一种显微镜的微分干涉系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种显微镜的微分干涉系统，包括镜座，所述镜座上安装有连接柱，所述连接柱上设置有连接块；起偏器，所述起偏器设置在连接块的正面，所述起偏器的下方设置有检偏器，所述检偏器与起偏器之间设置有微分干涉镜片，所述检偏器的内部设置有偏光座，所述偏光座上设置有偏光镜片，所述检偏器上设置有滑槽，所述偏光座上安装有拨杆，所述拨杆通过滑槽贯穿检偏器向外部延伸。本实用新型专利技术把显微镜的镜腔极致压缩，整个光路体积减小到现有显微镜的1/10，方便设计安装到各种检测设备上以及应对各种观测需求。对LCD液晶屏的绑定区域，压合后的不良工艺缺陷检测和分析，以及对导电粒子的压痕和爆破效果更方便直观的观察。子的压痕和爆破效果更方便直观的观察。子的压痕和爆破效果更方便直观的观察。

【技术实现步骤摘要】
一种显微镜的微分干涉系统


[0001]本技术涉及光学显微镜
，尤其涉及一种显微镜的微分干涉系统。

技术介绍

[0002]光学显微镜是利用光学原理，把人眼所不能分辨的微小物体放大成像，以供人们提取微细结构信息的光学仪器，由一个透镜或几个透镜的组合构成。
[0003]传统的显微镜体积较大，笨重，不方便搭配各类检测设备进行设计安装，显微镜观测LCD液晶屏时只能对液晶屏的线路或者缺陷放大，对ACF绑定在玻璃区域，无法准确的观察判断生产设备压合后的效果是否合格，区域类是否有划伤，彩虹气泡等不良现象，因此，提出一种显微镜的微分干涉系统。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种显微镜的微分干涉系统。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种显微镜的微分干涉系统，包括镜座，所述镜座上安装有连接柱，所述连接柱上设置有连接块；
[0007]起偏器，所述起偏器设置在连接块的正面，所述起偏器的下方设置有检偏器，所述检偏器与起偏器之间设置有微分干涉镜片，所述检偏器的内部设置有偏光座，所述偏光座上设置有偏光镜片。
[0008]进一步的，所述检偏器上设置有滑槽，所述偏光座上安装有拨杆，所述拨杆通过滑槽贯穿检偏器向外部延伸。
[0009]进一步的，所述连接块的一侧设置有第一螺旋钮，且连接块的另一侧设置有第二螺旋钮，所述第一螺旋钮为粗准焦螺旋，带动第二螺旋钮为细准焦螺旋。
[0010]进一步的，所述连接块的正面设置有衔接块，所述衔接块的正面安装有工形块，所述工形块的正面与起偏器固定连接。
[0011]进一步的，所述连接块的正面设置有梯形槽，所述工形块的背面安装有梯形块，且工形块通过梯形块与连接块相连接，所述检偏器上安装有安装座。
[0012]本技术的有益效果为：
[0013]把显微镜的镜腔极致压缩，整个光路体积减小到现有显微镜的1/10，方便设计安装到各种检测设备上以及应对各种观测需求。对LCD液晶屏的绑定区域，压合后的不良工艺缺陷检测和分析，以及对导电粒子的压痕和爆破效果更方便直观的观察。
附图说明
[0014]图1为本技术提出的一种显微镜的微分干涉系统的整体结构示意图；
[0015]图2为本技术提出的一种显微镜的微分干涉系统的整体结构俯视图；
[0016]图3为本技术提出的一种显微镜的微分干涉系统的整体结构正视图。
[0017]图中：1、镜座；2、连接柱；3、连接块；4、衔接块；5、起偏器；6、检偏器；7、安装座；8、拨杆；9、第一螺旋钮；10、第二螺旋钮。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0019]参照图1，一种显微镜的微分干涉系统，包括镜座1，所述镜座1上安装有连接柱2，所述连接柱2上设置有连接块3，镜座1上设置有圆形凹槽，用于放置ACF进行观察；
[0020]起偏器5，所述起偏器5设置在连接块3的正面，所述起偏器5的下方设置有检偏器6，所述检偏器6与起偏器5之间设置有微分干涉镜片，所述检偏器6的内部设置有偏光座，所述偏光座上设置有偏光镜片。
[0021]参照图2和图3，所述检偏器6上设置有滑槽，所述偏光座上安装有拨杆8，所述拨杆8通过滑槽贯穿检偏器6向外部延伸，所述连接块3的一侧设置有第一螺旋钮9，且连接块3的另一侧设置有第二螺旋钮10；
[0022]所述第一螺旋钮9为粗准焦螺旋，带动第二螺旋钮10为细准焦螺旋，第一螺旋钮9和第二螺旋钮10将目镜的聚焦进行调整，所述连接块3的正面设置有衔接块4，所述衔接块4的正面安装有工形块，所述工形块的正面与起偏器5固定连接，所述连接块3的正面设置有梯形槽，所述工形块的背面安装有梯形块，且工形块通过梯形块与连接块3相连接，所述检偏器6上安装有安装座7。
[0023]工作原理：使用时，将偏光镜片在起偏器5和检偏器6之间的偏光座上安装，将观察检测的材料在镜座1上放置，通过安装座7将微分干涉镜片和物镜进行安装，拨动拨杆8带动偏光座转动，进而调节偏光镜片和微分干涉镜片的角度，使其所有的镜片能发挥极致作用。
[0024]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
[0025]在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显微镜的微分干涉系统，其特征在于，包括镜座(1)，所述镜座(1)上安装有连接柱(2)，所述连接柱(2)上设置有连接块(3)；起偏器(5)，所述起偏器(5)设置在连接块(3)的正面，所述起偏器(5)的下方设置有检偏器(6)，所述检偏器(6)与起偏器(5)之间设置有微分干涉镜片，所述检偏器(6)的内部设置有偏光座，所述偏光座上设置有偏光镜片。2.根据权利要求1所述的一种显微镜的微分干涉系统，其特征在于，所述检偏器(6)上设置有滑槽，所述偏光座上安装有拨杆(8)，所述拨杆(8)通过滑槽贯穿检偏器(6)向外部延伸。3.根据权利要求1所述的一种显微镜的微分干涉系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：焦鹏威，
申请(专利权)人：东莞市益嘉仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：