本申请公开了一种电光介质棒互联结构及电光取样装置，解决了现有技术互联器件不连续导致较大模式损耗的问题。电光介质棒互联结构，包含介质棒和矩形波导。所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中。所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。电光取样装置，包含：电光介质棒互联结构，用于将传输的待测高速脉冲信号的信息附加到脉冲激光信号中。激光脉冲模块，用于将激光脉冲信号聚焦到所述电光介质棒互联结构。光电探测模块，用于将携带信息的激光脉冲信号转换为电脉冲信号。数据采集模块，用于处理电脉冲信号，提取高速脉冲信号信息。本申请的电光介质棒互联结构是连续结构，可以有效地避免装置有较大模式损耗。置有较大模式损耗。置有较大模式损耗。
【技术实现步骤摘要】
一种电光介质棒互联结构及电光取样装置
[0001]本申请涉及无线电计量和测试
，尤其涉及一种电光介质棒互联结构及电光取样装置。
技术介绍
[0002]在表征高频电器件方面，电光取样技术已证明是有力的测量方法，得到众多国家的计量机构的应用。该技术中使用光学方法产生非常短的电脉冲信号，并可由具备相同重复频率的同步探测波束进行探测。一般探测波束由精密控制的平移台来进行时间上的延迟，以实现时间等效采样。这项技术已经应用在传递函数、反射系数或其他传输性质的研究中，并且在太赫兹频谱领域也已经广泛应用。
[0003]在传统的电光取样装置中，被测高速脉冲信号通过同轴互联器件传输，同轴互联器件一般是由同轴、匹配的绝缘子、绝缘子探针、输入平面过渡电路互联结构和共面波导芯片组成。使用采样光脉冲，对同轴互联结构中传输的被测高速脉冲信号进行采样，即可实现被测高速脉冲信号波形的测量。但由于互联器件是不连续结构，其连接部分往往会因模式失配而导致装置有较大模式损耗，同时，信号在介质与共面波导传输线上的传输速度不同也会导致装置有较大的辐射损耗。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种电光介质棒互联结构及电光取样装置，解决了现有技术互联器件不连续导致较大模式损耗的问题。
[0005]本申请实施例还提供一种电光介质棒互联结构，包含介质棒和矩形波导。所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中。所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。
[0006]优选地，所述介质棒为两端细，中间粗。
[0007]进一步地，所述介质棒的横截面为矩形。
[0008]进一步地，所述介质棒的横截面宽度不变，高度从介质棒中间到两端线性变小。
[0009]进一步地，所述介质棒包含中间段和连接段。所述中间段为长方体。所述连接段为一端粗一端细的变截面梁。所述连接段粗的一端与中间段连接。
[0010]优选地，所述连接段最细的一端高度渐进为零。。
[0011]优选地，所述介质棒为砷化镓半导体。
[0012]本申请还提供一种电光取样装置，使用上述任意实施例所述电光介质棒互联结构，还包含激光脉冲模块、光电探测模块和数据采集模块。所述电光介质棒互联结构，用于传输待测高速脉冲信号，并将待测高速脉冲信号的信息附加到脉冲激光信号中。所述激光脉冲模块，用于产生激光脉冲信号并将激光脉冲信号聚焦到所述电光介质棒互联结构。所述光电探测模块，用于探测携带高速脉冲信号的激光脉冲信号，将其转换为电脉冲信号。所述数据采集模块，用于处理光电探测模块输出的电脉冲信号，将其中附加的高速脉冲信号
信息提取出来。
[0013]进一步地，还包含信号处理模块，用于调制待测高速脉冲信号，并将调制的信号作为参考提供给数据采集模块。
[0014]进一步地，所述激光脉冲模块包含激光脉冲产生模块和激光控制模块。所述激光脉冲产生模块，用于产生激光脉冲信号。所述激光控制模块，用于接收并偏振态控制与聚焦激光脉冲产生模块产生的激光脉冲信号。
[0015]本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：
[0016]本申请的电光介质棒互联结构是连续结构，可以有效地避免装置有较大模式损耗，同时，由于介质棒中部加宽设计，是激光脉冲信号有更大的光程，因此信号在介质与共面波导传输线上的传输速度不同不会导致装置有较大的辐射损耗。
附图说明
[0017]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0018]图1为本申请一种电光介质棒互联结构实施例结构图；
[0019]图2为本申请一种电光取样装置实施例结构图。
具体实施方式
[0020]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。
