集成电路的测试项获取方法、装置和相关设备制造方法及图纸

一种集成电路的测试项获取方法，本方法根据待处理数据集中基于初始测试项集对第一集成电路的测试结果，按照筛选策略，从初始测试项集的多个测试项中筛选出测试项集，由于筛选策略用于指示获得测试效率达到第一阈值的方式，则筛选出的测试项集在测试第一集成电路时的测试效率可以达到第一阈值，以便后续采用该测试项集对待测试集成电路进行测试时，测试效率也能够达到第一阈值，也即是能达到期望值，由于测试效率为测试时长和缺陷率中的至少一种，从而该测试项集在测试待测试集成电路时能够耗时短且准确性高。够耗时短且准确性高。够耗时短且准确性高。

【技术实现步骤摘要】
集成电路的测试项获取方法、装置和相关设备


[0001]本申请涉及集成电路领域，特别涉及一种集成电路的测试项获取方法、装置、计算机设备以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，这个微信结构也即是一个集成电路。
[0003]厂商在出售集成电路之前，需要进行集成电路测试，以测试出不符合要求的集成电路。其中，集成电路测试是指测试出在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品的过程。集成电路测试通常包括上千个测试项，将每个测试项都执行一遍会耗费大量时间。以一块晶圆(wafer)形成的集成电路为例，这块晶圆上大约有10000个晶元(die)，在集成电路测试的过程中，一个晶元上每多消耗1秒钟，整个晶圆的测试时间就会多3个小时。因此，如何去除冗余的测试项，选择合适的测试项集，使得集成电路测试能够在较短的时间内达到较高的缺陷率，尽量测试出缺陷晶元，成为了集成电路测试中至关重要的问题。
[0004]目前，计算机设备一般先获取大量测试项对同一集成电路进行测试的测试结果。然后再从大量测试项的测试结果中选择出部分测试项，组成最终所采用的测试项集。最后，计算机设备采用上述测试项集中的各个测试项，对待测试的集成电路进行测试。但是，由于上述测试项集是在全部测试项中一部分，无法获知集成电路的完整测试项的测试结果，这就容易影响集成电路的测试结果的准确性，而采用全部测试项所耗费的测试时长又较长，当待测试的集成电路较多时，无法满足产能的需求。因此，如何提供一种集成电路的测试项获取方法，使得获取的测试项在测试集成电路时能够耗时短且准确性高，成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种集成电路的测试项获取方、装置、计算机设备以及计算机可读存储介质，其获取到的测试项在测试集成电路时能够耗时短且准确性高。该技术方案如下：
[0006]第一方面，提供了一种集成电路的测试项获取方法，本方法先接收待处理数据集，再基于待处理数据集，确定测试项集，然后再输出测试项集。其中，待处理数据集包括基于初始测试项集对第一集成电路的测试结果，测试项集用于测试待测试的第二集成电路，测试项集包括多个测试项，多个测试项中第一测试项为按照筛选策略从初始测试项集的多个测试项中筛选获得，筛选策略用于指示获得测试效率达到第一阈值的方式，测试效率包括测试时长和缺陷率中至少一种。
[0007]本方法根据待处理数据集中基于初始测试项集对第一集成电路的测试结果，按照筛选策略，从初始测试项集的多个测试项中筛选出测试项集，由于筛选策略用于指示获得
测试效率达到第一阈值的方式，则筛选出的测试项集在测试第一集成电路时的测试效率可以达到第一阈值，以便后续采用该测试项集对待测试集成电路进行测试时，测试效率也能够达到第一阈值，也即是能达到期望值，由于测试效率为测试时长和缺陷率中的至少一种，从而该测试项集在测试待测试集成电路时能够耗时短且准确性高。
[0008]在一种可能的实现方式中，第一集成电路包括多个第一集成单元以及多个第二集成单元，在基于待处理数据集，确定测试项集过程中，先对待处理数据集进行预处理，得到训练集以及验证集，再基于训练集，按照筛选策略，对初始测试项集中的测试项进行筛选，得到测试项集。相应地，在输出测试项集的过程中，若验证集对测试项集验证通过，输出测试项集。其中，训练集包括基于初始测试项集对多个第一集成单元的测试结果，验证集包括基于初始测试项集对多个第二集成单元的测试结果。
[0009]基于上述可能的实现方式，由于是基于训练集，按照筛选策略，对初始测试项集中的测试项进行筛选，得到测试项集，则测试项集在测试第一集成电路时的测试效率可以达到第一阈值，以便后续采用该测试项集对待测试集成电路进行测试时，测试效率也能够达到第一阈值，也即是能达到期望值，由于测试效率为测试时长和缺陷率中的至少一种，从而该测试项集在测试待测试集成电路时能够耗时短且准确性高。
[0010]在一种可能的实现方式中，在基于训练集，按照筛选策略，对初始测试项集中的测试项进行筛选，得到测试项集的过程中，先基于训练集，对初始测试项集进行M次迭代剪枝，得到M个候选测试项集，再基于M个候选测试项集对第一集成电路的测试效率，从M个候选测试项集中确定测试项集，其中，每个候选测试项集包括初始测试项集中的多个测试项，M为大于1的整数，测试项集对第一集成电路的测试效率达到第一阈值。
[0011]基于上述可能的实现方式，筛选策略为利用了剪枝算法，使得筛选出的测试项集不容易陷入局部最优解。
[0012]在一种可能的实现方式中，基于训练集，对初始测试项集进行M次迭代剪枝包括：先在第i次迭代剪枝过程中，对第i
