【技术实现步骤摘要】
图像处理方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前,由于芯片内部电路的复杂性,使得在对芯片内部电路进行分析时,需要基于电子显微镜等器件采集高精度的芯片图像进行分析,但是在图像采集的过程中,可能存在很多外在因素(如环境因素)的影响,导致采集的图像中存在噪声,不足以符合芯片内部电路分析要求。
[0003]为了解决以上这种情况,现有技术中通过会采用对芯片进行重新拍摄的方式,采集无噪声的高精度图像以进行芯片内部电路分析,但是再次进行芯片整体的拍摄也是存在图像拍摄质量差的可能性,进而也会导致内部电路分析效果差的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种图像处理方法、装置、电子设备及存储介质,以实现自动化采集补图图像,提高图像采集的便捷性,使得最终得到的目标对象图像是高质量的,进而达到提高目标对象内部电路分析准确性的技术效果。
[0005]根据本专利技术的一方面,提供了一种图像处理 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:获取与预先拍摄的包括目标对象的待使用概貌图;其中,所述待使用概貌图中包括至少两个待触发点位;确定所述至少两个待触发点位在第一坐标系下的待使用位置;其中,所述第一坐标系与电镜平台相对应,所述目标对象放置于所述电镜平台上;基于各所述待使用位置、所述待使用概貌图的图像属性、以及预先确定的与所述目标对象相对应的至少一个图像补全信息,确定所述至少一个图像补全信息在所述第一坐标系下的待采集位置;控制目标电镜移动至各所述待采集位置,以得到在相应待采集位置下所对应的待使用补图图像;基于各所述待使用补图图像以及待补全图像,确定目标补全图像;其中,所述待补全图像与所述目标对象或与所述目标对象相一致的已采样对象相对应。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取与预先拍摄的包括目标对象的待使用概貌图,包括:当检测到触发加载图像控件时,显示路径编辑框;在接收到在所述路径编辑框中输入的路径信息时,显示与所述路径信息相对应的概貌图列表;其中,所述概貌图列表中包括至少一个与所述目标对象对应的历史概貌图;将在所述概貌图列表中触发选择的历史概貌图作为所述待使用概貌图并显示。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定所述至少两个待触发点位在第一坐标系下的待使用位置之前,还包括:当检测到触发位置标记控件时,基于用户对所述待使用概貌图的触发操作,确定出位于所述待使用概貌图中的至少两个待触发点位,并将所述待触发点位进行标注显示。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述至少两个待触发点位在第一坐标系下的待使用位置,包括:对于所述至少两个待触发点位,基于预先确定的坐标转换矩阵对当前待触发点位在所述待使用概貌图中的位置信息进行处理,得到所述待触发点位在第一坐标系下的待使用位置。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于各所述待使用位置、所述待使用概貌图的图像属性、以及预先确定的与所述目标对象相对应的至少一个图像补全信息,确定所述至少一个图像补全信息在所述第一坐标系下的待采集位置,包括:基于各所述待使用位置和所述图像属性,确定所待使用概貌图的像素尺寸;基于各所述待使用位置、所述像素尺寸和所述至少一个图像补全信息,确定所述至少一个图像补全信息在所述第一坐标系下的待采集位置。6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:尚跃,丁琪,
申请(专利权)人:上海聚跃检测技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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