【技术实现步骤摘要】
一种新型Zeta电位分析仪
[0001]本技术属于zeta电位分析仪
，具体涉及一种新型Zeta电位分析仪。
技术介绍
[0002]zeta电位分析仪是一款多用途分析仪，是采用光子相关光谱法、电泳光散射以及FST技术来分析的麦克默瑞提克纳米粒度仪和zeta电位一体机，并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位，符合ISO标准。在使用电位分析仪时，需要将容积加入到样品池中，然后进行分析，需注意清除样品池外侧水滴，防止影响分析结果，同时需要防止将样品池划伤，样品池有划纹，需更换，而人工擦拭，容易增加样品池表面被划伤的可能，增加材料浪费，并且在操作时，还要求手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路，所以需要一种新型的电位分析仪，带有对样品池表面擦拭干净的能力。
[0003]因此针对这一现状，迫切需要设计和生产一种新型Zeta电位分析仪，以满足实际使用的需要。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种新型Zeta电位分析仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型Zeta电位分析仪，包括电位分析仪本体(1)和安装在电位分析仪本体(1)侧壁上的清扫盒(2)，其特征在于：所述清扫盒(2)的底部安装有电动伸缩杆(3)，所述电动伸缩杆(3)的输出端顶部贯穿电位分析仪本体(1)的底部外壁并连接有连接板(4)，所述连接板(4)的顶部卡接有样品池(5)，所述样品池(5)的顶部套接有固定盖板(6)，且固定盖板(6)卡接在清扫盒(2)的内腔中，所述清扫盒(2)的内腔侧壁上安装有多个呈等间距分布且与样品池(5)相适配的伸缩筒(7)，所述伸缩筒(7)的内腔靠近样品池(5)的一侧卡接有两个呈对称分布的转轴连接座(8)，且转轴连接座(8)与伸缩筒(7)之间连接有复原弹簧(9)，对应的两个所述转轴连接座(8)之间通过轴销连接有清扫辊(10)，且清扫辊(10)的外周粘接有除湿层，所述固定盖板(6)的内腔中开设有与样品池(5)相适配的定位孔，且样品池(5)插接在定位孔的内腔中。2.根据权利要求1所述的一种新型Zeta电位分析仪，其特征在于：所述连接板(4)的顶部开设有与样品池...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴骏逸，沈治国，严国良，
申请(专利权)人：上海艾飞思精密仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：
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