一种集成电路测试座制造技术

本实用新型专利技术提供了一种集成电路测试座，涉及集成电路测试技术领域，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，所述底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽，在底座上开启两个旋转电机，并控制旋转电机的转动圈数，进而带动旋转电机一端的两个正反丝杆在滑槽内旋转，即可使正反丝杆上的两个螺纹滑块相对移动，在第一活动件与第二活动件的活动连接下，铰杆进行角度调节，进而使测试台进行高度调节，有利于在旋转电机的转动控制下，带动测试台调节至固定的高度处，使探针脚在支撑杆与测试顶板的固定支撑下，对集成电路板进行检测。板进行检测。板进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试座


[0001]本技术涉及集成电路测试
，尤其涉及一种集成电路测试座。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]现有技术的不足之处：目前现有技术中的传统集成电路测试座上探针脚在对晶圆片测试时，由于缺少升降机构，使得每次测试需要工作人员摇动控制转轮，进行调节探针脚高度操作，不仅费时费力，且测试效率不高。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术提供了一种集成电路测试座，以解决上述
技术介绍
中存在的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术提供了一种集成电路测试座，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，所述底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽，两个所述滑槽的内部均活动连接有正反丝杆，两个所述正反丝杆的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块，四个所述螺纹滑块的顶端均固定连接有第一活动件，四个所述第一活动件上活动连接有两个铰杆。
[0006]优选的，两个所述铰杆的顶端活动连接有四个第二活动件，四个所述第二活动件的顶端滑动连接有测试台，所述测试台的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个所述第二活动件的顶端均滑动连接在测试台底端的滑动槽内。
[0007]优选的，两个所述正反丝杆的靠近两端处为光滑的柱状结构，两个所述正反丝杆的一端贯穿底座传动连接有两个旋转电机，两个所述旋转电机的底端固定连接在底座的外壁一侧处。
[0008]优选的，所述测试台的顶端设有两个加持组件，所述测试台的顶端靠近两侧处均固定连接有立板，两个所述立板的中部均开设有螺纹通擦，两个所述立板中部的螺纹通槽内均螺纹连接有螺纹杆。
[0009]优选的，两个所述螺纹杆的一端均固定连接有旋转把手，两个所述螺纹杆的另一端均活动套接有夹持板，两个所述夹持板的一侧均固定连接有垫板，且两个所述垫板均为防静电的柔软材质。
[0010]优选的，所述操作台的顶端四角处均固定连接有支撑杆，四个所述支撑杆的顶端固定连接有测试顶板，所述测试顶板上设有探针脚。
[0011]与现有技术相比，本技术提供了一种集成电路测试座，具备以下有益效果：
[0012]1、本技术通过设有升降机构，将集成电路板放置在测试台上，在底座上开启两个旋转电机，并控制旋转电机的转动圈数，进而带动旋转电机一端的两个正反丝杆在滑槽内旋转，即可使正反丝杆上的两个螺纹滑块相对移动，在第一活动件与第二活动件的活动连接下，铰杆进行角度调节，进而使测试台进行高度调节，有利于在旋转电机的转动控制下，带动测试台调节至固定的高度处，使探针脚在支撑杆与测试顶板的固定支撑下，对集成电路板进行检测。
[0013]2、本技术通过设有加持组件，在对不同规格大小的集成电路板进行检测时，将集成电路板放置在测试台上，在两个立板的固定支撑下，转动两个旋转把手，带动螺纹杆在立板上转动移动，进而带动两个夹持板相对移动，有利于在两个垫板的防护下，将不同规格大小的集成电路板固定在测试台上，对集成电路板进行检测。
附图说明
[0014]图1是本技术的整体结构示意图；
[0015]图2是本技术的操作台处结构剖视图；
[0016]图3是本技术的升降机构处结构爆炸示意图；
[0017]图4是本技术的加持组件处结构爆炸示意图。
