芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质技术

本申请实施例提供一种芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质，涉及芯片领域。方法包括：通过芯片测试装置获取自身与待测装置之间的通信状态；其中，待测装置中所包含的待测芯片工作在目标工作环境数据；在通信状态指示正常的情况下，按照预设调节方式确定调节步长，并根据调节步长更新目标工作环境数据，直至调节步长达到预设阈值步长，且通信状态指示异常；其中，通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为待测芯片的工作环境边界值。本申请实施例所提供的芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质具有相对精确及便捷的测试出待测芯片的工作环境数据的边界值，获取待测芯片的工作环境数据的分布范围的优点。片的工作环境数据的分布范围的优点。片的工作环境数据的分布范围的优点。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片领域，具体而言本专利技术实施例涉及一种芯片测试方法、相关设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前如何获取用于驱动芯片、芯片上相关部件或者某个电子产品的驱工作环境数据(即为相关芯片或者产品等提供动力或者能量使其工作的信号，例如，使芯片或者芯片上部件能够工作的电源信号或者电流信号)的范围正显得日益重要。
[0003]例如，针对芯片本身来说，芯片明确的电压、电流等工作环境数据的具体范围是关键的性能指标，因此芯片设计所给的参考理想工作环境数据范围需要实际测试不断修正具体的工作环境数据范围。
[0004]例如，当前芯片外围接口设备(例如，键盘、鼠标、打印机等)种类繁多，因此提供芯片上接口的工作环境数据范围对适配各种设备日益重要。
[0005]以芯片的工作环境数据为IO电压(电流)为例，如图1所示，现有技术方案为了得到图1的IO电路的工作电压或者电流一般采取直接测量的方式，可以理解的是采用直接测量方式所测结果为某种使用环境下的正常电压波动范围，很本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括芯片测试装置和待测装置，所述待测装置搭载有待测芯片，所述待测装置用于为所述待测芯片提供工作环境数据，并在所述工作环境数据下与所述芯片测试装置建立通信；所述方法包括：通过所述芯片测试装置获取自身与所述待测装置之间的通信状态；其中，所述待测装置中所包含的待测芯片工作在目标工作环境数据；在所述通信状态指示正常的情况下，按照预设调节方式确定调节步长，并根据所述调节步长更新所述目标工作环境数据，直至所述调节步长达到预设阈值步长，且所述通信状态指示异常；其中，所述通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为所述待测芯片的工作环境边界值。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述芯片测试装置获取自身与所述待测装置之间的通信状态，包括：所述芯片测试装置向所述待测装置发送测试数据；所述芯片测试装置接收所述待测装置反馈的返回数据，在所述测试数据和所述返回数据之间的相似度大于第一阈值的情况下，确定与所述待测装置之间的通信状态为正常，在所述测试数据和所述返回数据之间的相似度小于所述第一阈值的情况下，确定与所述待测装置之间的通信状态为异常。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述调节步长更新所述目标工作环境数据，包括：以所述调节步长为步长，逐步减小所述目标工作环境数据，在所述调节步长达到预设步长阈值、且所述通信状态指示异常的情况下，确定所述调节步长达到预设步长阈值、且所述通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为所述待测芯片可以承受的下限值；以所述调节步长为步长，逐步增大所述目标工作环境数据，在所述调节步长达到预设步长阈值、且所述通信状态指示异常的情况下，确定所述调节步长达到预设步长阈值、且所述通信状态指示异常时的上一个工作环境数据为所述待测芯片可以承受的上限值。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述待测芯片可以承受的上限值小于所述待测芯片处于散热设计功耗TDP下所确定的数值时，确定所述待测芯片为正常芯片；在所述待测芯片可以承受的上限值大于或等于所述待测芯片处于散热设计功耗TDP下所确定的数值时，确定所述待测芯片为异常芯片。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述工作环境数据为所述待测芯片的工作电压或工作电流。6.一种芯片测试装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭浩，曾维，邓冬明，何玲，
申请(专利权)人：飞腾技术广州有限公司，
类型：发明
国别省市：