辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质，该方法包括：在电子设备发射信号的情况下，分别获取电子设备在目标参数的不同信息下的辐射杂散发射测试值，目标参数包括影响电子设备的辐射杂散发射测试值的参数；获取第一信息，电子设备在目标参数的第一信息下的辐射杂散发射测试值不低于电子设备在目标参数的至少一个其他信息下的辐射杂散发射测试值；在电子设备发射信号、且目标参数的信息为第一信息的情况下，控制敲击设备执行第一操作，第一操作用于敲击电子设备的第一电连接点；获取目标信息，目标信息用于描述电子设备的辐射杂散发射测试值在敲击设备执行第一操作期间的变化。在敲击设备执行第一操作期间的变化。在敲击设备执行第一操作期间的变化。

【技术实现步骤摘要】
辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质


[0001]本申请涉及电子设备
，特别涉及一种辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质。

技术介绍

[0002]辐射杂散发射（Radiated Spurious Emission，RSE）是衡量电子设备性能的一项重要指标。辐射杂散发射指标较差的电子设备会存在不符合国内、海外认证（如CCC、CE和FCC法规认证）的风险。
[0003]其中，CCC可表示China Compulsory Certification（中国强制性产品认证），CE可表示CONFORMITE EUROPEENNE（欧盟），FCC可表示Federal Communications Commission（美国联邦通信委员会）。
[0004]为了评估电子设备的RSE风险，可以由测试人员手动对电子设备进行RSE测试。但手动测试的实现方式会受到人为因素影响，且需要投入较多人力成本。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种辐射杂散发射测试方法、装置、芯片、设备、系统及介质，能够本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射杂散发射测试方法，其特征在于，包括：在电子设备发射信号的情况下，分别获取所述电子设备在目标参数的不同信息下的辐射杂散发射测试值，所述目标参数包括影响所述电子设备的辐射杂散发射测试值的参数；获取第一信息，所述电子设备在所述目标参数的所述第一信息下的辐射杂散发射测试值不低于所述电子设备在所述目标参数的至少一个其他信息下的辐射杂散发射测试值；在所述电子设备发射信号、且所述目标参数的信息为所述第一信息的情况下，控制敲击设备执行第一操作，所述第一操作用于敲击所述电子设备的第一电连接点；获取目标信息，所述目标信息用于描述所述电子设备的辐射杂散发射测试值在所述敲击设备执行所述第一操作期间的变化。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一信息，包括：确定所述电子设备在所述目标参数的不同信息下的辐射杂散发射测试值中的最大值；根据所述最大值获取所述第一信息，所述电子设备在所述目标参数的所述第一信息下的辐射杂散发射测试值为所述最大值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备发射信号的情况包括：所述电子设备以最大功率发射信号的情况。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述目标信息表示所述电子设备的辐射杂散发射测试值在所述敲击设备执行所述第一操作期间存在浮动变化的情况下，确定所述第一电连接点为不稳定的电连接点。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：输出测试结果，所述测试结果包括所述目标信息的相关信息；其中，所述目标信息的相关信息包括：所述第一信息、所述第一电连接点、所述电子设备的辐射杂散发射测试值在所述敲击设备执行所述第一操作期间的浮动变化范围、在所述敲击设备执行所述第一操作期间所述电子设备发射信号所基于的频段、在所述敲击设备执行所述第一操作期间所述电子设备发射信号所基于的信道中的至少一个。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标参数包括：对应所述电子设备的接收天线的极化方式、所述电子设备与所述接收天线间的角度中的至少一个。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述分别获取所述电子设备在目标参数的不同信息下的辐射杂散发射测试值之前，所述方法还包括：获取所述电子设备的第一系统组件的数据流；根据所述第一系统组件的数据流，确定所述电子设备是否处于运行异常状态；在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张宏伟，靳应祥，王鑫元，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：