平面度测量机构制造技术

本实用新型专利技术涉及测量装置技术领域，提出了平面度测量机构，包括升降机构、伸缩机构、移动机构和千分表，伸缩机构设置在升降机构上，升降机构用于带动伸缩机构上下移动，伸缩机构包括第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架、第四支撑架和驱动机构，驱动机构设置在第一支撑架上，驱动机构用于驱动第二支撑架、第三支撑架和第四支撑架滑动；移动机构设置在伸缩机构上；千分表设置在移动机构上，伸缩机构用于带动移动机构横向移动，移动机构用于调整千分表在伸缩机构上的位置。通过上述技术方案，解决了现有技术中的千分表不便测量大尺寸平面平面度的问题。面度的问题。面度的问题。

【技术实现步骤摘要】
平面度测量机构


[0001]本技术涉及测量装置
，具体的，涉及平面度测量机构。

技术介绍

[0002]在机械加工车间常常需要对加工的平面进行平面度测量，目前常用的三坐标测量仪对环境要求较高且操做复杂，不便在生产现场使用。而千分表在测量平面度时，常受限于支架尺寸的大小，无法对大尺寸平面的表面进行测量。

技术实现思路

[0003]本技术提出平面度测量机构，解决了相关技术中的千分表不便测量大尺寸平面平面度的问题。
[0004]本技术的技术方案如下：
[0005]平面度测量机构，包括
[0006]升降机构；
[0007]伸缩机构，设置在所述升降机构上，所述升降机构用于带动所述伸缩机构上下移动，所述伸缩机构包括第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架、第四支撑架和驱动机构，第一支撑架设置在所述升降机构上，第二支撑架滑动设置在所述第一支撑架上，第三支撑架滑动设置在所述第二支撑架上，第四支撑架滑动设置在所述第三支撑架上，驱动机构设置在所述第一支撑架上，所述驱动机构用于驱动所述第二支撑架、第三支撑架和所述第四支撑架滑动；
[0008]移动机构，设置在所述伸缩机构上；
[0009]千分表，设置在所述移动机构上，所述伸缩机构用于带动所述移动机构横向移动，所述移动机构用于调整所述千分表在所述伸缩机构上的位置。
[0010]作为进一步的技术方案，所述第一支撑架具有第一通槽，所述第二支撑架具有第二通槽，所述第三支撑架具有第三通槽，所述驱动机构包括
[0011]支撑杆，设置在所述第二支撑架上，所述支撑杆位于所述第一通槽内；
[0012]齿轮，具有若干个，若干所述齿轮分别转动设置在所述第二通槽和所述第三通槽内；
[0013]齿条，具有若干个，若干所述齿条设置在所述第一支撑架、所述第二支撑架、所述第三支撑架、所述第四支撑架上，若干所述齿条与若干所述齿轮抵接；
[0014]第一驱动件，设置在所述第一支撑架上；
[0015]螺杆，滑动设置在所述支撑杆上，所述第一驱动件用于驱动所述螺杆转动，所述螺杆转动后驱动所述支撑杆沿所述第一通槽滑动。
[0016]作为进一步的技术方案，所述升降机构包括
[0017]第一底板；
[0018]第一转轴，转动设置在所述第一底板上；
[0019]第一移动座，滑动设置在所述第一转轴上，所述第一支撑架设置在所述第一移动座上；
[0020]第二驱动件，设置在所述第一底板上，所述第二驱动件用于驱动所述第一转轴转动。
[0021]作为进一步的技术方案，所述移动机构包括
[0022]第二底板，设置在所述第四支撑架上；
[0023]第二转轴，转动设置在所述第二底板上；
[0024]第二移动座，滑动设置在所述第二转轴上，所述千分表设置在所述第二移动座上；
[0025]第三驱动件，设置在所述第二底板上，所述第三驱动件用于驱动所述第二转轴转动。
[0026]本技术的工作原理及有益效果为：
[0027]本技术中，为了解决相关技术中的千分表不便测量大尺寸平面平面度的问题，在升降机构上设置了伸缩机构，伸缩机构通过伸长可以扩大千分表的量取范围，方便在生产现场测量大尺寸平面的平面度。测量小尺寸的平面的平面度时，不操作伸缩机构直接通过移动机构移动千分表即可。在测量大尺寸平面的平面度时，选好测量点后，首先通过升降机构将千分表调整到合适的高度，随后通过驱动机构控制第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架和第四支撑架滑动将千分表移动到采样点附近，然后通过移动机构对千分表的位置进行微调，使千分表的表针对准采样点进行测量对读取数据即可。若测量小尺寸平面的平面度，不需要操作伸缩机构，直接通过移动机构调整千分表的位置即可。伸缩机构在进行伸长时，第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架和第四支撑架依次互相套设，重叠的部分增强伸缩机构的支撑性，有效的减少了伸缩机构远离升降机构一端的下沉量，保证了测量数据的准确性，同时也使整个平面度测量机构更加稳定，解决了相关技术中的千分表不便测量大尺寸平面平面度的问题。
