一种测试数据的提取方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及测试数据处理技术领域，特别是涉及一种测试数据的提取方法及系统，该方法包括获取测试数据Data的N个测试条目E，提取E中测试对象名称和测试指标得到P种关联测试项；对AT中每种关联测试项关联的所有测试值进行预处理，滤除无效数据得到预处理后的P种有效测试值集合；对P种有效测试值集合中的噪声分别进行过滤，得到P种目标测试值集合；根据GU获取P种关联测试项的测试值分布指标，根据AT和DIS生成关联测试项和测试值分布指标的映射关系表，以呈现出测试数据中每种关联测试项的测试结果，便于用户直观掌握测试结果的有效数据。据。据。

【技术实现步骤摘要】
一种测试数据的提取方法及系统


[0001]本专利技术涉及测试数据处理
，特别是涉及一种测试数据的提取方法及系统。

技术介绍

[0002]晶圆测试是指晶体上的每个晶粒进行针测，测试每个晶粒的功能和电气特性。其中晶圆中的每个晶粒是一个芯片，在芯片测试的过程中会产生大量的数据。具体的，一个晶圆包括多个晶粒，每个晶粒包括多个测试指标，每个测试指标又对应多项功能或者电气特性的测试，在测试的过程中单项指标又会进行多次测试，因此会产生大量的测试数据。在面对庞大的测试数据时，用户很难从测试结果中直接获取到有效的信息。

技术实现思路

[0003]针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种测试数据的提取方法，所述提取方法包括：S100，获取测试数据Data，所述Data包括N个测试条目E＝{E1,E2,
…
,E
i
,
…
,E
N
}，E
i
为第i个测试条目，i的取值范围为1到N；E
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包括第q种测试指标TRr/>q
、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试数据的提取方法，其特征在于，所述提取方法包括：S100，获取测试数据Data，所述Data包括N个测试条目E＝{E1,E2,
…
,E
i
,
…
,E
N
}，E
i
为第i个测试条目，i的取值范围为1到N；E
i
包括第q种测试指标TR
q
、第f种测试对象名称TA
f
和M个测试点位上TR
q
的测试值；S300，提取E中测试对象名称和测试指标得到P种关联测试项AT＝{AT1,AT2,
…
,AT
p
,
…
,AT
P
}，AT
p
＝{TA
f
,TR
q
},AT
p
为第p种关联测试项，p的取值范围为1到P；S500，对AT中每种关联测试项关联的所有测试值进行预处理，滤除无效数据得到预处理后的P种有效测试值集合；S700，对P种有效测试值集合中的噪声分别进行过滤，得到P种目标测试值集合GU＝{GU1,GU2,
…
,GU
p
,
…
,GU
P
}，GU
p
为AT
p
关联的目标测试值集合；其中获取GU
p
的步骤包括：S710，计算第r
‑
1次过滤噪声后的有效测试值集合的均值μ和标准差σ，根据μ和σ得到第r次过滤的预期范围(μ
‑
hσ,μ+hσ)，其中r大于1，h为预设系数；S730，当第r
‑
1次过滤噪声后的有效测试值集合中所有测试值都在预期范围内，则得到目标测试值集合GU
p
；否则，过滤掉在预期范围外的测试值，得到第r次过滤噪声后的有效测试值集合；根据第r次过滤噪声后的有效测试值集合再次执行S710和S730；S900，根据GU获取P种关联测试项的测试值分布指标DIS＝{DIS1,DIS2,
…
,DIS
p
,
…
,DIS
P
}，DIS
p
为AT
p
的测试值分布指标，DIS
p
包括GU
p
的趋势度量值ME
p
和GU
p
的标准差；根据AT和DIS生成关联测试项和测试值分布指标的映射关系表。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S500包括：S510，获取AT中每种关联测试项中测试指标的最小阈值{THN1,THN2,
…
,THN
p
,
…
,THN
P
}和最大阈值{THX1,THX2,
…
,THX
p
,
…

【专利技术属性】
技术研发人员：侯文婷，
申请(专利权)人：北京新享科技有限公司，
类型：发明
国别省市：