光子计数探测器校正方法、装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了光子计数探测器校正方法、装置。该方法包括：根据光子计数探测器输出的光子计数数据，确定光子计数数据的各个能量区间的计数率；根据光子计数探测器的脉冲堆积模型以及各个能量区间的计数率总和，确定对应的理论计数率；脉冲堆积模型表征实际计数率与理论计数率的第一对应关系；根据各个能量区间的计数率以及理论计数率，确定各个能量区间的第一堆积补偿量；采用各个能量区间的第一堆积补偿量对对应能量区间的计数率进行校正。本发明专利技术基于表征实际计数率与理论计数率的第一对应关系的脉冲堆积模型计算堆积补偿量，并对计数率进行校正，实际操作简单，且其计算量小而且更为准确，校正效果能够符合临床使用需求。校正效果能够符合临床使用需求。校正效果能够符合临床使用需求。

【技术实现步骤摘要】
光子计数探测器校正方法、装置


[0001]本专利技术涉及医疗器械
，尤其涉及一种光子计数探测器校正方法、装置。

技术介绍

[0002]医学设备的光子计数探测器(PCD)的能谱CT具有诸多优势，PCD能够测量接受到的光子能量信息，并将相应光子计数分到不同能量区间，这种能谱分辨功能赋予光子计数能谱CT能够获取关于物质成分信息的能力，同时由于PCD的低电子噪声特性和更小的探测器单元尺寸，使得光子计数能谱CT具有更高的分辨率和信噪比。然而由于PCD的本身特性，其最主要缺陷就是所谓的脉冲堆积效应，当探测器单元接受光子时，如果光子依次到达的时间间隔小于一个阈值即死时间，则会形成脉冲堆积，探测器单元便不能正确对入射光子计数。由于多个光子只对应产生一个脉冲，这会导致PCD的计数丢失，时间间隔小同时脉冲的高度也会改变，这也会导致PCD记录到的光谱失真，最终会导致能谱成像得到的图像值不准确，且图像质量降低。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的上述缺陷，提供一种光子计数探测器校正方法、装置。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光子计数探测器校正方法，其特征在于，包括：根据所述光子计数探测器输出的光子计数数据，确定所述光子计数数据的各个能量区间的计数率；根据所述光子计数探测器的脉冲堆积模型以及所述各个能量区间的计数率总和，确定对应的理论计数率；所述脉冲堆积模型表征实际计数率与理论计数率的第一对应关系；根据所述各个能量区间的计数率以及所述理论计数率，确定各个能量区间的第一堆积补偿量；采用所述各个能量区间的第一堆积补偿量对对应能量区间的计数率进行校正。2.根据权利要求1所述的光子计数探测器校正方法，其特征在于，还包括：根据校正参数确定各个能量区间的第二堆积补偿量；根据所述第二堆积补偿量对初始校正计数率进行二次校正；其中，所述初始校正计数率为采用所述第一堆积补偿量对计数率进行校正的校正结果。3.根据权利要求2所述的光子计数探测器校正方法，其特征在于，还包括：分别拟合各个能量区间的残差项和理论计数率，得到表征所述残差项与理论计数率的第二对应关系的多项式；其中，所述残差项为理论计数率与初始校正计数率之差；将所述多项式的系数确定为所述校正参数。4.根据权利要求1所述的光子计数探测器校正方法，其特征在于，通过以下步骤构建所述脉冲堆积模型：在球管输出不同球管强度时，分别获取光子计数探测器的计数率总和样本；拟合所述球管强度以及所述计数率总和样本，得到球管强度与计数率总和的第一对应关系；根据所述第一对应关系构建所述脉冲堆积模型。5.根据权利要求1所述的光子计数探测器校正方法，其特征在于，根据所述各个能量区间的计数率以及所述理论计数率，确定各个能量区间的第一堆积补偿量，包括：根据光子入射事件的概率和所述理论计数率确定各个能量区间的能量跃迁系数；根据能量跃迁系数以及各个能量区间的计数率确定各个能量区间的第一堆积补偿量。6.一种光子计数探测器校正装置，其特征在于，包括：计...

【专利技术属性】
技术研发人员：张忠良，傅建伟，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：