【技术实现步骤摘要】
显示模组的异物检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及模组检测
，尤其涉及一种显示模组的异物检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]液晶显示器面板在实际生产过程中，不可避免的会引入纸屑、头发丝、泡沫纸等异物，异物粘附在液晶模组(LCD Module)上，导致后续LCD显示缺陷校正系统将异物判定为显示缺陷进行补偿，会导致校正效果不佳，降低产品的品质。因此液晶显示器的厂家会在显示缺陷校正工序之前，进行异物的检测工序，对于异物较大，或是异物较多的液晶模组予以告警，对于异物数量较少、异物大小较小的液晶模组进行图像插值，用于排除异物对后续工序的干扰。
[0003]为了解决上述的问题，目前采用的方法是通过斑点检测这种串行方式来排除异物的影响，其实现方式是提取前景，对前景进行校正、标记等方式来实现。而近年来，随着工业相机像素分辨率越来越高，若继续使用上述的串行的图像处理方法处理，其对异物的检测效率和准确度就显得极低了。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的在于提供了...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示模组的异物检测方法，其特征在于，所述异物检测方法包括：计算拍摄所述显示模组得到的图像上各像素的灰度，并基于各像素的灰度与预设的自适应门限对所述图像进行二值化处理，得到二值化图像，其中，所述自适应门限为基于所述图像的灰度平均值设置得到灰度门限值；利用并查集进行的并行连通域标记算法，根据所述二值化图像中的像素的初始标记值确定各像素的根标记值，基于所述根标记值确定异物位置；基于所述异物位置，通过哈希表统计所述图像的异物数量与面积，计算所述图像中的异物的实际数量和每个异物的面积，生成所述显示模组中异物的检测结果，并根据所述检测结果和当前的生产需求，通过图像插值的方式对所述图像中的异物进行处理。2.根据权利要求1所述的显示模组的异物检测方法，其特征在于，所述计算拍摄所述显示模组得到的图像上各像素的灰度，并基于各像素的灰度与预设的自适应门限对所述图像进行二值化处理，得到二值化图像，包括：对拍摄所述显示模组得到的图像进行区域划分，并基于区域划分的结果计算出每块区域的灰度均值；根据区域的灰度均值设置对应的自适应门限；计算各区域中的像素的灰度，并将每个像素的灰度与所述像素所在区域的自适应门限进行对比，得到比对结果；将所述比对结果中像素的灰度小于所述自适应门限的像素做为前景，其余像素做为背景，并将所述前景中的前景像素的初始标记值设置为所述前景像素的索引值，得到二值化图像。3.根据权利要求2所述的显示模组的异物检测方法，其特征在于，所述利用并查集进行的并行连通域标记算法，根据所述二值化图像中的像素的初始标记值确定各像素的根标记值，基于所述根标记值确定异物位置，包括：配置至少两个并行线程，识别所述二值化图像中的每个前景像素是否有其他前景像素连通，并基于识别的结果对所述二值化图像中的标记值进行初始化处理，得到初始化标记图组，其中所述初始化标记图组包括初始化二值化图和至少一个前景像素连通树状图；对所述初始化二值化图的每个前景像素进行寻根，得到各前景像素的根节点；将具有相同根节点的所有前景像素的标记值修改为所述根节点的标记值，得到查询二值化图；以寻根得到的根节点为起始节点，将各所述前景像素连通树状图转换为深度为1的根树状图，并基于所述根树状图设置所述查询二值化图中前景像素的根标记值，得到合并二值化图；根据所述合并二值化图中各前景像素的根标记值确定异物位置。4.根据权利要求3所述的显示模组的异物检测方法，其特征在于，在所述根据所述合并二值化图中各前景像素的根标记值确定异物位置之前，还包括：对所述合并二值化图进行二次寻根，得到寻根结果；若所述寻根结果为存在相同根节点，则对所述合并二值化图中的具有相同根节点的前景像素合并，并基于合并后的合并二值化图对各根树状图进行合并；若所述寻根结果为不存在相同根节点，则根据所述合并二值化图中各前景像素的根标
记值确定异物位置。5.根据权利要求4所述的显示模组的异物检测方法，其特征在于，所述识别所述二值化图像中的每个前景像素是否有其他前景像素连通...
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