[0022]图1为本申请一种电光介质棒互联结构实施例结构图。
[0023]一种电光介质棒互联结构1，包含介质棒11和矩形波导12。所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中。所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。
[0024]所述介质棒可以选择粗细均匀的棒状结构，也可以选择两端细中间粗的棒状结构，还可以在不影响高速脉冲信号传播的前提下选择不规则的形状，但是激光脉冲信号在介质棒中的光程大，可以有效地防止介质与共面波导传输线上的传输速度不同导致装置有较大的辐射损耗。因此优选地，所述介质棒为两端细，中间粗。
[0025]所述介质棒的横截面为矩形。介质棒伸入贯通腔一定距离后，所述横截面与矩形波导的贯通腔开口部分内径吻合。垂直于激光脉冲信号入射方向的边为第一边，平行于激光脉冲信号入射方向的边为第二边。
[0026]所述介质棒的横截面为矩形，在两端插入矩形波导的矩形贯通腔时，介质棒的四个面可以和贯通腔的开口部位内径吻合，使两者贴合紧密。
[0027]所述介质棒的横截面宽度不变，高度从介质棒中间到两端线性变小。
[0028]例如，所述第一边的宽度不变。第二边的宽度从介质棒中间到两端线性变小。
[0029]需要说明的是，增加光程只需要在激光脉冲信号入射的方向上增加，因此在垂直
于激光脉冲信号入射方向的边长度不需要改变，这样加工方便，且节省材料。
[0030]所述介质棒包含中间段和连接段。所述中间段为长方体。所述连接段为一端粗一端细的变截面梁。所述连接段粗的一端与中间段连接。
[0031]介质棒中部设计为长方体是为了让激光脉冲信号的入射表面为平面，从而减小激光信号的反射。激光信号从介质棒上表面入射后从下表面出射，若激光脉冲的入射表面为斜面则会因反射而减弱出射信号。
[0032]由于介质棒中部需要有激光脉冲信号垂直入射的平面，而为了延长光程将介质棒加工为中间粗两端细的变截面梁结构，因此中间段位于中部相当于是第二边较长的矩形。连接段一端连接中间段，另一端需要插入贯通腔，因此为一端粗一端细的变截面梁结构。
[0033]所述连接段插入贯通腔一端可以有一个端面，也可以是一个一字型结构，还可以是一个端点，端点结构需要将连接段端部加工为圆形，不符合贯通腔的结构，加工不方便，端面结构会反射高速脉冲信号，造成干扰，因此优选地，所述连接段最细的一端高度渐进为零。即所述连接段最细的一端第二边为零。端部形成一个第二边为零的一字型结构。
[0034]所述介质棒可以选择砷化镓GaAs半导体，还可以选择碲化锌ZnTe，磷化镓GaP等具有较大电光系数的电光晶体。但是砷化镓更为稳定，且国内本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电光介质棒互联结构，其特征在于，包含介质棒和矩形波导；所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中；所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。2.根据权利要求1所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述介质棒为两端细，中间粗。3.根据权利要求1或2所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述介质棒的横截面为矩形。4.根据权利要求3所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述介质棒的横截面宽度不变，高度从介质棒中间到两端线性变小。5.根据权利要求3所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述介质棒包含中间段和连接段；所述中间段为长方体；所述连接段为一端粗一端细的变截面梁；所述连接段粗的一端与中间段连接。6.根据权利要求5所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述连接段最细的一端高度渐进为零。7.根据权利要求1～6任意一项所述电光介质棒互联结构，其特征在于，所述介质棒为砷化镓半导体。8.一种电光取样装置，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘健纯，龚鹏伟，谢文，谌贝，姜河，杨春涛，马红梅，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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