一种存储器测试March类算法的生成方法技术

本发明专利技术公开了一种存储器测试March类算法的生成方法，首先构建的访存操作状态转换描述符，然后确定故障原语对应的最简检测序列并构建最简检测序列表，最后使用最简检测序列合成与故障类型适配的March类算法：列出故障，找到最简检测序列，分组、组内合并、组间合并、拼接获得March类算法、获得相反地址增加方向March类算法，最后将两部分March类算法拼接在一起，得到最后的March类算法，这样得到给定故障字典的合适的March类算法，让March算法的使用更加灵活。加灵活。加灵活。

【技术实现步骤摘要】
一种存储器测试March类算法的生成方法


[0001]本专利技术属于集成电路测试
，更为具体地讲，涉及一种存储器测试March类算法的生成方法。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的发展，集成电路产品向着面积小，速度快和低功耗的方向发展。在集成电路产品中，存储器作为记忆设备来存放数据，是发展最快的技术之一。存储器在芯片上占据的比重越来越大，存储器内晶体管的集成度越来越高，在制造过程中发生缺陷的概率越来越大，因此，存储器测试越来越重要。
[0003]存储器测试中一个好的测试算法，可以降低测试的时间，并能保证故障覆盖率。其中，March类算法在存储器测试中占据着重要位置，因为其具有高的故障覆盖率和低的测试时间。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术不足，提供一种存储器测试March类算法的生成方法，以得到给定故障字典的合适的March类算法，让March算法的使用更加灵活。
[0005]为实现上述专利技术目的，本专利技术存储器测试March类算法的生成方法，其特征在于，包括以下步骤：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试March类算法的生成方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、构建访存操作状态转换描述符访存操作状态转换描述符的表达式为&lt;LAS/CAS/HAS&gt;a o1&lt;LAS/CAS/HAS&gt;其中，LAS表示存储器中低地址单元状态，CAS表示当前地址单元状态，HAS表示高地址单元状态，LAS、CAS、HAS∈{x,0,1}，其中，x表示不关心存储单元是什么状态，0表示存储单元的状态为0，1表示存储单元的状态为1，a表示地址增加方向，o1表示一个访存操作，其中访存操作状态转换描述符表达式中的&lt;LAS/CAS/HAS&gt;称为状态元组，第一个&lt;LAS/CAS/HAS&gt;称为访存操作前状态元组FST，第二个&lt;LAS/CAS/HAS&gt;称为访存操作后状态元组LST，表达式中的FST和LST根据具体情况都可以省略；(2)、确定故障原语对应的最简检测序列并构建最简检测序列表使用访存操作状态转换描述符以及特殊符号来描述最简检测序列，其中，特殊符号“*”代表可以添加零个或是多个访存操作，只要添加的额外访存操作不会改变故障的敏化操作，“^”表示当前访存操作必须是March元素的第一个操作，“#”表示March元素可以从当前位置上分割成两个March元素，但是可以选择不分割当前March元素，“；”表示March元素必须在当前位置上分割成两个March元素，其中，特殊符号“^”，“#”，“；”都是修饰其后面紧挨着的访存操作，特殊符号“*”不修饰任何一个访存操作；最简检测序列是根据故障类型、存储单元的起始状态来确定的故障敏化和检测的访存操作状态转换描述符，若是耦合故障，还要考虑攻击单元与受害单元的相对地址方向；把描述故障敏化的访存操作状态转换描述符与特殊符号的组合称之为敏化路径，把描述故障检测的访存操作状态转换描述符与特殊符号的组合称之为检测路径；2.1)、耦合故障的最简检测序列中敏化路径的确定2.1.1)、确定敏化时攻击单元和受害单元的操作或状态；2.1.2)、确定攻击单元和受害单元的相对地址方向；2.1.3)、确定敏化路径中的访存操作前后状态元组：分为以下三种情况：a.攻击单元的敏化操作是操作，如果攻击单元的敏化操作是写操作，那么使用当前地址单元表示攻击单元，访存操作前状态元组中当前地址单元状态写入写操作前的状态，如果攻击单元的敏化操作是读操作，使用当前地址单元表示攻击单元，且操作前状态元组中的当前地址单元状态是读操作之后的状态；再根据攻击单元和受害单元的相对地址方向来确定高地址是受害单元还是低地址是受害单元，在相对应的位置写入受害单元的状态，剩余的状态，如果没有特殊要求，写入x；将地址增加方向和敏化的访存操作与访存操作前状态元组组合起来，同时根据访存操作，写出访存操作后状态元组，得到敏化路径；b.受害单元的敏化操作是操作，如果受害单元的敏化操作是写操作，那么使用当前地址单元表示受害单元，访存操作前状态元组中当前地址单元状态写入写操作前的状态，如果受害单元的敏化操作是读操作，使用当前地址单元表示受害单元，且操作前状态元组中的当前地址单元状态是读操作之后的状态；再根据攻击单元和受害单元的相对地址方向来确定高地址是攻击单元还是低地址是攻击单元，在相对应的位置写入攻击单元的状态，剩余的状态，如果没有特殊要求，写入x；将地址增加方向和敏化的访存操作与访存操作前状态元组组合起来，同时根据访存操作，写出访存操作后状态元组，得到敏化路径；c.攻击单元和受害单元的敏化操作都是状态，那么敏化路径在描述的时候省略访存操
作状态转换描述符中的地址增加方向和访存操作，只以一个状态元组来表示敏化路径；当前地址单元既可以是攻击单元也可以是受害单元，如果当前地址单元是受害单元，那么在状态元组中的当前地址单元写入受害单元敏化时的状态，再根据受害单元与攻击单元的相对地址关系，在状态元组的对应位置，写入攻击单元敏化时的状态，剩余的位置，写入x，并且如果当前地址单元是受害单元，那么检测路径和敏化路径可以在一个March元素中；如果当前地址单元是攻击单元，那么在状态元组中的当前地址单元写入攻击单元敏化时的状态，再根据受害单元与攻击单元的相对地址关系，在状态元组的对应位置，写入受害单元敏化时的状态，剩余的位置，写入x，并且...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖寅东，路杉杉，戴志坚，刘科，王厚军，
申请(专利权)人：电子科技大学深圳高等研究院，
类型：发明
国别省市：