本申请涉及核磁共振成像技术领域，提供一种确定射频脉冲校正参数的方法、装置、设备和存储介质，可以降低确定射频脉冲校正参数所需的时间。本申请中，施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到目标层的两组相位数据；其中，与射频脉冲共同施加的选层梯度，在两轮射频脉冲的施加中的极性相反；对两组相位数据中，与目标层内同一位置对应的相位数据做差，得到一组相位数据差；对一组相位数据差进行拟合，得到射频脉冲的校正参数。脉冲的校正参数。脉冲的校正参数。
【技术实现步骤摘要】
确定射频脉冲校正参数的方法、装置、设备和存储介质
[0001]本申请涉及核磁共振成像
，特别是涉及一种确定射频脉冲校正参数的方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
[0002]在磁共振高场进行局部激发成像的过程中，如果选定EPI激发路径，磁共振的射频脉冲与层方向极性交错的梯度同时发射，而实际发射的层方向梯度存在涡流效应，与实际发射的梯度预期不一致，在图像上会沿相位编码方向产生上下近似对称的两片激发区域，称为N/2ghost。该两处激发区域与局部激发的区域不一致，严重降低了对局部激发图像进行降采样的可能性。因此，有必要进行涡流校正。
[0003]对于软件上的涡流校正，针对一轮射频脉冲里的多个射频子脉冲，每发射一个射频子脉冲，读取一次信号，基于多次读取到的信号，得到射频脉冲的校正参数，所需时间较长。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种确定射频脉冲校正参数的方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
[0005]本申请提供一种确定射频脉冲校正参数的方法，所述方法包括：
[0006]施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到所述目标层的两组相位数据；与所述射频脉冲共同施加的选层梯度，在所述两轮射频脉冲的施加中的极性相反；
[0007]对所述两组相位数据中，与所述目标层内同一位置对应的相位数据做差，得到一组相位数据差；
[0008]对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲的校正参数。
[0009]在一个实施例中，所述施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到所述目标层的两组相位数据，包括：
[0010]每施加完针对所述目标层的一轮射频脉冲后，读取对所述目标层内各位置对应的信号，在施加两轮所述射频脉冲后，得到所述目标层的两组相位数据。
[0011]在一个实施例中，所述对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲的校正参数，包括：
[0012]对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延以及所述射频脉冲所需补偿的相位；
[0013]将所述时延和所述相位，作为所述射频脉冲的校正参数。
[0014]在一个实施例中，所述对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延以及所述射频脉冲所需补偿的相位，包括：
[0015]对所述一组相位数据差进行拟合，得到斜率和截距；
[0016]根据所述斜率，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延；
[0017]根据所述截距，得到所述射频脉冲所需补偿的相位。
[0018]在一个实施例中，所述根据所述斜率，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延，包括：
[0019]获取磁旋比和所述选层梯度的梯度大小之间的乘积；
[0020]根据所述斜率和所述乘积的比值，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延。
[0021]在一个实施例中，在得到所述射频脉冲的校正参数之后，所述方法还包括：
[0022]获取多个所述目标层对应的校正参数；
[0023]根据多个所述目标层对应的校正参数，得到校正参数随层变化关系；
[0024]根据所述校正参数随层变化关系，预测其他目标层对应的校正参数。
[0025]在一个实施例中，各所述目标层对应的校正参数包括针对各所述目标层的射频脉冲所需补偿的时延和相位，所述根据多个所述目标层对应的校正参数，得到校正参数随层变化关系，包括：
[0026]对多个所述目标层对应的时延进行线性拟合，得到时延随层变化关系；
[0027]对多个所述目标层对应的相位进行线性拟合，得到相位随层变化关系；
[0028]根据所述时延随层变化关系和所述相位随层变化关系，得到所述校正参数随层变化关系。
[0029]本申请提供一种确定射频脉冲校正参数的装置，所述装置包括：
[0030]相位数据获取模块，用于施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到所述目标层的两组相位数据；与所述射频脉冲共同施加的选层梯度，在所述两轮射频脉冲的施加中的极性相反；
[0031]作差模块，用于对所述两组相位数据中，与所述目标层内同一位置对应的相位数据做差，得到一组相位数据差；
[0032]校正参数获取模块，用于对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲的校正参数。
[0033]本申请提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行上述方法。
[0034]本申请提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行上述方法。
[0035]本申请提供一种计算机程序产品，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行上述方法。
[0036]上述确定射频脉冲校正参数的方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品中，施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到目标层的两组相位数据；由于利用这两轮射频脉冲，得到这两组相位数据时，与第一轮射频脉冲共同施加的选层梯度，以及与第二轮射频脉冲共同施加的选层梯度，在极性上相反，因此，可以对这两组相位数据中与目标层内同一位置对应的相位数据做差，得到一组相位数据差，对该一组相位数据差拟合，就可以得到射频脉冲的校正参数，可以直接施加完一轮射频脉冲后，读取一次信号，无需每发射一个射频子脉冲，读取一次信号，所需时间降低。
附图说明
[0037]图1为一个实施例中确定射频脉冲校正参数的方法的流程示意图；
[0038]图2(a)为一个实施例中单个目标层的示意图；
[0039]图2(b)为一个实施例中目标层内各位置的示意图；
[0040]图3为一个实施例中序列时序图；
[0041]图4为一个实施例中射频子脉冲的幅值和相位示意图；
[0042]图5为一个实施例中定位梯度场示意图；
[0043]图6为一个实施例中多个目标层的示意图；
[0044]图7为另一个实施例中确定射频脉冲校正参数的方法的流程示意图；
[0045]图8(a)为一个实施例中涡流校正前的效果图；
[0046]图8(b)为一个实施例中涡流校正后的效果图；
[0047]图9为一个实施例中确定射频脉冲校正参数的装置的结构框图；
[0048]图10为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0049]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0050]在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种确定射频脉冲校正参数的方法，其特征在于，所述方法包括：施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到所述目标层的两组相位数据；与所述射频脉冲共同施加的选层梯度，在所述两轮射频脉冲的施加中的极性相反；对所述两组相位数据中，与所述目标层内同一位置对应的相位数据做差，得到一组相位数据差；对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲的校正参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述施加针对目标层的两轮射频脉冲，得到所述目标层的两组相位数据，包括：每施加完针对所述目标层的一轮射频脉冲后，读取对所述目标层内各位置对应的信号，在施加两轮所述射频脉冲后，得到所述目标层的两组相位数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲的校正参数，包括：对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延以及所述射频脉冲所需补偿的相位；将所述时延和所述相位，作为所述射频脉冲的校正参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述一组相位数据差进行拟合，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延以及所述射频脉冲所需补偿的相位，包括：对所述一组相位数据差进行拟合，得到斜率和截距；根据所述斜率，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延；根据所述截距，得到所述射频脉冲所需补偿的相位。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述斜率，得到所述射频脉冲相较于所述选层梯度所需补偿的时延，包括：获取磁旋比和所述选层梯度的梯度大小之间的乘积；根据所述斜率和所述乘积的比值，得到所述射频脉...
【专利技术属性】
技术研发人员：全希佳，
申请(专利权)人：深圳市联影高端医疗装备创新研究院，
类型：发明
国别省市：
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