一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术提供了一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，包括防尘机构，所述防尘机构包括集成电路测试仪主体、接线孔、竖块、矩形块和螺杆；两个所述接线孔开设于所述集成电路测试仪主体的前侧。本实用新型专利技术正向转动圆形块通过螺杆带动竖杆移动对两个连接杆进行挤压，连接杆通过竖块带动横杆移动对弹簧进行压缩，竖块带动挡板移动，使接线孔被露出，便可以通过外界活动接头连接，需要对接线孔进行遮挡防止灰尘进入时，反向转动圆形块，弹簧的弹力通过竖块带动对应的挡板移动并对接线孔进行遮挡，使集成电路测试仪主体的接线孔在不使用时避免暴露在空气中，降低灰尘对测试仪与外界活动接头之间的电性连接效果的影响。界活动接头之间的电性连接效果的影响。界活动接头之间的电性连接效果的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪


[0001]本技术涉及一种测试仪，具体为针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，属于集成电路验证设备


技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件，其采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。
[0003]现有的集成电路验证测试仪接线孔直接裸露在空气中，而测试仪接线孔长期暴露在空气中容易落入灰尘，当测试仪需要连接时，灰尘会使测试仪与外界活动接头之间的电性连接效果的影响，为此，我们提出一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪用于解决上述问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术希望提供一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。
[0005]本技术实施例的技术方案是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，包括防尘机构(1)，其特征在于：所述防尘机构(1)包括集成电路测试仪主体(2)、接线孔(3)、竖块(5)、矩形块(6)和螺杆(7)；两个所述接线孔(3)开设于所述集成电路测试仪主体(2)的前侧，所述集成电路测试仪主体(2)的前侧滑动连接有两个挡板(4)，所述挡板(4)与对应的所述接线孔(3)相配合，所述竖块(5)固定安装于对应的所述挡板(4)的前侧，所述矩形块(6)固定安装于所述集成电路测试仪主体(2)的前侧，所述螺杆(7)转动安装于所述矩形块(6)的右侧，所述螺杆(7)的外侧螺纹连接有竖杆(8)，所述螺杆(7)的右端固定连接有圆形块(9)，所述竖杆(8)的左侧转动连接有两个连接杆(10)，所述连接杆(10)的左端与对应的所述竖块(5)的右侧转动连接。2.根据权利要求1所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：所述竖块(5)的左侧固定连接有横杆(11)，所述集成电路测试仪主体(2)的前侧固定连接有两个支撑块(12)。3.根据权利要求2所述的一种针对集成电路进行验证的集成电路测试仪，其特征在于：两个所述支撑块(12)相互靠近的一侧均固定连接有圆柱(13)，所述横杆(11)的顶部固定连接有方杆(14)。4.根据权利要求3所述的一种针...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤海浪，刘辉，
申请(专利权)人：深圳联芯微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：