【技术实现步骤摘要】
一种用于测试的装置
[0001]本技术涉及测试设备
,尤其涉及一种用于测试的装置。
技术介绍
[0002]老炼试验是一种可靠性试验,工程上用来剔除早期失效产品,在一定温度下、较长的时间内对电子元器件施加一定的电应力,通过电
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热应力来加速元器件内反应,促使元器件尽早暴露潜在的缺陷,老炼试验箱是提供老炼试验环境的装置。
[0003]传统的老炼试验箱仅为提供温度环境的功能,也可以认为就是温度可调的高温箱。但在对电子元器件试验时由于其本身也会发热,导致电子元器件的实际的温度与老炼箱内的温度不一致,影响到试验准确性。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种用于测试的装置,提高了老炼试验过程中的准确性。
[0005]为实现上述目的,第一方面,本技术提供了一种用于测试的装置,包括基座,所述基座上设有安装槽,所述安装槽用于安装待测器件;盖板,与所述基座活动连接,所述盖板对应所述安装槽设有安装孔,所述盖板用于盖合所述安装槽;旋钮,可转动地设于所述安装孔内;第一温度传感器,位于所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测试的装置,其特征在于,包括:基座,所述基座上设有安装槽,所述安装槽用于安装待测器件;盖板,与所述基座活动连接,所述盖板对应所述安装槽设有安装孔,所述盖板用于盖合所述安装槽;旋钮,可转动地设于所述安装孔内;第一温度传感器,位于所述盖板和所述基座之间,所述第一温度传感器与所述旋钮连接;当所述安装槽内安装待测器件后,所述盖板盖合所述安装槽,通过旋转所述旋钮使所述第一温度传感器与所述待测器件接触,用于检测所述待测器件的实际温度。2.根据权利要求1所述的用于测试的装置,其特征在于,还包括若干第二温度传感器和控制电路;若干所述第二温度传感器设于所述基座和/或所述盖板的外侧壁,用于检测老炼试验箱内的温度;所述控制电路用于根据所述待测器件自身的发热温度调节所述老炼试验箱内的温度,以使检测到的所述待测器件的实际温度等于目标测试温度。3.根据权利要求2所述的用于测试的装置,其特征在于,所述盖板采用透光的材料制备形成;所述待测器件为图像传感器,所述图像传感器可通过所述盖板采集所述老炼试验箱的内部状态,用于对所述老炼试验箱进行反向监测。4.根据权利要求3所述的用于测试的装置,其特征在于,所述盖板包括设置其顶部的透明显示屏,所述透明显示屏与所述待测器件电连接,所述透明显示屏用于实时显示所述老炼试验箱的...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚清志,蒋亮亮,
申请(专利权)人:上海集成电路研发中心有限公司,
类型:新型
国别省市:
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