[0018]图中：1、操作台；2、升降槽；3、升降机构；301、滑槽；302、底座；303、螺纹滑块；304、第一活动件；305、铰杆；306、第二活动件；307、测试台；308、旋转电机；309、正反丝杆；4、测试顶板；5、探针脚；6、加持组件；601、旋转把手；602、螺纹杆；603、立板；604、夹持板；605、垫板；7、支撑杆。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术中的附图，对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，另外，在以下的实施方式中记载的各结构的形态只不过是例示，本技术所涉及的集成电路测试座并不限定于在以下的实施方式中记载的各结构，在本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式都属于本技术保护的范围。
[0020]本技术提供了一种集成电路测试座，包括操作台1，操作台1的顶端开设有升降槽2，升降槽2的内部设有升降机构3，升降槽2的内部底端固定连接有底座302，底座302的顶端靠近两侧处均开设有滑槽301，两个滑槽301的内部均活动连接有正反丝杆309，两个正反丝杆309的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块303，四个螺纹滑块303的顶端均固定连接有第一活动件304，四个第一活动件304上活动连接有两个铰杆305，有利于在旋转电机308的转动控制下，带动测试台307调节至固定的高度处，使探针脚5在支撑杆7与测试顶板4的固定支撑下，对集成电路板进行检测。
[0021]进一步的，两个铰杆305的顶端活动连接有四个第二活动件306，四个第二活动件306的顶端滑动连接有测试台307，测试台307的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个第二活动件306的顶端均滑动连接在测试台307底端的滑动槽内，便于在两个铰杆305进行角度变换时，第二活动件306在铰杆305的带动下在测试台307的滑动槽内移动，对铰杆305的移动起到活动支撑作用。
[0022]进一步的，两个正反丝杆309的靠近两端处为光滑的柱状结构，两个正反丝杆309
的一端贯穿底座302传动连接有两个旋转电机308，两个旋转电机308的底端固定连接在底座302的外壁一侧处，便于开启两个旋转电机308，带动与之传动连接的正反丝杆309转动，进而带动正反丝杆309上的两个螺纹滑块303相对移动，进而对测试台307进行高度调节。
[0023]进一步的，测试台307的顶端设有两个加持组件6，测试台307的顶端靠近两侧处均固定连接有立板603，两个立板603的中部均开设有螺纹通擦，两个立板603中部的螺纹通槽内均螺纹连接有螺纹杆602，在对不同规格大小的集成电路板进行检测时，将集成电路板放置在测试台307上，在两个立板603的固定支撑下，转动两个旋转把手601，带动螺纹杆602在立板603上转动移动。
[0024]进一步的，两个螺纹杆602的一端均固定连接有旋转把手601，两个螺纹杆602的另一端均活动套接有夹持板604，两个夹持板604的一侧均固定连接有垫板605，且两个垫板605均为防静电的柔软材质，便于在旋转旋转把手601，带动夹持板604相对移动时，垫板605对集成电路板进行夹持防护，便于对集成电路板进行检测。
[0025]进一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试座，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)的顶端开设有升降槽(2)，所述升降槽(2)的内部设有升降机构(3)，所述升降槽(2)的内部底端固定连接有底座(302)，所述底座(302)的顶端靠近两侧处均开设有滑槽(301)，两个所述滑槽(301)的内部均活动连接有正反丝杆(309)，两个所述正反丝杆(309)的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块(303)，四个所述螺纹滑块(303)的顶端均固定连接有第一活动件(304)，四个所述第一活动件(304)上活动连接有两个铰杆(305)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述铰杆(305)的顶端活动连接有四个第二活动件(306)，四个所述第二活动件(306)的顶端滑动连接有测试台(307)，所述测试台(307)的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个所述第二活动件(306)的顶端均滑动连接在测试台(307)底端的滑动槽内。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述正反丝杆(309)的靠近两端处为光滑的柱状结构，两...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾力，胡强，李峰，
申请(专利权)人：成都圣芯集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：