【技术实现步骤摘要】
一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法
[0001]本专利技术属于炸药性能和细观结构表征领域，涉及一种基于力学
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光学显微镜组合试验系统实时对单个散粒体的压缩性能及其细观形变结构进行实时监测的表征方法，尤其涉及一种针对炸药散粒体在力学载荷作用下，获得应力
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应变关系和实时细观结构变化的基本步骤与评价判据。
技术介绍
[0002]典型高能炸药散粒体由高分子粘结剂将含能材料粘结经工艺成型，其微观结构由含能材料晶体、高分子粘结剂、含能材料与粘结剂的微界面组成，当在压制过程中，散粒体既有位移又有颗粒的弹性变形还有部分颗粒的脆性变形，其内部的含能材料晶体之间、含能材料晶体与高分子粘结剂之间以及孔隙等界面对散粒体的微结构均会产生不同的影响。炸药压制过程中散粒体及其组分的状态变化，对于压制参数的设定、成型件的密度及质量控制具有重要意义，其中散粒体颗粒的变形和破碎是力学性能变化最集中的阶段，因此分析散粒体在力载荷作用下形变结构特性变化对于散粒体成型和炸药质量控制具有关键性作用和重要意义。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，试样准备：将散粒体粉碎处理成能通过筛孔为5.0mm筛子的颗粒，并剔除掉通过筛孔0.2mm筛子的细小颗粒；对于不需要粉碎处理就可以通过筛孔5.0mm筛子的散粒体，采用原样进行试验；步骤二，试样安装：在力学载台专用的压缩试验夹具的散粒体粘贴面粘贴双面胶，将单个散粒体放置在双面胶上，起到固定作用，再将压缩试验夹具通过螺母固定到力学载台上，最后将力学载台放置在光学显微镜的载物台上；步骤三，力学
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光学显微镜组合系统参数调节：根据光学显微镜物镜倍数，调节光学显微镜物镜的工作距离和放大倍数，同时调节光源方向、对比度、采集图像所需的采集间隔、采集时间；设置力学试验系统的测试速率、采样间隔时间、压缩模式参数；步骤四，力学
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光学实时监测试验：同时点击力学载台驱动按钮和光学显微镜实时录像按钮，力学试验软件记录散粒体在压缩载荷力作用下的应力、时间、应变参数；光学显微镜实时监测不同形变状态下散粒体的细观结构形貌，待在光学显微镜下观察到试样形变完全，停止驱动按钮和光学显微镜的录像按钮；步骤五，散粒体的压缩性能和光学图像分析：通过压缩力学试验数据，获得散粒体在压缩力作用下的力
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位移曲线和应力
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应变曲线，同时由光学显微镜实时记录图像；通过压缩力学试验数据得到压缩应力、应变公式如下：σ＝F/(π
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r2)ε＝Δl/l上式中，σ为应力，F为散粒体压缩过程中的力，r为散粒体...
【专利技术属性】
技术研发人员：王芳芳，王琼，周文静，贾林，张林军，刘文亮，于思龙，
申请(专利权)人：西安近代化学研究所，
类型：发明
国别省市：
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