一种显微镜用抽拉式子母样品传递托制造技术

本申请涉及一种显微镜用抽拉式子母样品传递托，特别是用于扫描隧道显微镜STM、非接触式原子力显微镜NC

【技术实现步骤摘要】
一种显微镜用抽拉式子母样品传递托


[0001]本申请涉及一种显微镜用抽拉式子母样品传递托，特别涉及用于扫描隧道显微镜STM、非接触式原子力显微镜NC
‑
AFM的抽拉式子母样品传递托。

技术介绍

[0002]在现代物理研究中，扫描隧道显微镜(STM)和非接触式原子力显微镜(NC
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AFM)起到越来越重要的作用：
[0003]其中，扫描隧道显微镜(STM)利用针尖和样品间距达到纳米甚至埃(10
‑
10
m)量级时的隧穿电流来探测样品表面的局域电子态信息，可实现表面原子级高分辨成像，在表面分析领域有广泛的应用；
[0004]非接触式原子力显微镜(NC
‑
AFM)利用针尖与样品间距达到纳米甚至埃(10
‑
10
m)量级时的相互作用力随距离的变化来探测样品表面实空间形貌，同时在原子级分辨表征、化学键识别、探测电荷密度分布、实现原子级精确操纵并构造纳米尺度器件等领域都有重要的应用。
[0005]由此可见，在实现STM和NC...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显微镜用抽拉式子母样品传递托，包括：母样品托，其包括第一表面和与所述第一表面相反侧的第二表面，在所述第一表面上设置有卡槽；子样品托，其能够以与所述卡槽匹配的方式被插入所述母样品托中。2.根据权利要求1所述的显微镜用抽拉式子母样品传递托，其中，所述母样品托是旗型样品托。3.根据权利要求1所述的显微镜用抽拉式子母样品传递托，其中，所述母样品托的所述第一表面是可用来焊接待表征样品的样品承载部。4.根据权利要求1所述的显微镜用抽拉式子母样品传递托，其中，所述卡槽包括凹槽与通孔；其中，所述凹槽设置在所述第一表面上，凹槽边缘设置有沿旗型样品托竖直方向贯穿的通孔，所述通孔与凹槽配合，共同组成对插入其中的子样品托具有限位作用的嵌槽。5.根据权利要求1所述的显微镜用抽拉式子母样品传递托，其中，所述子样品托，包括：第一单元，所述第一单元包括子样品托手柄；...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彦，郑琦，黄立，林晓，高鸿钧，
申请(专利权)人：中国科学院大学，
类型：发明
国别省市：