连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统，其中，性能测试装置包括配合间隙调控装置，用于调整两块测试板之间的连接器配合间隙，配合间隙调控装置包括框架和三维定位机构，用于调整两块测试板之间的位移量从而得到两块测试板的连接器配合间隙数据；测试分析装置，用于向两块测试板发送性能测试指令，还用于接收两块测试板根据性能测试指令返回的性能数据，以及接收两块测试板的电路板类型和连接器配合间隙数据。本发明专利技术实施例通过测试分析装置测试连接器在不同配合间隙情况下，测试板之间进行数据传输的性能数据，从而得到不同测试板、不同配合间隙下对应的性能数据，为后续的性能分析提供相关的测试数据。数据。数据。

【技术实现步骤摘要】
连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统


[0001]本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种连接器配合间隙的性能测试装置及性能数据系统。

技术介绍

[0002]随着通讯设备高带宽传输、高性能计算的需求的快速增加，高速系统架构中业务板或线卡与网板间的信号速率和带宽要求越来越高。对于系统架构，机框或机柜以及单板或网板的设计公差和变形累积会不可避免地在连接器的配合界面产生非理想的应用场景，即连接器在非完全配合状态(de
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mate或offset)下工作，这个非完全配合距离(Demating值)会引起连接器在高频段的高速信号完整性能的劣化。
[0003]目前，业界主要通过对通道预留较大的余量来被动地减小系统业务在实际工况下由于连接器的非完全配合状态而受到的影响，但是，随着速率的提升，通道余量越发紧张，如何在实际工况下获得连接器的高速性能数据，从而指导业务通道的建设和调整，成为业界需要解决的问题。

技术实现思路

[0004]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种连接器配合间隙的性能测试装置，用于承载第一测试板和第二测试板，所述第一测试板和第二测试板通过连接器连接，其特征在于，所述测试装置包括：配合间隙调控装置，用于调整两块测试板之间的连接器配合间隙，所述配合间隙调控装置包括框架和三维定位机构，所述三维定位机构固定于所述框架，所述三维定位机构用于调整所述两块测试板之间的位移量从而得到所述两块测试板的连接器配合间隙数据；测试分析装置，用于与所述两块测试板信号连接，并向所述两块测试板发送性能测试指令，所述测试分析装置还用于接收所述两块测试板根据所述性能测试指令返回的性能数据，以及接收所述两块测试板的电路板类型和所述连接器配合间隙数据。2.根据权利要求1所述的性能测试装置，其特征在于，所述三维定位机构包括x轴调节机构、y轴调节机构、z轴调节机构、第一固定件和第二固定件，所述第一固定件和所述第二固定件用于分别固定所述第一测试板和所述第二测试板，所述第一固定件、所述y轴调节机构和所述x轴调节机构依次连接，所述第二固定件和所述z轴调节机构连接。3.根据权利要求2所述的性能测试装置，其特征在于，具有以下至少之一：所述x轴调节机构包括x轴丝杆和x轴滑块，所述x轴丝杆的端部设置有第一调节把手和第一锁定部，分别用于调整和锁定x轴方向的位移量；所述y轴调节机构包括y轴丝杆和y轴滑块，所述y轴丝杆的端部设置有第二调节把手和第二锁定部，分别用于调整和锁定y轴方向的位移量；所述z轴调节机构包括z轴丝杆和z轴滑块，所述z轴丝杆的端部设置有第三调节把手和第三锁定部，分别用于调整的锁定z轴方向的位移量。4.根据权利要求2所述的性能测试装置，其特征在于，所述第一固定件包括第一支架和第一承载台，所述第一支架与所述y轴调节机构连接，所述第一承载台固定于所述第一支架并用于承载所述第一测试板。5.根据权利要求4所述的性能测试装置，其特征在于，在所述第二测试板作为背板与所述第一测试板连接的情况下，所述第一承载台所在的平面垂直于z轴方向；在所述第一测试板和所述第二测试板正交连接的情况下，所述第一承载台所在的平面平行于z轴方向。6.根据权利要求2所述的性能测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：毕煜，易毕，张馨丹，任永会，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：