‑
1个候选测试项集进行剪枝，得到中间测试项集；再基于初始测试项集中多个第一剩余测试项组所对应的缺陷率，在中间测试项集中添加部分第一剩余测试项组，得到第i个候选测试项集，其中，第i
‑
1个候选测试项集为第i
‑
1次迭代剪枝所得到的候选测试项集，i为大于1且小于或等于N的整数，多个第一剩余测试项组为初始测试项集中除第i
‑
1个候选测试项集以外的测试项组，每个第一剩余测试项组所对应的缺陷率基于该训练集得到。
[0013]在一种可能的实现方式中，在基于初始测试项集中多个第一剩余测试项组所对应的缺陷率，在中间测试项集中添加部分第一剩余测试项组，得到第i个候选测试项集的过程中，先基于多个第一剩余测试项组对应的缺陷率，再通过N次迭代添加过程，在中间测试项集中添加N个第一剩余测试项组，得到第i个候选测试项集，N为大于或等于1的整数。
[0014]基于上述可能的实现方式，在对候选测试项集剪枝的过程中，考虑到初始测试项集中剩余测试项的缺陷率，以便剪枝得到中间测试项集能够达到缺陷率的要求。
[0015]在一种可能的实现方式中，基于多个第一剩余测试项组对应的缺陷率，通过N次迭代添加过程，在中间测试项集中添加N个第一剩余测试项组，得到第i个候选测试项集包括：在第j次迭代添加过程中，先基于多个第一剩余测试项组中至少一个第二剩余测试项组所对应的缺陷率，获取每个第二剩余测试项组的评分，然后，在第j
‑
1候选中间测试项集中，添
加至少一个第二剩余测试项组中评分最高的第二剩余测试项组，得到第j候选中间测试项集；若第j候选中间测试项集的漏检率小于漏检率阈值，则再将第j候选中间测试项集确定为中间测试项集，若漏检率大于或等于漏检率阈值，则进行第j+1次迭代添加过程，其中，多个第二剩余测试项组为没有添加至第j
‑
1候选中间测试项集的第一剩余测试项组，j为大于或等于1的整数，当j等于1时，第j
‑
1候选中间测试项本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路的测试项获取方法，其特征在于，所述方法包括：接收待处理数据集，所述待处理数据集包括基于初始测试项集对第一集成电路的测试结果；基于所述待处理数据集，确定测试项集，所述测试项集用于测试待测试的第二集成电路，所述测试项集包括多个测试项，所述多个测试项中第一测试项为按照筛选策略从所述初始测试项集的多个测试项中筛选获得，所述筛选策略用于指示获得测试效率达到第一阈值的方式，所述测试效率包括测试时长和缺陷率中至少一种；输出所述测试项集。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一集成电路包括多个第一集成单元以及多个第二集成单元，所述基于所述待处理数据集，确定测试项集包括：对所述待处理数据集进行预处理，得到训练集以及验证集，所述训练集包括基于所述初始测试项集对所述多个第一集成单元的测试结果，所述验证集包括基于所述初始测试项集对所述多个第二集成单元的测试结果；基于所述训练集，按照所述筛选策略，对所述初始测试项集中的测试项进行筛选，得到所述测试项集；所述输出所述测试项集包括：若所述验证集对所述测试项集验证通过，输出所述测试项集。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述训练集，按照所述筛选策略，对所述初始测试项集中的测试项进行筛选，得到所述测试项集包括：基于所述训练集，对所述初始测试项集进行M次迭代剪枝，得到M个候选测试项集，每个所述候选测试项集包括所述初始测试项集中的多个测试项，所述M为大于1的整数；基于所述M个候选测试项集对所述第一集成电路的测试效率，从所述M个候选测试项集中确定所述测试项集，其中，所述测试项集对所述第一集成电路的测试效率达到所述第一阈值。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述基于所述训练集，按照所述筛选策略，对所述初始测试项集中的测试项进行筛选，得到所述测试项集包括：若所述训练集和所述验证集的测试结果分布一致，基于所述训练集，按照所述筛选策略，对所述初始测试项集中的测试项进行筛选，得到所述测试项集。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述待处理数据集进行预处理之后，所述方法还包括：若所述训练集以及所述验证集中没有通过测试的集成单元的个数均符合第一条件，确定所述训练集和所述验证集的测试结果分布一致。6.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述待处理数据集与历史数据集的数据分布一致，将历史测试项集作为所述测试项集输出，所述历史测试项集为基于所述历史数据集获取的测试项集。7.根据权利要求1
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6中任一项所述方法，其特征在于，所述方法由第一软件执行。8.一种集成电路的测试项获取装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：孔阳哲，叶路遥，汤乔越，刘陈魏，李俊明，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：