一种集成电路测试座制造技术

本实用新型专利技术提供了一种集成电路测试座，涉及集成电路测试技术领域，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，所述底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽，在底座上开启两个旋转电机，并控制旋转电机的转动圈数，进而带动旋转电机一端的两个正反丝杆在滑槽内旋转，即可使正反丝杆上的两个螺纹滑块相对移动，在第一活动件与第二活动件的活动连接下，铰杆进行角度调节，进而使测试台进行高度调节，有利于在旋转电机的转动控制下，带动测试台调节至固定的高度处，使探针脚在支撑杆与测试顶板的固定支撑下，对集成电路板进行检测。板进行检测。板进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试座


[0001]本技术涉及集成电路测试
，尤其涉及一种集成电路测试座。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]现有技术的不足之处：目前现有技术中的传统集成电路测试座上探针脚在对晶圆片测试时，由于缺少升降机构，使得每次测试需要工作人员摇动控制转轮，进行调节探针脚高度操作，不仅费时费力，且测试效率不高。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术提供了一种集成电路测试座，以解决上述
技术介绍
中存在的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术提供了一种集成电路测试座，包括操作台，所述操作台的顶端开设有升降槽，所述升降槽的内部设有升降机构，所述升降槽的内部底端固定连接有底座，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试座，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)的顶端开设有升降槽(2)，所述升降槽(2)的内部设有升降机构(3)，所述升降槽(2)的内部底端固定连接有底座(302)，所述底座(302)的顶端靠近两侧处均开设有滑槽(301)，两个所述滑槽(301)的内部均活动连接有正反丝杆(309)，两个所述正反丝杆(309)的靠近两端外壁均螺纹套接有螺纹滑块(303)，四个所述螺纹滑块(303)的顶端均固定连接有第一活动件(304)，四个所述第一活动件(304)上活动连接有两个铰杆(305)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述铰杆(305)的顶端活动连接有四个第二活动件(306)，四个所述第二活动件(306)的顶端滑动连接有测试台(307)，所述测试台(307)的底端靠近两侧处均开设有滑动槽，四个所述第二活动件(306)的顶端均滑动连接在测试台(307)底端的滑动槽内。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：两个所述正反丝杆(309)的靠近两端处为光滑的柱状结构，两...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾力，胡强，李峰，
申请(专利权)人：成都圣芯集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：