本实用新型专利技术提供了一种用于测试的装置，包括基座，所述基座上设有安装槽，所述安装槽用于安装待测器件；盖板，与所述基座活动连接，所述盖板对应所述安装槽设有安装孔，所述盖板用于盖合所述安装槽；旋钮，可转动地设于所述安装孔内；第一温度传感器，位于所述盖板和所述基座之间，所述第一温度传感器与所述旋钮连接；当所述安装槽内安装待测器件后，所述盖板盖合所述安装槽，通过旋转所述旋钮使所述第一温度传感器与所述待测器件接触。本实用新型专利技术通过在基座和盖板之间设置第一温度传感器，通过旋转旋钮可使第一温度传感器与待测器件接触，从而可实时监测待测器件的实际温度，保证了待测器件在老炼试验过程中温度的准确性。测器件在老炼试验过程中温度的准确性。测器件在老炼试验过程中温度的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测试的装置
[0001]本技术涉及测试设备
，尤其涉及一种用于测试的装置。
技术介绍
[0002]老炼试验是一种可靠性试验，工程上用来剔除早期失效产品，在一定温度下、较长的时间内对电子元器件施加一定的电应力，通过电
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热应力来加速元器件内反应，促使元器件尽早暴露潜在的缺陷，老炼试验箱是提供老炼试验环境的装置。
[0003]传统的老炼试验箱仅为提供温度环境的功能，也可以认为就是温度可调的高温箱。但在对电子元器件试验时由于其本身也会发热，导致电子元器件的实际的温度与老炼箱内的温度不一致，影响到试验准确性。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种用于测试的装置，提高了老炼试验过程中的准确性。
[0005]为实现上述目的，第一方面，本技术提供了一种用于测试的装置，包括基座，所述基座上设有安装槽，所述安装槽用于安装待测器件；盖板，与所述基座活动连接，所述盖板对应所述安装槽设有安装孔，所述盖板用于盖合所述安装槽；旋钮，可转动地设于所述安装孔内；第一温度传感器，位于所述盖板和所述基座之间，所述第一温度传感器与所述旋钮连接；当所述安装槽内安装待测器件后，所述盖板盖合所述安装槽，通过旋转所述旋钮使所述第一温度传感器与所述待测器件接触。
[0006]本技术的有益效果在于：通过在基座和盖板之间设置第一温度传感器，通过旋转旋钮可使第一温度传感器与待测器件接触，从而可实时监测待测器件的实际温度，保证了待测器件在老炼试验过程中的准确性。
[0007]可选的，还包括若干第二温度传感器和控制电路；
[0008]若干所述第二温度传感器设于所述基座和/或所述盖板的外侧壁，用于检测老炼试验箱内的温度；
[0009]所述控制电路用于根据所述待测器件自身的发热温度调节所述老炼试验箱内的温度，以使检测到的所述待测器件的实际温度等于目标测试温度。
[0010]可选的，所述盖板采用透光的材料制备形成；
[0011]所述待测器件为图像传感器，所述图像传感器可通过所述盖板采集所述老炼试验箱的内部状态，用于对所述老炼试验箱进行反向监测。
[0012]可选的，所述盖板包括设置其顶部的透明显示屏，所述透明显示屏与所述待测器件电连接，所述透明显示屏用于实时显示所述待测器件的温度和状态；
[0013]所述老炼试验箱的内部状态包括所述老炼试验箱的门是否关闭、所述老炼试验箱的侧壁或上壁是否存在腐蚀、所述老炼试验箱内部的线缆是否腐蚀或破损、以及所述老炼试验箱内部的螺丝或接口等是否脱落。
[0014]可选的，还包括固定件和弹性件；所述固定件位于所述第一温度传感器和所述盖板之间，所述固定件与所述旋钮的一端连接；所述弹性件一端与所述固定件连接，所述弹性件的另一端与所述第一温度传感器连接。其有益效果在于：通过设置固定件和弹性件，使旋钮与第一温度传感器连接，并且由于弹性件具有一定的弹性作用，使第一温度传感器与待测器件接触时具有一定的缓冲效果，避免了由于碰撞出现损坏的情况。
[0015]可选的，所述固定件朝向所述弹性件的面开设有凹槽，所述凹槽的径向尺寸大于所述弹性件的直径，且所述凹槽的深度大于所述弹性件挤压后的轴向尺寸；所述弹性件一端设于所述凹槽内。其有益效果在于：通过在所述固定件上开设凹槽，用于容纳所述弹性件，保证了装置整体结构的紧凑型。
[0016]可选的，还包括挂钩；所述基座的一侧边设有固定杆；所述挂钩套设于所述固定杆与所述盖板连接。其有益效果在于：通过挂钩使所述基座和盖板活动连接，连接方式简单可靠。
[0017]可选的，所述基座的另一侧边与所述盖板卡接。
