一种井下漏失层位定位方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种井下漏失层位定位方法及装置，属于石油、天然气钻完井与天然气水合物钻采技术领域。该方法通过投放井下微型测量芯片进入钻井液循环系统，当井下微型测量芯片从环空返出井筒后，读取井下微型测量芯片内部记录的压力测量值，得到井筒环空压力剖面，通过对压力剖面移位相减，获取移位压力差剖面，如移位压力差剖面存在有压力差突变点，通过读取该突变点的对应井深，可获得漏失层位深度；若进一步对移位压力差剖面进行一次移位相减运算，设置判别阈值，则判别压力差变化趋势更加明显，可更方便定位漏失层位。该方法实现了钻井漏层的定位，并且克服了传统漏层定位精度低、速度慢的缺点。速度慢的缺点。速度慢的缺点。

【技术实现步骤摘要】
一种井下漏失层位定位方法及装置


[0001]本专利技术涉及石油、天然气钻完井与天然气水合物钻采
，涉及一种井下漏失层位定位方法及装置，具体地说，涉及一种基于井下微型测量芯片的井下漏失层位定位方法及装置。

技术介绍

[0002]深层、超深层油气资源开发对于我国能源安全意义重大，其主要特点是埋藏深、地层压力系统复杂等，导致钻井过程中井下漏失频发。井下漏失层位的精准定位是封堵漏层过程的关键一环，国内外学者对漏失层位定位进行了一系列研究，但却无法实现快速漏层定位，导致事故处理时间和钻井成本增加。
[0003]目前，现有技术中，井下漏失层位的定位方法主要分为测漏仪定位和随钻监测两大类，其中测漏仪定位通常需要从环空中下入，直至追踪到漏层，再取出到地面，整个过程耗时长，且测漏期间不能循环钻井液，增加了井控的风险；随钻监测获取漏层的位置通常需要结合水力学模型反演，由于环空钻井液流动情况复杂，目前的水力学模型精度不高，很难反演出准确的漏失层位。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的是提供一种井下漏失层位定位方法及装置，该本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种井下漏失层位定位方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、测量环空压力剖面：确定井下发生漏失后，投放井下微型测量芯片进入井筒，保持恒定的排量，直至井下微型测量芯片循环出井口，通过结合磁定位方法深度定位，获取环空不同位置处对应的压力测量值；式中，将环空从井底至井口划分出n个测点，S1为井底测点深度，m；p1为井底测点压力，MPa；S2为环空第2个测点所处井深，m；p2为环空第2个测点处压力，MPa；S3为环空第3个测点所处井深，m；p3为环空第3个测点处压力，MPa；；S
i
为环空第i个测点所处井深，m；p
i
为环空第i个测点处压力，MPa；S
n
为环空出口测点深度，m；p
n
为环空出口测点压力，MPa；步骤2、压力剖面移位相减：对测量所得压力剖面重采样，形成两个压力剖面；式中j≥1，且10(j
‑
1)+1≤n；k≥1，且10(k
‑
1)+10≤n；对上述两个压力剖面实施相减运算，得到移位压力剖面差；式中，S1为井底测点深度，m；p1为井底测点压力，MPa；S
10
为环空第10个测点所处井深，m；p
10
为环空第10个测点处压力，MPa；S
11
为环空第11个测点所处井深，m；p
11
为环空第11个测点处压力，MPa；S
20
为环空第20个测点所处井深，m；p
20
为环空第20个测点处压力，MPa；S
21
为环
空第21个测点所处井深，m；p
21
为环空第21个测点处压力，MPa；S
30
为环空第30个测点所处井深，m；p
30
为环空第30个测点处压力，MPa；S
10(j
‑
1)+1
为环空第10(j
‑
1)+1个测点所处井深，m；p
10(j
‑
1)+1
为环空第10(j
‑
1)+1个测点处压力，MPa；S
10(k
‑
1)+10
为环空第10(k...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，王超，李牧，赵庆，付加胜，张瑞凇，王振，张恒瑞，计杨杨，吕乾，
申请(专利权)人：中国石油集团工程技术研究院有限公司北京石油机械有限公司，
类型：发明
国别省市：