一种天线校准性能检测方法、基站及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种天线校准性能检测方法、基站及装置，涉及通信技术领域，上述方法包括在待发射信号中的预设位置处添加用于进行天线校准性能检测的第一序列，得到第一信号；发射第一信号，并回收发射后的第一信号，作为第二信号；从第二信号中的预设位置处提取第二序列；对第二序列进行天线校准处理，得到第三序列；分别获取第一序列对应的第一相位以及第三序列对应的第三相位；基于第一相位与第三相位之间的相位差，获得天线校准性能的检测结果。应用本发明专利技术实施例提供的方案可以对天线校准的性能进行检测。准的性能进行检测。准的性能进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种天线校准性能检测方法、基站及装置


[0001]本专利技术涉及通信
，特别是涉及一种天线校准性能检测方法、基站及装置。

技术介绍

[0002]在基站对信号进行基带处理和将信号传输到空口过程中，受到器件结构、器件工作频率、器件工作时间以及工作环境的电磁干扰、温度、湿度等干扰因素的影响，发射的信号的相位可能会随之改变。并且基站的不同天线受到的干扰因素不同，不同天线发送的信号的相位受到干扰的情况不同，为了保证各个天线发射的信号相位的一致性，需要对所发射的信号进行天线校准，以抵消干扰因素对信号的影响。
[0003]为了确定天线校准是否得到了较好的效果，需要对天线校准的性能进行检测。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的在于提供一种天线校准性能检测方法、基站及装置，以对天线校准的性能进行检测。具体技术方案如下：
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种天线校准性能检测方法，所述方法包括：
[0006]在待发射信号中的预设位置处添加用于进行天线校准性能检测的第一序列，得到第一信号，其中，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线校准性能检测方法，其特征在于，所述方法包括：在待发射信号中的预设位置处添加用于进行天线校准性能检测的第一序列，得到第一信号，其中，所述第一序列包含：对应不同频率的频域分量；发射所述第一信号，并回收发射后的第一信号，作为第二信号；从所述第二信号中的所述预设位置处提取第二序列；对所述第二序列进行天线校准处理，得到第三序列；分别获取所述第一序列对应的第一相位以及所述第三序列对应的第三相位；基于所述第一相位与第三相位之间的相位差，获得天线校准性能的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第二序列进行天线校准处理，得到第三序列，包括：对所述第二序列进行信道估计处理，获得针对不同频点的校准因子；基于所述校准因子对信道估计处理前的第二序列进行天线校准处理，得到第三序列。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述校准因子对信道估计处理前的第二序列进行天线校准处理，得到第三序列，包括：将信道估计处理前的第二序列转换为频域数据；针对每一对应有频域数据的频点，采用与该频点相对应的校准因子对该频点对应的频域数据进行调整，得到第三序列。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一相位与第三相位之间的相位差，获得天线校准性能的检测结果，包括：针对每一频点，计算对应该频点的第一相位与对应该频点的第三相位之间的相位差；对计算得到的相位差进行统计，基于统计结果确定天线校准性能的检测结果。5.根据权利要求1
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3中任一项所述的方法，其特征在于，所述分别获取所述第一序列对应的第一相位以及所述第三序列对应的第三相位，包括：获取所述第一序列与第三序列对应的频域数据；基于第一序列对应的频域数据，获取所述第一序列对应的第一相位，并基于第三序列对应的频域数据，获取所述第三序列对应的第三相位。6.一种基站，其特征在于，包括存储器，收发机，处理器：存储器，用于存储计算机程序；收发机，用于在所述处理器的控制下收发数据；处理器，用于读取所述存储器中的计算机程序并执行以下操作：在待发射信号中的预设位置处添加用于进行天线校准性能检测的第一序列，得到第一信号，其中，所述第一序列包含：对应不同频率的频域分量；发射所述第一信号，并回收发射后的第一信号，作为第二信号；从所述第二信号中的所述预设位置处提取第二序列；对所述第二序列进行天线校准处理，得到第三序列；分别获取...

【专利技术属性】
技术研发人员：林碧影，
申请(专利权)人：大唐移动通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：