5)产生的调频连续太赫兹波进行准直与调整；测距传感器(7)，用于测量检测探头(5)与被测面的距离；0校正板(8)，所述0校正板(8)放置于支撑台(1)上并且被测样品放置于0校正板(8)上，用于实现扫描过程中的0校正，从而为反射信号提供无反射信号基准；1校正板(9)，所述1校正板(9)放置于支撑台(1)上，与0校正板(8)相邻，用于实现扫描过程中的1校正，从而为反射信号提供全反射信号基准；控制模块，用于控制整个扫描成像装置的操作，根据所述无反射信号基准和全反射信号基准对探测数据进行实时非线性矫正，并根据测距传感器(7)实时测量的检测探头(5)与被测面的距离来调整检测探头(5)与被测面的距离，使被测样品处于检测探头(5)的检测范围内。2.按照权利要求1所述的自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置，其中所述使被测样品处于检测探头(5)的检测范围内包括使被测样品尽可能处于检测探头(5)的焦平面上。3.按照权利要求1所述的自动校正的调频连续波无损检测扫描成像装置，其中检测探头(5)为调频连续太赫兹波收发一体集成式探头，工作方式为反射式...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘德峰，刘伟，于淼，佘婷，朱永波，高云端，马彬彬，郝丛静，
申请(专利权)人：北京长城航空测控技术研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：