[0018]可选的，所述安装槽内设有针槽；所述待测器件的芯片针脚可通过所述针槽伸出。
[0019]可选的，所述旋钮和所述安装孔为螺纹连接。
附图说明
[0020]图1为本技术提供的实施例用于测试的装置结构示意图。
[0021]附图标记：
[0022]基座100、安装槽101、针槽102、固定杆103、卡槽104、盖板200、安装孔201、卡接块202、旋钮300、第一温度传感器400、固定件500、凹槽501、弹性件600、挂钩700。
具体实施方式
[0023]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
[0024]针对现有技术存在的问题，本技术的实施例提供了一种用于测试的装置，参考图1所示，该装置包括基座100、盖板200、旋钮300和第一温度传感器400。其中，所述基座100上设有安装槽101，所述安装槽101用于安装待测器件，所述基座100通过螺丝与老炼板(图中未示出)连接，然后将所述老炼板放置在老炼试验箱内进行老炼试验。所述盖板200活动的与所述基座100连接，所述盖板200对应所述安装槽101设有安装孔201，所述盖板200用于盖合所述安装槽101。所述旋钮300的外侧壁设有外螺纹，所述安装孔201的内侧壁设有内螺纹，该外螺纹与内螺纹匹配，所以所述旋钮300可转动的设于所述安装孔201内。所述第一温度传感器400设于所述盖板200和所述基座100之间，所述第一温度传感器400与所述旋钮300的一端固定连接。
[0025]在本实施例中，待测器件为互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)图像传感器。将待测器件放置在所述安装槽101内后，使所述盖板200盖合所述安装槽101，通过旋转所述旋钮300使所述第一温度传感器400与所述待测器件接触，并使所述待测器件与所述安装槽101固定。由于所述第一温度传感器400与所述待测器件接触，从而可实时监测待测器件的实际温度，保证了待测器件在老炼试验过程中的实际温度与目标测试温度相同，避免由于老炼试验箱的设定的目标测试温度与待测器件的实际温度不同影响到老炼结果的准确性。
[0026]需要说明的是，所述安装槽101内设有若干针槽102，当旋转所述旋钮300时，所述待测器件的芯片针脚可通过所述针槽102伸出与老炼板电连接。另外，所述盖板200上设有指示标识(图中未示出)，比如“ON”和“OFF”，所述旋钮300上刻有标识线，当所述标识线与“ON”对应时，表示所述待测器件与老炼板电连接。当所述标识线与“OFF”对应时，表示所述待测器件与所述基座100未固定，可取出所述待测器件。
[0027]可选的，还包括若干第二温度传感器(图中未示出本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测试的装置，其特征在于，包括：基座，所述基座上设有安装槽，所述安装槽用于安装待测器件；盖板，与所述基座活动连接，所述盖板对应所述安装槽设有安装孔，所述盖板用于盖合所述安装槽；旋钮，可转动地设于所述安装孔内；第一温度传感器，位于所述盖板和所述基座之间，所述第一温度传感器与所述旋钮连接；当所述安装槽内安装待测器件后，所述盖板盖合所述安装槽，通过旋转所述旋钮使所述第一温度传感器与所述待测器件接触，用于检测所述待测器件的实际温度。2.根据权利要求1所述的用于测试的装置，其特征在于，还包括若干第二温度传感器和控制电路；若干所述第二温度传感器设于所述基座和/或所述盖板的外侧壁，用于检测老炼试验箱内的温度；所述控制电路用于根据所述待测器件自身的发热温度调节所述老炼试验箱内的温度，以使检测到的所述待测器件的实际温度等于目标测试温度。3.根据权利要求2所述的用于测试的装置，其特征在于，所述盖板采用透光的材料制备形成；所述待测器件为图像传感器，所述图像传感器可通过所述盖板采集所述老炼试验箱的内部状态，用于对所述老炼试验箱进行反向监测。4.根据权利要求3所述的用于测试的装置，其特征在于，所述盖板包括设置其顶部的透明显示屏，所述透明显示屏与所述待测器件电连接，所述透明显示屏用于实时显示所述老炼试验箱的...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚清志，蒋亮亮，
申请(专利权)人：上海集成电路研发中心有限公司，
类型：新型
国别省市：
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