一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法技术

本发明专利技术公开了一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法，涉及耐压测试领域，该被测品通道间过压导致击穿的解决方法包括以下步骤：步骤1：对被测设备的被测通道进行耐压测试连接；步骤2：设置测试条件，多个被测通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动测试；步骤3：检测测试时各被测通道的交流信号相位是否一致，不一致时，实时调节；步骤4：耐压测试通过，测试结束；耐压测试不通过，报警警示，测试结束；与现有技术相比，本发明专利技术的有益效果是：本发明专利技术既保留多通道同步测试的高效率特点，又针对通道间电势差导致被测品的击穿损坏问题，控制通道间的电势差，完全避免通道间击穿损坏被测品和测试设备的问题。品和测试设备的问题。品和测试设备的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法


[0001]本专利技术涉及耐压测试领域，具体是一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法。

技术介绍

[0002]PCB、半导体器件等在生产制造过程中，存在对多组待测点位耐压强度的检测需求，如图1所示，测试需求为对被测品的A
‑
a，B
‑
b，C
‑
c，D
‑
d间均进行5KV耐压测试5s。
[0003]现有的测试方案有2种：方案一使用耐压测试仪按照顺序逐一轮巡测试，4组测试电压均为5KV，时间为20s；方案二使用多台耐压测试仪，同时启动测试，4组测试电压均为5KV，时间为5S。
[0004]现有方案一，测试结果可靠，对被测品无异常损伤，但是测试效率极低，严重限制现有自动化产线产能需求；现有方案二，测试效率高，对产品耐压特性设计裕量较小的产品会发生通道间“串电打火”问题（被测品通道与通道之间因电势差过高，超过被测品设计耐压强度），该问题一方面会影响测试结果准确性，另一方面通道间异常放电会对被测品造成击穿、灼烧损伤，从而造成产品本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种被测品通道间过压导致击穿的解决方法，其特征在于：该被测品通道间过压导致击穿的解决方法包括以下步骤：步骤1：对被测设备的被测通道进行耐压测试连接；步骤2：设置测试条件，多个被测通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动测试；步骤3：检测测试时各被测通道的交流信号相位是否一致，不一致时，实时调节；步骤4：耐压测试通过，测试结束；耐压测试不通过，报警警示，测试结束。2.根据权利要求1所述的被测品通道间过压导致击穿的解决方法，其特征在于，步骤1中：将交流耐压测试仪的四个通道的高压端分别按顺序连接至被测设备的A、B、C、D测试点，低压端分别按顺序连接至a、b、c、d测试点。3.根据权利要求1所述的被测品通道间过压导致击穿的解决方法，其特征在于，步骤2中：设置测试条件，各个交流耐压测试通道受控于同一触发启动信号，进行同步启动输出，各个通道输出均从0
°
相位角开始正弦输出。4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆祥，王健，
申请(专利权)人：青岛锐捷智能仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：