附图说明
[0028]下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。
[0029]图1为本技术结构示意图；
[0030]图2为本技术伸缩结构示意图；
[0031]图中：1、升降机构，2、伸缩机构，3、第一支撑架，4、第二支撑架，5、第三支撑架，6、第四支撑架，7、驱动机构，8、移动机构，9、千分表，10、第一通槽，11、第二通槽，12、第三通槽，13、支撑杆，14、齿轮，15、齿条，16、第一驱动件，17、螺杆，18、第一底板，19、第一转轴，20、第一移动座，21、第二驱动件，22、第二底板，23、第二转轴，24、第二移动座，25、第三驱动件。
具体实施方式
[0032]下面将结合本技术实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都涉及本技术保护的范围。
[0033]如图1～图2所示，本实施例提出了
[0034]平面度测量机构，包括
[0035]升降机构1；
[0036]伸缩机构2，设置在升降机构1上，升降机构1用于带动伸缩机构2上下移动，伸缩机构2包括第一支撑架3、第二支撑架4、第三支撑架5、第四支撑架6和驱动机构7，第一支撑架3设置在升降机构1上，第二支撑架4滑动设置在第一支撑架3上，第三支撑架5滑动设置在第二支撑架4上，第四支撑架6滑动设置在第三支撑架5上，驱动机构7设置在第一支撑架3上，驱动机构7用于驱动第二支撑架4、第三支撑架5和第四支撑架6滑动；
[0037]移动机构8，设置在伸缩机构2上；
[0038]千分表9，设置在移动机构8上，伸缩机构2用于带动移动机构8横向移动，移动机构8用于调整千分表9在伸缩机构2上的位置。
[0039]本实施例中，为了解决相关技术中的千分表9不便测量大尺寸平面平面度的问题，在升降机构1上设置了伸缩机构2，伸缩机构2通过伸长可以扩大千分表9的量取范围，方便在生产现场测量大尺寸平面的平面度。测量小尺寸的平面的平面度时，不操作伸缩机构2直接通过移动机构8移动千分表9即可。
[0040]具体的是，在测量大尺寸平面的平面度时，选好测量点后，首先通过升降机构1将千分表9调整到合适的高度，随后通过驱动机构7控制第一支撑架3、第二支撑架4、第三支撑架5和第四支撑架6滑动将千分表9移动到采样点附近，然后通过移动机构8对千分表9的位置进行微调，使千分表9的表针对准采样点进行测量对读取数据即可。若测量小尺寸平面的平面度，不需要操作伸缩机构2，直接通过移动机构8调整千分表9的位置即可。伸缩机构2在进行伸长时，第一支撑架3、第二支撑架4、第三支撑架5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.平面度测量机构，其特征在于，包括升降机构(1)；伸缩机构(2)，设置在所述升降机构(1)上，所述升降机构(1)用于带动所述伸缩机构(2)上下移动，所述伸缩机构(2)包括第一支撑架(3)、第二支撑架(4)、第三支撑架(5)、第四支撑架(6)和驱动机构(7)，第一支撑架(3)设置在所述升降机构(1)上，第二支撑架(4)滑动设置在所述第一支撑架(3)上，第三支撑架(5)滑动设置在所述第二支撑架(4)上，第四支撑架(6)滑动设置在所述第三支撑架(5)上，驱动机构(7)设置在所述第一支撑架(3)上，所述驱动机构(7)用于驱动所述第二支撑架(4)、第三支撑架(5)和所述第四支撑架(6)滑动；移动机构(8)，设置在所述伸缩机构(2)上；千分表(9)，设置在所述移动机构(8)上，所述伸缩机构(2)用于带动所述移动机构(8)横向移动，所述移动机构(8)用于调整所述千分表(9)在所述伸缩机构(2)上的位置。2.根据权利要求1所述的平面度测量机构，其特征在于，所述第一支撑架(3)具有第一通槽(10)，所述第二支撑架(4)具有第二通槽(11)，所述第三支撑架(5)具有第三通槽(12)，所述驱动机构(7)包括支撑杆(13)，设置在所述第二支撑架(4)上，所述支撑杆(13)位于所述第一通槽(10)内；齿轮(14)，具有若干个，若干所述齿轮(14)分别转动设置在所述第二通槽(11)和所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵祥来，赵飞，赵树宇，孙荣欢，
申请(专利权)人：唐山贺祥智能科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：