电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:37155385 阅读:25 留言:0更新日期:2023-04-06 22:16
本发明专利技术公开了一种电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质,在所述电池模块向所述MCU控制器供电时,基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号;通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电,并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值;根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值;根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。本发明专利技术的MCU控制器中的推挽输出端集成有推挽输出单元,避免了漏电流现象的出现,同时也降低通过MCU控制器进行电压检测的成本和功耗。制器进行电压检测的成本和功耗。制器进行电压检测的成本和功耗。

【技术实现步骤摘要】
电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及集成电路
,尤其涉及一种电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的不断发展,人们对电压检测的功耗要求越来越高,换句话说,低功耗的电压检测已成为当前IC(Integrated Circuit Chip,微型电子器件)芯片的研究热点。
[0003]目前,常规的电压检测方案需要一片升压IC,以及其外围电路的电感电阻电容等器件,在设备处于待机模式时,需要让升压IC一直工作,来维持MCU的唤醒功能,其电路通常用在无线鼠标等设备上,所以为了延长电池寿命,其产品上通常会设计一个拨动开关来关机,这样升压IC给出的稳定3.3V电源即可给MCU的VREF+提供基准源(一些MCU的VREF+直接内部连接到了VSS),然后电池电压可以直接输入ADC通道来检测电压。但是,这种常规的电压检测方案存在着极大的缺陷,一方面,需要额外增加升压IC和周边器件,从而导致休眠消耗电流较大,也占用了一部分体积;另一方面,ADC通道直连电池,即A本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电压检测方法,其特征在于,所述电压检测方法应用于电压检测电路,所述电压检测电路包括:电池模块、控制模块、基准模块,所述控制模块包括MCU控制器,所述电池模块与所述MCU控制器的工作电压端连接,所述MCU控制器的推挽输出端与所述基准模块连接;所述电压检测方法包括:在所述电池模块向所述MCU控制器供电时,基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号;通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电,并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值;根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值;根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。2.如权利要求1所述电压检测方法,其特征在于,所述推挽输出端封装有推挽输出单元,所述推挽输出单元包括:第一效应管和第二效应管;所述第一效应管置于所述第二效应管上,所述第一效应管的第二端与所述第二效应管的第一端连接在所述推挽输出端;所述第一效应管的第一端与所述工作电压端连接,所述第二效应管的第二端与所述MCU控制器的接地端连接;所述第一效应管的第三端和所述第二效应管的第三端分别与所述MCU控制器内部的输出控制单元连接。3.如权利要求2所述电压检测方法,其特征在于,所述第一效应管和所述第二效应管均为MOSFET管。4.如权利要求2所述电压检测方法,其特征在于,所述基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号的步骤,包括:基于所述MCU控制器根据所述输出控制单元的高电平信号确定所述第一效应管的导通信息和所述第二效应管的截止信息,以将所述导通信息和所述截止信息作为电压检测信号。5.如权利要求1所述电压检测方法,其特征在于,所述根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值的步骤,包括:确定所述第一数模转换通道对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员:古欣金昊李超乔敏
申请(专利权)人:山东有人物联网股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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