坐标补偿方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种坐标补偿方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品。方法包括：基于所述切割轴的未补偿坐标，获取所述切割轴上两个坐标点之间的轨迹长度；以所述测量轴为标准坐标轴，获取所述切割轴的所述坐标点之间相对所述测量轴上轨迹的标准长度；根据所述轨迹长度和所述标准长度确定所述切割轴相对所述测量轴的偏移比；获取所述切割轴坐标相对所述测量轴坐标的偏移量；根据所述偏移比和所述偏移量确定所述切割轴的补偿坐标。本发明专利技术提供的技术方案，减少各切割轴的坐标差异，进而能够在一个系统中准确运动，降低轴误差调整时间，提高了生产效率。了生产效率。了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
坐标补偿方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品


[0001]本专利技术实施例涉及坐标测量
，尤其涉及一种坐标补偿方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品。

技术介绍

[0002]现代制造业生产过程中，通常会涉及到零部件切割，切割时各切割轴的坐标能够统一表示，对提高零部件的切割精度十分重要。
[0003]现有技术中，切割设备在一个切割轴上安装镜头作为轴位基准去调整另一个轴的坐标误差，但随着切割轴的数量增加，需要对多个切割轴进行坐标调整，逐一调整坐标轴差异延长了生产周期，降低了生产效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种坐标补偿方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品，减少各切割轴的坐标差异，进而能够在一个系统中准确运动，降低轴误差调整时间，提高了生产效率。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种坐标补偿方法，应用于切割设备，所述切割设备包括测量轴和至少两个切割轴；其中，所述切割轴和所述测量轴在轴向上的轨迹的投影在同一平面；所述方法包括：
[0006]基于所述切割轴的未补偿坐标， 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种坐标补偿方法，应用于切割设备，所述切割设备包括测量轴和至少两个切割轴；其中，所述切割轴和所述测量轴在轴向上的轨迹的投影在同一平面；其特征在于，所述方法包括：基于所述切割轴的未补偿坐标， 获取所述切割轴上两个坐标点之间的轨迹长度；以所述测量轴为标准坐标轴，获取所述切割轴的所述坐标点之间相对所述测量轴上轨迹的标准长度；根据所述轨迹长度和所述标准长度确定所述切割轴相对所述测量轴的偏移比；获取所述切割轴坐标相对所述测量轴坐标的偏移量；根据所述偏移比和所述偏移量确定所述切割轴的补偿坐标。2.根据权利要求1所述的坐标补偿方法，其特征在于：根据所述偏移比和所述偏移量确定所述切割轴的补偿坐标，包括：所述切割轴的补偿坐标为所述偏移量和所述偏移比乘积后与所述测量轴坐标的加和。3.根据权利要求1或2所述的坐标补偿方法，其特征在于：所述切割设备包括切割装置和测量装置；所述切割装置在所述切割轴上沿轴向运动；所述测量装置在所述测量轴上沿轴向运动；基于所述切割轴的未补偿坐标， 获取所述切割轴上两个坐标点之间的轨迹长度，包括：基于所述切割轴的未补偿坐标，所述切割装置在工件两个不同位置进行切割；获取所述工件上两个切割处对应所述切割轴上两个坐标点之间的轨迹长度。4.根据权利要求3所述的坐标补偿方法，其特征在于：根据所述轨迹长度和所述标准长度确定所述切割轴相对所述测量轴的偏移比，包括：所述偏移比为所述轨迹长度与所述标准长度的比值。5.根据权利要求3所述的坐标补偿方法，其特征在于：获取所述切割轴坐标相对所述测量轴坐标的偏移量，包括：以所述测量轴为标准坐标轴，设置目标坐标；所述切割装置根据所述目标坐标，在所述工件上进行划切；所述测量装置测量所述工件划切位置相对所述测量轴的测量坐标；根据所述测量坐标和所述目标坐标...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕孝袁，李铖，胡小波，顾宇彬，陶逸伟，
申请(专利权)人：江苏京创先进电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：