自干扰测量的功率配置制造技术

技术编号:37269672 阅读:27 留言:0更新日期:2023-04-20 23:39
描述了用于无线通信的方法、系统和设备。用户装备(UE)可以经历多种类型的自干扰(SI),执行干扰测量规程,并且可以标识干扰缓解规程。该UE可以标识用于执行SI测量(SIM)的配置,其中该配置指示与第一传输相关联的第一发射功率和与第二传输相关联的第二发射功率,其中第二发射功率高于第一发射功率。该UE可以按第一发射功率来传送第一传输并且按第二发射功率来传送第二传输,其中第一传输与第一重复频度相关联并且第二传输与第二重复频度相关联。该UE可以基于传送第一传输和第二传输来测量SI。SI。SI。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自干扰测量的功率配置
[0001]交叉引用
[0002]本专利申请要求由Abedini等人于2021年6月24日提交的题为“POWER CONFIGURATION OF SELF

INTERFERENCE MEASUREMENT(自干扰测量的功率配置)”的美国专利申请No.17/357,371、以及由Abedini等人于2020年7月16日提交的题为“POWER CONFIGURATION OF SELF

INTERFERENCE MEASUREMENT(自干扰测量的功率配置)”的美国临时专利申请No.63/052,916的优先权,其中每一件申请均被转让给本申请受让人并通过援引全部明确纳入于此。


[0003]下文涉及无线通信,包括自干扰测量的功率配置。

技术介绍

[0004]无线通信系统被广泛部署以提供各种类型的通信内容,诸如语音、视频、分组数据、消息接发、广播等等。这些系统可以能够通过共享可用系统资源(例如,时间、频率和功率)来支持与多个用户的通信。此类多址系统的示例包括第四代(4G)系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于在无线设备处进行无线通信的方法,包括:标识用于执行自干扰测量的配置,其中所述配置指示与第一传输相关联的第一发射功率和与第二传输相关联的第二发射功率,其中所述第二发射功率高于所述第一发射功率;按所述第一发射功率来传送所述第一传输并且按所述第二发射功率来传送所述第二传输,其中所述第一传输与第一重复频度相关联并且所述第二传输与第二重复频度相关联;以及至少部分地基于传送所述第一传输和所述第二传输来测量自干扰。2.如权利要求1所述的方法,进一步包括:使用以所述第二发射功率所传送的所述第二传输来检测第二类型的自干扰;以及至少部分地基于所检测到的第二类型的自干扰来标识不同于所述第二发射功率的第三发射功率。3.如权利要求2所述的方法,进一步包括:在一个或多个后续的自干扰测量时机中使用所述第三发射功率来传送一个或多个第三传输。4.如权利要求3所述的方法,进一步包括:至少部分地基于传送所述一个或多个第三传输来执行针对所述第二类型的自干扰的测量过程或缓解过程。5.如权利要求2所述的方法,进一步包括:传送包括对所检测到的第二类型的自干扰的指示的报告;以及接收用于所述第三发射功率的配置信息,其中标识所述第三发射功率至少部分地基于接收到所述配置信息。6.如权利要求2所述的方法,进一步包括:确定所述第三发射功率;以及传送对所确定的第三发射功率的指示。7.如权利要求6所述的方法,进一步包括:接收对所述第三发射功率的确认的指示,其中标识所述第三发射功率至少部分地基于接收到对所述第三发射功率的确认的指示。8.如权利要求1所述的方法,其中标识用于执行自干扰测量的配置包括:接收包括对所述第一发射功率和所述第二发射功率的指示的配置信息。9.如权利要求1所述的方法,其中标识用于执行自干扰测量的配置包括:至少确定用于执行自干扰测量的配置的所述第一发射功率或所述第二发射功率。10.如权利要求9所述的方法,进一步包括:传送对所确定的第一发射功率或第二发射功率的指示。11.如权利要求1所述的方法,进一步包括:针对自干扰测量时机集合标识共用的周期性自干扰测量对象,其中所述共用的周期性自干扰测量对象针对所述自干扰测量时机集合定义共用的测量参数集合;针对所述自干扰测量时机集合的第一子集应用所述共用的测量参数集合和对应于所述第一发射功率的第一发射功率配置;以及针对所述自干扰测量时机集合的第二子集应用所述共用的测量参数集合和对应于所
述第二发射功率的第二发射功率配置。12.如权利要求11所述的方法,进一步包括:至少部分地基于位映射来标识所述第一发射功率配置和所述自干扰测量时机集合的所述第一子集之间的关联以及所述第二发射功率配置和所述自干扰测量时机集合的所述第二子集之间的关联。13.如权利要求11所述的方法,进一步包括:至少部分地基于与所述自干扰测量时机集合的所述第一子集和所述自干扰测量时机集合的所述第二子集相关联的周期性、或所述第一子集和所述第二子集之间的偏移、或其组合来标识所述第一发射功率配置和所述第一子集之间的关联以及所述第二发射功率配置和所述第二子集之间的关联。14.如权利要求11所述的方法,进一步包括:传送包括与所述自干扰测量时机集合的所述第一子集相对应的第一测量结果的第一报告;以及传送包括与所述自干扰测量时机集合的所述第二子集相对应的第二测量结果的第二报告。15.如权利要求1所述的方法,进一步包括:针对自干扰测量时机集合标识多个分开的自干扰测量对象,其中所述多个分开的自干扰测量对象中的每一者针对所述自干扰测量时机集合中的一个或多个自干扰测量时机定义测量参数集合。16.如权利要求1所述的方法,其中所述第一重复频度高于所述第二重复频度。17.如权利要求1所述的方法,其中所述第一传输...

【专利技术属性】
技术研发人员:N
申请(专利权)人:高通股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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