【技术实现步骤摘要】
反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质
[0001]本申请涉及物理检测
,尤其涉及一种反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]在实际应用中,通常通过反贝塔(β)衰变(Inverse Beta Deacy,IBD)反应来探测反电子中微子。在实际的探测过程中,通常使用掺杂有钆的有机闪烁体作为探测器灵敏体、比如在塑料闪烁体周围包裹含钆的物质而形成的塑料闪烁体阵列、或者掺入钆的液体闪烁体,来俘获IBD过程中产生的中子,以探测反电子中微子。然而,上述探测器灵敏体对反电子中微子的探测效率较低。
技术实现思路
[0003]基于以上问题,本申请实施例提供了一种反电子中微子的分布状态确定方法、装置、设备及介质。
[0004]本申请实施例提供的技术方案是这样的:
[0005]本申请实施例首先提供了一种反电子中微子的分布状态确定方法,所述方法包括:
[0006]获取掺杂有硼
‑
10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合;
[0007] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种反电子中微子的分布状态确定方法,其特征在于,所述方法包括:获取掺杂有硼
‑
10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合;对所述粒子信号集合中的粒子信号进行处理,得到处理结果;基于所述处理结果,确定所述探测器灵敏体阵列所处环境中所述反电子中微子的分布状态。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述探测器灵敏体包括掺杂有所述硼
‑
10的塑料闪烁体、分别与所述塑料闪烁体两个端口密封连接的两个光导、以及分别与所述两个光导密封连接的两个光电倍增管;所述塑料闪烁体为六棱柱形;所述获取掺杂有硼
‑
10的探测器灵敏体阵列传输的粒子信号集合,包括:通过与所述光电倍增管之间的电性连接通道,获取所述塑料闪烁体传输的所述粒子信号集合。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述处理结果,确定所述探测器灵敏体阵列所处环境中所述反电子中微子的分布状态,包括:对所述处理结果进行脉冲形状鉴别PSD处理,得到脉冲鉴别结果;基于所述脉冲鉴别结果,确定所述环境中所述反电子中微子的分布状态。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述粒子信号集合中的粒子信号进行处理,得到处理结果,包括:对所述粒子信号集合中的粒子信号进行统计,得到统计结果;基于所述统计结果对所述粒子信号进行采样量化处理,得到所述处理结果。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述粒子信号集合中的粒子信号进行统计,得到统计结果,包括:对所述粒子信号集合中的粒子信号进行分配,至少得到第一信号集合;其中,所述第一信号集合中粒子信号的数量与所述粒子信号集合中粒子信号的数量相同;对所述第一信号集合中与所述探测器灵敏体阵列中的探测器灵敏体关联的粒子信号进行统计,得到所述统计结果。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述第一信号...
【专利技术属性】
技术研发人员:王超,何高魁,宛玉晴,田华阳,邵云东,阙子昂,赵江滨,刘洋,张思颖,
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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